超声波物位计测量料位的极限值:

1)zui高料位

当一束超声波脉冲向物料表面传送过程中，若收到从物料表面来的反射波，将无法进行测量，这段距离就是盲区，超声波物位计规格。物料zui高料位不得高于盲区。

2)zui低料位

zui低料位也就是使超声波能到达的距离传感器的zui远距离，并且使反射回波能被传感器接收。由于超声波在传播过程中的衰减以及物料表面对声波的吸收，这一传播距离对物料性质依赖性很强，对于DU33来说，可测液体范围为25m，超声波物位计规格，固体范围为15m。

总之，只要仪表选型、安装适当，超声波物位计规格，超声波物位计的应用效果还是比较满意的。

超声波类仪表(超声波流量计)是现代科学技术在工业测量中的具体运用，是高新电子技术和声学原理相结合的产物。比起常规仪表，它们的智能化更高，应用的技术更先进，也给用户带来更大方便。 折叠物位开关：用于检测颗粒状固体、浆料和界面的预定液位。超声方法或高灵敏度电容式测量。超声波物位计规格

射频导纳物位计的特点 ：

1.通用性强：可测量液位及料位，可满足不同温度、压力、介质的测量要求，并可应用于腐蚀、冲击等恶劣场合 ；2.防挂料：独特的电路设计和传感器结构，使其测量可以不受传感器挂料影响，无需定期清洁，避免误测量；3.免维护：测量过程无可动部件，不存在机械部件损坏问题，无须维护。；4.抗干扰：接触式测量，抗干扰能力强，可克服蒸汽、泡沫及搅拌对测量的影响。；5.准确可靠：测量量多样化，使测量更加准确，泽良不受环境变化影响，稳定性高，使用寿命长。

超声波物位计规格固体测量中高频的调频雷达能提供准确、可靠的测量，并在化工行业中的PP粉末、PE粉末等介质中有良好应用。

雷达物位计产品特点

1、适应性强：被测物料不同的介电常数，密度对测量均不产生影响。结垢，搅动，湍流，气泡，振动，中等粘度，高温，高压等恶劣天剑对测量也无影响。

2、 免于维护：由于音叉限位开关的检测过程由电子电路完成，无活动部件，所以一经安装投运便不需要维护。

3、不需要调校：由于音叉限位开关的检测不受被测介质电参数及密度的影响，所以无论测量何种液体都不需要现场调校。

发射功率很低的极短的微波通过天线系统发射并接收。雷达波以光速运行。运行时间可以通过电子部件被转换成物位信号。一种特殊的时间延伸方法可以确保极短时间内稳定和精确的测量。即使存在虚假反射的时候，微处理技术和软件也可以准确地分析出物位回波。通过输入容器尺寸，可以将上空距离值转换成与物位成正比的信号。仪表可以空仓调试。在固体测量中的应用可以使用K-频段的高频传感器。由于信号的聚焦效果非常好，料仓内的安装物或仓壁的粘附物都不会影响测量。

超声波物位仪是由微处理器控制的数字液位仪表。在测量中脉冲超声波由传感器发出，声波经液体表面反射后被同一传感器接收并转换成电信号。一体式防爆超声波液位计具有自动功率调整，温度补偿，抗干扰等功能。一体式防爆超声波液位计由于采用非接触测量，被测介质几乎不受控制，可用于强腐蚀性介质。防爆超声波物位仪可采用二线制、三线制或四线制技术，供电回路和信号输出回路**，当采用直流24v供电时，可使用一根3芯电缆线，供电负端和信号输出负端共用一根芯线；当采用交流220v供电时，或者当采用直流24v供电，要求供电回路与信号输出回路完全隔离时，应使用一根4芯电缆线。直流或交流供电，具有4~20mADC，高低位开关量输出。 雷达物位计已成为物位测量仪表市场上的主流产品，主要分为雷达物位计和导波雷达物位计。

缆式导波雷达液位计可发出高频率微波，沿着探杆传播，由于遇到被测介质，介电常数突变，引起反射。发射脉冲与反射脉冲的时间间隔与被测量介质的距离成正比。同时，导波雷达也可以测量两种不同介质的界面，充分利用介质的介电常数的不同。但测量条件是上层介质不导电或其介电常数比下层介质介电常数小10倍以上。脉冲的工作方式可测小介电常数介质，并安全适用于各种金属，非金属容器内，对人体及环境无伤害。应用于煤厂、电厂、石油化工和食品等行业。 射频导纳，导纳的含义为电学中阻抗的倒数，它由电阻性成分、电容性成分、感性成分综合而成。超声波物位计规格

雷达物位计在使用上具有的优势：由于雷达物位计不与被测介质接触，且受温度、压力、气体等影响非常小。超声波物位计规格

    液体、物位的测量：对于液面相对平稳的罐体，且被测液体的介电常数较高，可以选择普通雷达物位计。对于液面波动大、或带有搅拌的罐体，或被测液体的介电常数较低，应推荐导波雷达。因为导波管对液面有整型作用，且导波雷达的微波反射不易受环境条件变化的影响。被测液体的介电常数和密度变化对测量结果没有影响。对于被测液体的粘度≥500cst，且液体粘附性较强的情况，不能选择导波管方式测量，因为粘附和结晶会堵死导波管。从而形成虚假物位。可以选择导波杆方式来测量。当介质在探头上的涂污对测量物位的影响可分为两种：膜状涂污和桥接。膜状涂污是在物位降低时，高粘液体或轻油浆在探头上形成的一种覆盖层。由于这种涂污在探头上涂层均匀，因此对测量基本无影响；但桥接性涂污的形成却能导致明显的测量误差，当块状或条状介质污垢粘结于波导体上或桥接于两个波导体之间时，就会在该点测得虚假物位。 超声波物位计规格

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