一种长的起偏振片，包括至少一个偏振薄膜，所述薄膜具有： 偏振性能；和

与纵向既不平行也不垂直的吸收轴，

其中所述长的起偏振片在550 nm下具有80%或更大的偏振度， 在550 ran下具有35%或更大的单片透射比，苏州光轴测量仪公司，具有1 m或更长的纵向 长度，并且

所述长的起偏振片为卷状，具有3圈或更多圈。

一种长的起偏振片，包括至少一个偏振薄膜，所述薄膜具有： 偏振性能；和

与纵向既不平行也不垂直的吸收轴，

其中所述长的起偏振片在550 nm下具有80%或更大的偏振度，苏州光轴测量仪公司， 在550 nm下具有35%或更大的单片透射比，并且

与所述长的起偏振片的纵向垂直的工作宽度是650 nm或更大。

偏光片吸收轴角度，苏州光轴测量仪公司、偏振片偏振方向、波片快轴方向。苏州光轴测量仪公司

相位差测试仪应用于电力线路、变电所的相位校验和相序校验，具有核相、测相序、验电等功能。具备很强的抗干扰性，适应各种电磁场干扰场合。被测高电压相位信号由采集器取出，经过处理后直接发射出去。由 ***接收并进行相位比较，对核相后的结果定性。因本产品是无线传输，真正达到安全可靠、快速准确，适应各种核相场合。

相位测量技术的研究由来已久，早年的研究和应用是在数学的矢量分析和物理学的圆周运动以及振动学方面，随之在电力部门、机械部门、航空航天、地质勘探、海底资源等方面也相应得到重视和发展。随着电子技术和计算机技术的发展，相位测量技术得到了迅速的发展，目前相位测量技术已较完善，测量方法及理论也比较成熟，相位测量仪器已系列化和商品化。 江苏离型膜光轴测量仪相位差测试仪有：日本大冢相位差测试仪。

来间接的测定信号传播的时间，从而求得被测距离的。因此，信号相位测量的精度也就决定了测距的精度。相位测量技术的研究由来已久，**早的研究和应用是在数学的矢量分析和物理学的圆周运动以及振动学方面，随之在电力部门、机械部门、航空航天、地质勘探、海底资源等方面也相应得到重视和发展。随着电子技术和计算机技术的发展，相位测量技术得到了迅速的发展，目前相位测量技术已较完善，测量方法及理论也比较成熟，相位测量仪器已系列化和商品化。现代相位测量技术的发展可分为三个阶段：***阶段是在早期采用的诸如阻抗法、和/差法、三电压法、比对法和平衡法等，虽然方法简单，但测量精度较低；第二阶段是利用数字**电路、微处理器、FPGA/CPLD、DSP等构成测相系统，使测量精度得以**提高；第三阶段是充分利用计算机及智能化虚拟测量技术，从而**简化设计程序，增强功能，使得相应的产品精度更高、功能更全。同时，各种新的算法也随之出现。相位测量是正弦信号经过不同的时间或不同的网络后可以有不同的相位。通常所谓相位测量是指对两个同频率信号之间相位差的测量。**常见的是对网络输入与输出信号的相位差，即网络相移的测量。

主要精度数据：

测试对象：偏光片，相位差膜，光学膜

测试项目：偏光度，透过率(单体/平行/直交)，色度，相位差（R0/RTH），轴角度，吸收轴角度，消光比

注：测试可选择高精度模式和快速模式

整机尺寸：根据客户样品尺寸定制

对应样品尺寸：可定制

测试光斑：约5mm

轴角度测量范围：0°~180°

偏光度

重复性 ：３σ≦０．００１%

可实现指定波长透过率测量

轴角度精度：±0.05°（高精度模式）

测量重复性：0.02°    （高精度模式）

相位差测亮范围：0~20000nm  

相位差重复性精度：３σ≦０．１nm；

测量波段：400nm~800nm

倾斜旋转台规格：傾斜角度范围：－60°～＋60°**小角度：０．１°

旋转角度范围：－180°～＋180°

旋转**小角度：０．１° 相位差延迟量、椭偏率、配向角，色度、多波段测试(380nm~780nm）。

PLM系列是由苏州千宇光学科技有限公司精心设计研发及生产的一款高精度相位差轴角度测量仪。该设备可解析多层相位差，是对吸收轴角度、快慢轴角度、相位差、偏光度、色度及透过率等进行高精密测量；是结合偏光解析和一般光学特性分析于一体的设备；并提供不同型号，供客户进行选配。

设备主要运用于：偏光片，盖板玻璃，双折射材料，离型膜，补偿膜，其他光学材料的测试中。可解析多层相位差，主要测试项目包括：吸收轴角度，偏光轴角度，快轴，慢轴角度，波长分散性，三次元折射率，相位差R0/Rth（0~20000nm）,透过率，色度，偏光度。 相位差延迟量、椭偏率、配向角 ，色度、多波段测试(380nm~780nm）、偏光度。苏州光轴测量仪公司

整机尺寸：根据客户样品尺寸定制。苏州光轴测量仪公司

相位测量技术的研讨由来已久，**早的研讨和应用是在数学的矢量分析和物理学的圆周运动以及振动学方面，随之在电力部分、机械部分、航空航天、地质勘探、海底资源等方面也相应得到注重和展开。跟着电子技术和计算机技术的展开，相位测量技术得到了灵敏的展开，现在相位测量技术已较完善，测量方法及理论也比较老练，相位测量仪器已系列化和商品化。现代相位测:量技术的展开可分为三个阶段:***阶段是在前期采用的诸如阻抗法、和/差法、三电压法、比对法和平衡法等，虽然方法简略，但测量精度较低;第二阶段是运用数字**电路、微处理器、FPGA/CPLD、 DSP等构成测相系统，使测量精度得以**提高;第三阶段是充分运用计算机及智能化虚拟测量技术，然后**简化规划程序，增强功用，使得相应的产品精度更高、功用更全。一起，各种新的算法也随之出现。苏州光轴测量仪公司

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