HP4156 参数分析仪(测IV)

HP4156参数分析仪是一台用于测量半导体组件特性曲线的精密工具，可用于量测二极管二端的点 I-V curve , MOSFET的 Id-Vds-Vg 特性曲线以及逻辑闸的转换特性等等，以成为产业界通用的设备。宜特拥有的HP4156参数分析仪具有以下几项优点：

•  数字化参数扫描(Current/Voltage Sweep)

• 可靠的检测器具备强而有力的失效分析工具

机台内建4组SMU (2 VMUs, 2 VSUs) : Voltage sources, Current sources, Voltage monitors and Current monitors。

关于宜特：

iST始创于1994年的中国台湾，主要以提供集成电路行业可靠性验证、失效分析、材料分析、无线认证等技术服务。2002年进驻上海，全球现已有7座实验室12个服务据点，目前已然成为深具影响力之芯片验证第三方实验室。

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