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信息介绍 / Information introduction

X射线衍射仪开门时应先按相应按钮,等提示音发出后再开门,否则X射线将自动关闭。开门关门动作应轻缓,以免震动过大导致X射线自动关闭。X衍射制备样品的样品架为玻璃制品,易碎,应轻拿轻放以免摔坏,使用后及时清洗。测角仪角度限制:广角≤110°,小角三0,盐城衍射仪供应商.5°,否则将造成探测器和测角仪的损坏。在使用过程中如果仪器发生报警应及时通知值班人员,不得擅自处理。x射线仪在使用过程中如果真空突然关闭,则不得再继续使用,应及时通知值班人员,查明原因。应保证仪器工作环境的整洁干净,空气不浑浊,环境温湿度适中。操作者应严格执行设备操作规程,按照既定步骤进行操作和使用仪器,严禁违规操作。检测结束后,应立即做好仪器的清洁工作,保证仪器的整洁,确保仪器样品室及进样仓无明显积灰和粉尘。定期更换循环冷却水,盐城衍射仪供应商,盐城衍射仪供应商,每半年必须更换一次,并检测过程中确保冷却水流量和温度适中。奥林巴斯XRD分析仪只需要15毫克的样品,就可以同时采集到所有实用的2-theta测量数据。盐城衍射仪供应商

X射线衍射照相法的原理是什么? 照相法以光源发出的特征X射线照射多晶样品,并用底片记录衍射花样。根据样品与底片的相对位置,照相法可以分为德拜法、聚焦法其中德拜法应用为普遍。 当一束单色X射线入射到晶体时,由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成,这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有 X射线衍射分析相同数量级,故由不同原子散射的X射线相互干涉,在某些特殊方向上产生强X射线衍射,衍射线在空间分布的方位和强度,与晶体结构密切相关。这就是X射线衍射的基本原理。盐城衍射仪供应商x射线粉末衍射可以判断物质的晶型。

X射线衍射仪技术(XRD)注意事项: (1)固体样品表面>10×10mm,厚度在5μm以上,表面必须平整,可以用几块粘贴一起。 (2)对于片状、圆拄状样品会存在严重的择优取向,衍射强度异常,需提供测试方向。 (3)对于测量金属样品的微观应力(晶格畸变),测量残余奥氏体,要求制备成金相样品,并进行普通抛光或电解抛光,消除表面应变层。 (4)粉末样品要求磨成320目的粒度,直径约40微米,重量大于5g。X射线是原子内层电子在高速运动电子的轰击下跃迁而产生的光辐射,主要有连续X射线和特征X射线两种。晶体可被用作X光的光栅,这些很大数目的粒子(原子、离子或分子)所产生的相干散射将会发生光的干涉作用,从而使得散射的X射线的强度增强或减弱。

X射线单晶体衍仪器基本公式: 由于晶体中原子是周期排列的,其周期性可用点阵表示。而一个三维点阵可简单地用一个由八个相邻点构成的平行六面体(称晶胞)在三维方向重复得到。一个晶胞形状由它的三个边(a,b,c)及它们间的夹角(γ,α,β)所规定,这六个参数称点阵参数或晶胞参数。这样一个三维点阵也可以看成是许多相同的平面点阵平行等距排列而成的,这样一族平面点阵称为一个平面点阵族,常用符号HKL(HKL为整数)来表示。一个三维空间点阵划分为平面点阵族的方式是很多的,其平面点阵的构造和面间距d可以是不同的。晶体结构的周期性就可以由这一组dHKL来表示。x射线的波长和晶体内部原子面之间的间距相近。

衍射仪的进展主要在三个方面:1 X 射线发生器,2、 探测器,3、 衍射几何与光路。X射线发生器是进行X射线衍射实验所不可缺少的、重要的设备之一,其优劣会严重影响X射线衍射数据的质量。探测器是用来记录衍射谱的,因而是多晶体衍射设备中不可或缺的重要部件之一。早先被使用的是照相底片,由于它吸收率低,大量X射线会透过而不被吸收;它的计数线性范围不大,强衍射不易测准;而且,还会起“雾”;又由于要有暗室用化学法进行显影、定影、冲洗、晒干等一套繁琐的过程,因此被性能更好的光子计数器所取代。计数器探测器不需化学处理,可以通过电子电路直接记录衍射的光子数,方便了许多。起初的计数器是盖格计数器,但由于它的时间分辨率不高,计数的线性范围不大,故不是一个良好的探测器。以后,正比计数器及闪烁计数器取代了盖格计数器,成为较多使用的探测器。随着人类对自然的认识越来越广,越来越深,对实验的要求也越来越高,越多样化,简单的正比或闪烁计数器亦不 能满足不同的实验要求,于是又陆续发展出许多不同的探测器。X射线发生器主要由高压控制系统和X光管组成,它是产生X射线的装置(产生X射线的装置),。盐城衍射仪供应商

使用衍射仪的探测器以一定的角度绕样品旋转,接收到粉晶中不同网面、不同取向的全部衍射线。盐城衍射仪供应商

当x射线以掠角θ(入射角的余角)入射到某一点阵晶格间距为d的晶面上时,在符合上式的条件下,将在反射方向上得到因叠加而加强的衍射线。布拉格方程简洁直观地表达了衍射所必须满足的条件。当 x射线波长λ已知时(选用固定波长的特征x射线),采用细粉末或细粒多晶体的线状样品,可从一堆任意取向的晶体中,从每一θ角符合布拉格方程条件的反射面得到反射,测出θ后,利用布拉格方程即可确定点阵晶面间距、晶胞大小和类型;根据衍射线的强度,还可进一步确定晶胞内原子的排布。这便是x射线结构分析中的粉末法或德拜-谢乐(debye—scherrer)法的理论基础。而在测定单晶取向的劳厄法中所用单晶样品保持固定不变动(即θ不变),以辐射束的波长作为变量来保证晶体中一切晶面都满足布拉格方程的条件,故选用连续x射线束。如果利用结构已知的晶体,则在测定出衍射线的方向θ后,便可计算x射线的波长,从而判定产生特征x射线的元素。这便是x射线谱术,可用于分析金属和合金的成分。盐城衍射仪供应商

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