PLM系列是由苏州千宇光学科技有限公司精心设计研发及生产的一款高精度相位差轴角度测量仪。该设备可解析多层相位差，是对吸收轴角度、快慢轴角度、相位差、偏光度、色度及透过率等进行高精密测量；是结合偏光解析和一般光学特性分析于一体的设备；并提供不同型号，供客户进行选配。

设备主要运用于：偏光片，盖板玻璃，双折射材料，离型膜，补偿膜，其他光学材料的测试中。可解析多层相位差，主要测试项目包括：吸收轴角度，偏光轴角度，快轴，慢轴角度，波长分散性，苏州配向膜光轴测量仪，三次元折射率，苏州配向膜光轴测量仪，相位差R0/Rth（0~20000nm），苏州配向膜光轴测量仪,透过率，色度，偏光度。 相位差测试仪有AXOSCAN相位差测试仪。苏州配向膜光轴测量仪

相位差测试仪是工业领域中是经常用到的一般测量工具,比如在电力系统中电网并网合闸时，需要两电网的电信号相同,这就需要精确的测量两工频信号之间的相位差。更有测量两列同频信号的相位差在研究网络、系统的频率特性中具备重要意义。相位测量的方法很多,典型的传统方法是通过显示器观测，这种方法误差较大，读数不方便。为此，我们设计了一种数字相位差测量仪，实现了两列信号相位差的自动测量及数显。近年来,随着科学技术的迅速发展，很多测量仪逐渐向“智能仪器”和“自动测试系统”发展，这使得仪器的使用比较简单，功能越越多。苏州配向膜光轴测量仪对应样品尺寸：可定制，数据输出：电脑连接。

所谓移相是指两种同频的信号，以其中的一路为参考，另一路相 对于该参考作超前或滞后的移动，即称为是相位的移动。两路信号的 相位不同，便存在相位差，简称相差。若我们将一个信号周期看作是 360，则相差的范围就在0°～360°。：两个同频信号之间的移相， 是电子行业继电保护领域中模拟、分析问题的一个重要手段，利用移 相原理可以制作校验各种有关相位的仪器仪表、继电保护装置的信号 源。因此，移相技术有着特别广的实用价值。我们知道，将参考信号整 形为方波信号，并以此信号为基准，延时产生另一个同频的方波信号， 再通过波形变换电路将方波信号还原成正弦波信号。

相位常应用在科学领域，如数学、物理学等。例如：在函数y=Acos(ωx+φ)中，ωx+φ称为相位。在astrolog32中点击ALTIFT+A可以显示相位设定菜单。在交流电中，相位是反映交流电任何时刻的状态的物理量。交流电的大小和方向是随时间变化的。比如正弦交流电流，它的公式是i=Isin2πft。i是交流电流的瞬时值，I是交流电流的比较大值，f是交流电的频率，t是时间。随着时间的推移，交流电流可以从零变到比较大值，从** 大值变到零，又从零变到负的** 大值，从负的比较大值变到零。在三角函数中2πft相当于弧度，它反映了交流电任何时刻所处的状态，是在增大还是在减小，是正的还是负的等等。因此把2πft叫做相位，或者叫做相。高精度轴角度相位差测量仪相位差(0 20000nm)。

相位差测量 两个正弦电量可以是电压和电流，或者一个是电压，一个是电流等，对应点通常是从负到正的过零点，相当于正弦电函数的初始相位角。相位差的单位是度或弧度，正负号表示超前或滞后关系。一种 由于被测相位差正弦电量的频率范围很宽，所以通常根据频率选择测量方法和仪器。常用的方法有直接法和间接法。一种 直接法：用指针式相位计、数字相位计等**仪器或用负示波器测量相位差。当使用阴极示波器时，将两个相同频率的正弦电压信号分别加到示波器的X轴和Y轴上。然后两个正弦电压之间的相位差为∮=电弧正弦（B/α）。轴角度精度：±0.05°（精度业内比较高）。苏州配向膜光轴测量仪

测量波段：550nm单波段可升级为380nm~780nm 上料方式：手动上料。苏州配向膜光轴测量仪

专业性：光学博士团队合力研发，追求国产替代。 精心打造的每一台设备出货前都会用国家i级计量标准片进行校验 打破国外垄断 主要精度数据： 整机尺寸：根据客户样品尺寸定制； 对应样品尺寸：可定；制 轴角度测量范围：0°~180°； 数据输出：电脑连接； 轴角度精度：±0.05°（精度业内zui高）； 测量重复性：0.02° （精度业内zui高）； 相位差重复性精度：３σ≦０．１nm； 测量波段：550nm单波段（可根据客户要求定制波段）可升级为380nm~780nm。苏州配向膜光轴测量仪

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