传感器的特点包括：微型化、数字化、智能化、多功能化、系统化、网络化，它不仅促进了传统产业的改造和更新换代，而且还可能建立新型工业，从而成为21世纪新的经济增长点。微型化是建立在微电子机械系统（MEMS）技术基础上的，已成功应用在硅器件上做成硅压力传感器。

传感器早已渗透到诸如工业生产、宇宙开发、海洋探测、环境保护，天津外形尺寸测量仪器、资源调查、医学诊断、生物工程、甚至文物保护等等极其之泛的领域。可以毫不夸张地说，从茫茫的太空，到浩瀚的海洋，以至各种复杂的工程系统，几乎每一个现代化项目，都离不开各种各样的传感器。

司逖测量技术（上海）有限公司为您提供光谱共焦位移传感器，在线精密测量方案，天津外形尺寸测量仪器。 是法国STIL，天津外形尺寸测量仪器、Enovasense、德国Attocube Systeme AG等公司指定代理商。天津外形尺寸测量仪器

当今，物联网（loT）的基础设施已经非常完善，其适用范围已经不局限于服务器和数据中心，***使用在家居、办公和工厂。而处于物联网****的是传感器，它会将数据采集起来并中继回云服务或者在本地进行数据处理。传感器的原型是一种相对简单的控制系统，比如通过占用检测和温度测量来控制供暖和照明，如今该技术已发展成熟。对于用户而言，楼宇变得愈加智能，背后其实其系统智能水平得以提升。司逖测量技术（上海）有限公司为您提供光谱共焦位移传感器，在线精密测量方案。司逖测量技术（上海）有限公司为客户提供颠覆传统激光三角测距法，全新测量原理的光谱共焦传感器，STIL来自法国的光谱共焦发明者，3D尺寸精密测量方案提供者。 天津外形尺寸测量仪器工业环境下的在线质量检测、过程控制与逆向工程，STIL都可实现测量精密的测量方案。

分布式传感是一种可用于同时执行远程空间多个节点上精密测量任务的重要手段，在日常生活、科学研究和工程等领域有着***的应用。量子网络作为量子信息和量子计算的重要组成，在执行各类远程多节点任务中起着重要作用。当对多个空间分布的参量进行测量时，分布式量子传感能够实现超越经典统计极限的测量精度。司逖测量技术（上海）有限公司为客户提供颠覆传统激光三角测距法，全新测量原理的光谱共焦传感器，STIL来自法国的光谱共焦发明者，3D尺寸精密测量方案提供者。

光谱共焦位移传感器——MC2线阵视觉检测系统

2014年产品，具备所有光谱共焦显微镜的优势。

有4种光学头型号供选择：Deepview,Microview,NanoView,Wireview。

优势：

v 无需外接光源照明，光谱共焦传感器的光源即为检测所需的同轴光源；

v 环境光线的变化不影响成像效果，适应性强；

v 适应所有的物体表面，无论是漫反射表面，镜面（高光面）或者透明物体表面；

v 高达80KHz的扫描速度，并可实现非常低的像素尺寸(zui小像素可达0.2×0.2μm2)；

v zui高可至2.6mm的高景深，在景深范围内的任何一个位置都是完美聚焦，成像更为清晰且无需进行Z轴对焦。

上海岱珂机电设备有限公司是一家专业从事进口机电设备、仪器仪表及高精度检测设备的现代化企业。

配置”线”传感器的MICROMESURE 2系统

2014年产品：配置了MPLS180线传感器MICROMESURE 2

4个光学头可选：Nano View,Micro view,DeepView,WireView

由于MPLS180的高速测量，测量大面积表面的持续时间从几小时降低至几分钟，甚至几秒！

应用类型

• 形状及纹理分析

• 精密机械检测

• 表面特征分析

• 3D高度和厚度，形貌/轮廓

• 粗糙度测量

• 尺寸测量

应用领域

• 机械（粗糙度，摩擦力，3D计量，腐蚀分析...）

• 玻璃行业（浮动玻璃在线厚度检测，3D计量...）

• 微电子（粗糙度，3D计量，缺点分析...）

• 光学（粗糙度，3D计量...）

• 钟表（平整度，粗糙度，厚度...）

• 核燃料工业（粗糙度，摩擦度，3D计量，腐蚀分析...）

• 航空航天（粗糙度，涡轮形状）

选择：

• 后处理软件：来自图像技术的SPIP

• 用于实际3D测量的X&Y轴上的线性编码器（位置精确度=1μm/100mm）

• 录影机

• 用于更换光笔的简单刀塔或双刀塔

• 减震支架

• 1轴和2轴配置

• X&Y轴射程可达300mm（透明工作间不可用）

• Z轴射程可达100mm（透明工作间不可用）

计量工件：

• 校准槽（深度为10μm）

• 粗糙度标准（Ra=0.8μm）

• 光学平面（直径=140mm）

• 位移光罩（用于设置录影机偏移）

产品光斑尺寸低至150微米，令人难以置信的空间精度。天津非接触粗糙度测量仪器厂家哪家好

3D尺寸精密测量方案提供者。天津外形尺寸测量仪器

STIL DUO双重技术“点”传感器

●世界上初次个提供两种同时测量技术的系统：光谱共焦原理和具备原始共焦设置的白光光谱干涉原理。

●STIL的共焦彩色原理可测量范围从130um到42mm。非常适用于粗糙度和表面形貌测量，在任何类型的材料上都可获得非常高的精确度，无论是反射还是散射。测量符合新ISO 25178标准。

●STIL的共焦光谱干涉测量法，可获得亚纳米分辨率(<1nm)的厚度和形貌测量结果，可在大于100um的测量范围内进行测量，且样品的zui小可测厚度为0.4um。

●完美适用于工业环境，许多输入和输出以及软件开发套件，接口非常简单。

光谱共聚焦模式

●使用Multipeak软件进行多层样品测量

白光光谱干涉模式

●振动不敏感度（OPILB-RP光学笔）

●高信噪比（OPILB-RP光学笔）

●不需垂直扫描

●zui小可测厚度0.4um

●光学原理固有的亚纳米分辨率

●共焦使相邻点之间无干扰

●厚度测量上具有出色性能（0.3nm分辨率，10nm精度） 天津外形尺寸测量仪器

司逖测量技术（上海）有限公司位于金湘路225弄11号1208。司逖测量致力于为客户提供良好的光谱共焦位移传感器，玻璃测量仪器，光谱共焦传感器，纳米级测量仪器，一切以用户需求为中心，深受广大客户的欢迎。公司将不断增强企业重点竞争力，努力学习行业知识，遵守行业规范，植根于仪器仪表行业的发展。司逖测量立足于全国市场，依托强大的研发实力，融合前沿的技术理念，飞快响应客户的变化需求。

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