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苏州反射率测试系统价钱 苏州千宇光学科技供应

信息介绍 / Information introduction

在镀膜工艺研究过程中,透反射率高精度、高稳定度、自动化测量具有重要意义,是产品品质控制的重要手段。我们在考虑产品的适用范围方面增加了对镜头透过率测量的考虑,使该设备具有更深的使用范围。

从结构上看,透反射率测量系统由光源、测量主体及探测器等三部分组成。其中测量主体是用来实现测量原理的光路装置,它由待测样品和其它辅助光学镜片构成。本设备使用单次反射法对样品进行测量。

·光学设计方案

透过率测试有很多种光路设计方案,都是针对不同的应用产品设计的,有的是为了便携,苏州反射率测试系统价钱,有的采用特定单色光,有的采用全波段光,有的还具有光谱测量功能,总之根据产品不同,大家采用的光学光路方案不尽相同,测量精度也有很大的差别,苏州反射率测试系统价钱,苏州反射率测试系统价钱。 测量反射率的时候,必须考虑样品的反射是镜面反射还是漫反射,或者是反射率随入射光的角度改变的样品。苏州反射率测试系统价钱

在此类设备中,光源的功率一般都比较小,在硅光电池上产生的光生电流一般才uA级甚至更低,导致我们需要使用较大的反馈电阻Rf,一般需要M级甚至更大的,也就是这一级放大倍数就是数百万倍,甚至是千万倍,器件必选选择高精度和高稳定性的。这样的设计这也带来了负面效果,这就是很容易受到环境干扰的影响,微小信号的干扰进过放大器后都会***影响测量值,我们在实际调试过程中,总是发现有50HZ的干扰信号,采集的数据稳定性不够,为此我们做了两个方面的工作,一是在PCB板设计时考虑抗干扰问题,主要采用良好接地,严格数字电路和模拟电路的分离,设计合适的敷铜。二是设计了一个50HZ后级限波电路,过滤掉这个干扰,双管齐下后数据的稳定性将得到很大的提高。苏州反射率测试系统价钱这种简称“标准”的物质其选择颇为重要,因为它对测定反射率的精确性起着决定作用。

现阶段市面上的反射率检测仪是一套全波长显微球面光学元件光谱分析仪,能快速准确地测量各类球面/非球面器件的相对/相对反射率。这些通常可以适用于凸透镜、凹透镜、镜片等的镀膜反射率测量。还可进行有干涉条纹的单层膜厚或折射率测量。

物镜对焦于被测物微小区域(φ60μm)颜色测定 X Y色度图,x, y, L, a, b, 饱和度,主波长等 高性能探测器,使得他们能够在几秒内实现重现性高的测定无需进行背面防反射处理即可快速准确地测定表面反射率。

测量方法是通过将输入光源光束经过分光镜被一分为二,分光镜的透射光直接被光路的光电池接收,这一路是作为测量光强,反射光经样品反射后被光路的光电池接收,这一路作为参考的光强,两个光电池输出的光电流分别被互阻放大电路线性转化为电压,通过板载ADC进行模数转换,由嵌入式MCU进行计算再输入给PC机显示出来。测量透射率时,只需把光路1的光电池传感器旋转到样品透射光线方向直接接收即可。只需把光路1的光电池传感器旋转到样品透射光线方向直接接收即可。通过特制的滤光片,将钨卤素灯的光谱滤除紫外、红外成分,并将光谱修正为D65光源的相对辐射光谱。

如果测量过程是在理想环境条件下进行,则测量的结果将十分正确。但这种理想的测量环境和条件在实际中是不存在的,无论是传感器、仪表、测量对象、测量方法等,都不同程度地受到各种因素的影响,当这些因素发生变化时,必然会影响到被测量示值,使示值和被测量值之间产生差异,这个差异就是测量误差。

被测物理量所具有的客观存在的量值,称为真值x0。由测量仪表(或系统)测得的结果称为测量值x。测量值x与真值x0之间的差异称为测量误差△x。

因为真值x0无法准确得到,实际上用的都是约定真值。测量误差的存在不可避免,任何测定值只能近似地反映被测量的真值。

误差的大小与测量仪表的精度、测量过程中的随机因素、测量方法等许多因素有关,随着科技水平的不断提高,误差有可能被控制得越来越小。人们的目标是尽可能减少误差△x,使测量值x接近于真值x0,或者应用误差理论分析产生误差的原因和性质,并采取必要的措施,使测量误差控制在可以接受的合理范围内。 作为“标准”的物质,须具备的条件是:均质性,无内反射,硬度高不易划伤并能磨光成平整的镜面。苏州反射率测试系统价钱

视测光度法主要有裂隙显微光度仪法和视觉显微光度仪法等。苏州反射率测试系统价钱

反射测量

     反射测量可以用于测量元件的反射率,测量物体的反**色和化学样品中的成分信息。

光谱仪:

     可以使用高性价比的USB4000光谱仪,覆盖紫外到可见200-850nm的范围,或者可见到近红外350-1000nm的范围;或覆盖200-1100nm的HR4000光谱仪。如果您考虑的是红外波段,可以使用NIRQuest近红外光谱仪,或者红外光谱仪。

采样附件:

     测量反射率的时候,必须考虑样品的反射是镜面反射还是漫反射,或者是反射率随入射光的角度改变的样品。

镜面反射和漫反射

     对于绝大多数的测量,都可以使用反射探头的方式来实现。使用QR400-7-UV-NIR反射探头,一端接光谱仪,一端接光源,探头的公共端可以通过RPH-1这个探头支架固定,方便的在样品表面测量,反射探头可以在单一方向进行照射和接受,如果是镜面反射,就使用支架的90度位置,如果是漫反射,就可以使用支架的45度位置。 苏州反射率测试系统价钱

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