单晶取向的测定就是找出晶体样品中晶体学取向与样品外坐标系的位向关系。虽然可以用光学方法等物理方法确定单晶取向，但X衍射法不仅可以精确地单晶定向，同时还能得到晶体内部微观结构的信息。一般用劳埃法单晶定向，其根据是底片上劳埃斑点转换的极射赤面投影与样品外坐标轴的极射赤面投影之间的位置关系。透射劳埃法只适用于厚度小且吸收系数小的样品;背射劳埃法就无需特别制备样品，样品厚度大小等也不受限制，因而多用此方法 。 多晶材料中晶粒取向沿一定方位偏聚的现象称为织构，常见的织构有丝织构和板织构两种类型。为反映织构的概貌和确定织构指数，有三种方法描述织构：极图、反极图和三维取向函数，这三种方法适用于不同的情况。对于丝织构，要知道其极图形式，只要求出求其丝轴指数即可，照相法和衍射仪法是可用的方法。板织构的极点分布比较复杂，需要两个指数来表示，杭州衍射仪哪家可以代理，且多用衍射仪进行测定 。衍射仪的进展主要在三个方面：1 X 射线发生器，杭州衍射仪哪家可以代理，2，杭州衍射仪哪家可以代理、 探测器，3、 衍射几何与光路。杭州衍射仪哪家可以代理

奥林巴斯XRD分析仪的优势特性；方便的样本制备：传统的台式XRD仪器一般会要求检测人员进行大量的样品收集和制备工作，因为必须要将大批量的样品研磨成粉末，并精心地碾压成小球状。如果样品研磨得过细，或者碾压的力度过大，都可能会使样品制备效应出现，如：择优取向问题。而奥林巴斯的XRD分析仪与此不同，它只需要15毫克的样品就可以获得好的检测结果，而且检测人员使用随仪器附送的样品工具包可以轻松地制备样品。同时测量：传统的台式XRD仪器需要几秒钟时间获得每个2-theta测量值，因此要获得所有2-theta测量值，可能需要长达几个小时的时间。奥林巴斯XRD分析仪装配有电荷耦合装置（CCD）探测器，可以同时获得所有2-theta测量值，因此几乎可以使完整的衍射图形立即显示在屏幕上。安徽奥林巴斯BTX小型台式XRD品牌X射线衍射仪测定晶粒尺寸和点阵畸。

x射线的波长和晶体内部原子面之间的间距相近，晶体可以作为X射线的空间衍射光栅，即一束X射线照射到物体上时，受到物体中原子的散射，每个原子都产生散射波，这些波互相干涉，结果就产生衍射。衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强，在其他方向上减弱。分析衍射结果，便可获得晶体结构。以上是1912年德国物理学家劳厄(M.von Laue)提出的一个重要科学预见，随即被实验所证实。1913年，英国物理学家布拉格父子(W.H.Bragg，W.L.Bragg)在劳厄发现的基础上，不仅成功的测定了NaCl，KCl等晶体结构，还提出了作为晶体衍射基础的公式——布拉格方程：2dsinθ=nλ。X射线衍射仪是利用衍射原理，精确测定物质的晶体结构，织构及应力，精确的进行物相分析，定性分析，定量分析。应用于冶金，石油，化工，科研，航空航天，教学，材料生产等领域。

X射线衍射仪主要包括四个组成部分：X射线管、测角仪、探测器和计算机系统。X射线管：提供测量所需的X射线，改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长，调节阳极电压可控制X射线源的强度。X射线管又称X光管，分为充气管和真空管两类。测角仪：测量2θ和获得衍射信息。测角仪是X射线衍射仪的中心，是精密的机械部分。探测器：X射线衍射仪的探测器为计数管，是根据X射线光子的计数来探测衍射线的存在和强度，主要作用是将X射线信号转变为电信号。探测器有不同的种类，目前常用的是闪烁计数器。计算机系统：现代X射线衍射仪都附带安装有**衍射图处理分析软件的计算机系统，它们的特点是自动化和智能化。X射线发生器是进行X射线衍射实验所不可缺少的、重要的设备之一。

衍射仪主要应用于样品的物相定性和定量分析、晶体结构以及材料的织构分析、晶粒大小、结晶度测定。应用于化工、食品、航空航天、教学、材料生产等领域。运用XRD可以获得分析对象的X射线衍射图谱，只要样品是可以制成粉末的固态样品、薄膜或者是能够加工出小平面的块状样品，都可以用它进行分析测试。在衍射仪法中，样品制作上的差异会对衍射结果产生很大的影响。因此，制备符合要求的样品，是衍射仪实验技术中重要的一环。根据测试样品类型，可分三种方法：粉末样制备要求：干燥、在空气中稳定、粒度小于20μm，一般可以用研磨的方法制备。块状样品制备要求：放于样品凹槽内，高度一定要与样品架齐平。特殊样品制备，样品极少，液体样品等，采用低背景单晶硅片，将样品在单晶硅片上均匀分散开。衍射仪的X射线源焦点与计数管窗口分别位于测角仪圆周上，样品位于测角仪圆的正中心。安徽奥林巴斯BTX小型台式XRD品牌

奥林巴斯装配有电荷耦合装置（CCD）探测器的XRD分析仪，可以采集衍射环的切片。杭州衍射仪哪家可以代理

X射线衍射仪的形式多种多样，用途各异，但其基本构成很相似，主要部件包括4部分。（1） 高稳定度X射线源　提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度。（2） 样品及样品位置取向的调整机构系统　样品须是单晶、粉末、多晶或微晶的固体块。（3） 射线检测器　检测衍射强度或同时检测衍射方向, 通过仪器测量记录系统或计算机处理系统可以得到多晶衍射图谱数据。（4） 衍射图的处理分析系统　现代X射线衍射仪都附带安装有**衍射图处理分析软件的计算机系统, 它们的特点是自动化和智能化。杭州衍射仪哪家可以代理

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