导波雷达物位计，采用了可发出高频率微波，沿着探杆传播，由于遇到被测介质，介电常数突变，引起反射。发射脉冲与反射脉冲的时间间隔与被测量介质的距离成正比。特殊的时间延伸方法可以确保极短时间内稳定和精确的测量，无线雷达物位计厂家。即使存在虚假反射的时候，的微处理技术和软件也可以准确地分析出物位回波，仪表可以空仓调试。在固体测量中的应用可以使用K-频段的高频传感器。由于信号的聚焦效果非常好，料仓内的安装物或仓壁的粘附物都不会影响测量。

工作原理:导波雷达物位计是基于时间行程原理的测量仪表，无线雷达物位计厂家，雷达波以光速运行，运行时间可以通过电子部件被转换成物位信号。探头发出高频脉冲并沿缆绳传播，当脉冲遇到物料表面时反射回来被仪表内的jieshouiqi接收，并将距离信号转化为物位信号。

反射的脉冲信号沿缆式或杆式探头传导至仪表电子线路部分，微处理器对此信号进行处理，无线雷达物位计厂家，识别出微波脉冲在物料表面所产生的回波。 连续调频技术测量物位是将传播时间转换成频差的方式，通过测量频率来代替直接测量时差，来计算目标距离。无线雷达物位计厂家

在现场实际运用时，会有各种因素对其稳定、可靠的测量产生影响，下面我们将结合实际，讲述各种干扰对超声波物位计选用、使用、安装的影响。超声波流量计

(1)介质及环境温度的影响

超声波从物料表面反射时，其反射频率会受到物料温度的影响而发生变化，为了补偿这一变化，超声波探头内装有温度传感器，当探头向处理器发送反射信号的同时，也把温度信号送到微处理器，处理器将自动补偿由于温度对料位测量的影响。

此外，为了保证探头的可靠工作，要求环境温度不超过60℃。

(2)搅拌器对物位计测量的影响

如果物料容器内装搅拌器，它同样会反射超声波信号，造成假反射回波，并被传送到微处理器。微处理器将根据统计学原理处理真假面具回波，所以要求超声波从物料表面反射的回波应至少为从搅拌器臂反射的回波的3倍。适当降低搅拌器的转速，或将探头偏离搅拌中心，都可以有效消除搅拌器产生的假面反射对料位测量的影响。 黑龙江导波雷达物位计制造商智能雷达物位计可以看作一种特殊的时间延伸工具，这就保证了在极短时间内的稳定和精确的测量。

雷达物位计和射频导纳的区别：射频导纳开关发射一定的高频无线电波作用于探头上，以此分析和确定容器内物位的变化。射频导纳开关对所探材料的不同，无线电波的频率也随之改变。射频导纳开关的探头和容器壁构成了一个间距固定的电容两级，探头的绝缘材料和周围的空气提供绝缘介质。空气被其它介质所取代时，探头与容器壁所构成的电容量将改变，这一变化将引起作用于射频导纳开关探头的无线电波的变化。这一变化被射频导纳开关内部线路检测到，与设置值比较，确定其改变量。当与设置值相同时，输出开关量信号。

超声波物位仪是由微处理器控制的数字液位仪表。在测量中脉冲超声波由传感器发出，声波经液体表面反射后被同一传感器接收并转换成电信号。一体式防爆超声波液位计具有自动功率调整，温度补偿，抗干扰等功能。一体式防爆超声波液位计由于采用非接触测量，被测介质几乎不受控制，可用于强腐蚀性介质。防爆超声波物位仪可采用二线制、三线制或四线制技术，供电回路和信号输出回路**，当采用直流24v供电时，可使用一根3芯电缆线，供电负端和信号输出负端共用一根芯线；当采用交流220v供电时，或者当采用直流24v供电，要求供电回路与信号输出回路完全隔离时，应使用一根4芯电缆线。直流或交流供电，具有4~20mADC，高低位开关量输出。 传感器是26G高频雷达式物位测量仪表，测量最大距离可达70米。

超声波物位计技术特点：1.具有强劲发射力的换能器，表面可自清洁，利用更新的换能器结构和制造工艺，明显提高了换能器的工作性能。2.微处理器程序控制、智能信号处理技术，可实现多种典型工况软件处理模式，使物位计能适应固体、液体、粉尘等复杂工况。3.红外线遥控编程调节，操作简单可靠，并带有液晶现场显示。4.非接触式连续测量，减少维护;5.可用于测量物位、空间、距离，也可对标准或特别开关的液罐进行自动液位-体积转换;6.带背光的液晶显示器，可按标准工程单位进行显示。 高频的调频雷达技术尤其适合大型固体料仓的物位测量!无线雷达物位计厂家

雷达物位计具有不受介质比重的影响，不受介电常数变化的影响，不需要现场校调等优点。无线雷达物位计厂家

    液体、物位的测量：对于液面相对平稳的罐体，且被测液体的介电常数较高，可以选择普通雷达物位计。对于液面波动大、或带有搅拌的罐体，或被测液体的介电常数较低，应推荐导波雷达。因为导波管对液面有整型作用，且导波雷达的微波反射不易受环境条件变化的影响。被测液体的介电常数和密度变化对测量结果没有影响。对于被测液体的粘度≥500cst，且液体粘附性较强的情况，不能选择导波管方式测量，因为粘附和结晶会堵死导波管。从而形成虚假物位。可以选择导波杆方式来测量。当介质在探头上的涂污对测量物位的影响可分为两种：膜状涂污和桥接。膜状涂污是在物位降低时，高粘液体或轻油浆在探头上形成的一种覆盖层。由于这种涂污在探头上涂层均匀，因此对测量基本无影响；但桥接性涂污的形成却能导致明显的测量误差，当块状或条状介质污垢粘结于波导体上或桥接于两个波导体之间时，就会在该点测得虚假物位。 无线雷达物位计厂家

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