自动光学检查系统组成是由相机、镜头、光源、计算机等通用器件集成的简单光学成像与处理系统。光源照明下利用相机直接成像，然后由计算机处理实现检测。这种简单系统的优点是成本低、集成容易、技术门槛相对不高，在制造过程中能够代替人工检测，湖北一键式光学自动测量校准，满足多数场合的要求。根据成像方法的不同，自动光学检查又可分为三维（3D）自动光学检查和二维（2D）自动光学检查，三维自动光学检查 主要用于物体外形几何参数的测量、零件分组、定位、识别、机器人引导等场合； 二维自动光学检查主要用于产品外观（色彩、缺陷等）检测、不同物体或外观分类、良疵品检测与分类等场合，湖北一键式光学自动测量校准。但对于大幅面或复杂结构物体的视觉检测，由于受到视场和分辨率（或精度）的相互制约，或生产节拍对检测速度有特殊的要求，单相机组成的自动光学检查系统有时难以胜任，因此可能需要有多个基本单元集成在一起，湖北一键式光学自动测量校准，协同工作，共同完成高难度检测任务。即采取一种多传感器成像、高速分布式处理的自动光学检查系统集成架构。当前自动光学检查检测系统图像处理基本上采用的是参考算法。湖北一键式光学自动测量校准

虽然自动光学检查可用于生产线上的多个位置，各个位置可检测特殊缺陷，但自动光学检查检查设备应放到一个可以尽早识别和改正较多缺陷的位置。锡膏印刷之后，如果锡膏印刷过程满足要求，那么ICT发现的缺陷数量可大幅度的减少。典型的印刷缺陷包括以下几点： A.焊盘上焊锡不足。 B.焊盘上焊锡过多。 C.焊锡对焊盘的重合不良。 D.焊盘之间的焊锡桥。 在ICT上，相对这些情况的缺陷概率直接与情况的严重性成比例。轻微的少锡很少导致缺陷，而严重的情况，如根本无锡，几乎总是在ICT造成缺陷。焊锡不足可能是元件丢失或焊点开路的一个原因。尽管如此，决定哪里放置自动光学检查需要认识到元件丢失可能是其它原因下发生的，这些原因必须放在检查计划内。这个位置的检查较直接地支持过程跟进和特征化。这个阶段的定量过程控制数据包括，印刷偏移和焊锡量信息，而有关印刷焊锡的定性信息也会产生。湖北一键式光学自动测量校准光学自动测量应提高模糊比对的功能。

光学检测设备工作的原理是通过机器摄像头将产品转换成图像信号，传送给**的图像处理系统，根据像素分布和亮度、颜色等信息，转变成数字化信号；图像系统对这些信号进行各种运算来抽取目标的特征，进而根据判别的结果来控制现场的设备动作，从而甄别出良品与不良品。光学检测设备又可以成为光学检测仪。光学检测仪，英文名（Automatic Optic Inspection），简称：自动光学检查,是基于光学原理来对焊接生产中遇到的常见缺陷进行检测的设备。原理：自动光学检查软件中有一个综合性的验证功能，它能减少检查的误报，保证检测程序无缺陷。

光学测量是光电技术与机械测量结合的高科技。借用计算机技术，可以实现快速，准确的测量。方便记录，存储，打印，查询等等功能。 据介绍，光学测量主要应用在现代工业检测，主要检测产品的形位公差以及数值孔径等是否合格。光学自动测量技术规格： 1、完整行程须在60秒内(甚至更短)。 2、错误判断发生率的降低(避免操作人员的重复检查)。 3、尽可能的减少嫁动损失(例如减少交换被检查单元的时间)。 4、提高模糊比对的功能。 5、影像分辨率不断提高。 6、可检测出周边线路(以往只需要检测面板内部)。 7、可储存面板的瑕疵影像。 8、自动分类瑕疵。 设备功能： 1、可输出分析表格与图形。 2、可检出Mura瑕疵功能。 3、可处理修补瑕疵功能。自动光学检查的全称是Automatic Optic Inspection（自动光学检测）。

现代光学元件的检测内容与方法具体有下列几个方面：一、光学材料性能的检测:： 折射率，色散，非均匀性，应力双折射，气泡与杂质，条纹，光吸收等二、光学元件的基本量测量：平面（棱镜）：几何尺寸 面形，角度，平行度 透镜：几何尺寸：外径，厚度，倒边 面形，中心偏。元件表面质量：划痕, 麻点，粗糙度 。元件薄膜: 厚度、均匀性、透过率、应力、形变、偏振等三、光学系统特性参数的测量：显微镜：放大率，数值孔径 望远镜：焦距，放大率，相 对孔径，视度。照相物镜：相对孔径，分辨率，像面照度， 杂光系数四、光学系统参数与像质检测：焦距与星点测量，分辨率测量，几何像差测量，波像差检验，透过率测量，像面照度测量，杂光系数测量，光学传递函数测量五、光源和接收、激光参量和波面质量的检测等方面也都属于光学检测范围。另外，还有非光学量用光学测量的种种方法进行检测：位移、形变、形貌等方面也都属于光学检测范围。光学自动测量可输出分析表格与图形。湖北一键式光学自动测量校准

自动光学检查主要特点：快速便捷的编程系统。湖北一键式光学自动测量校准

光学测量的方法：激光扫描法测量物体外尺寸。其本质就是利用光的直线传播原理和激光的良好方向性，通过测量物体影子的尺寸来间接得到物体尺寸。激光多普勒测量位移。利用多普勒频移原理测量物体的速度，对速度进行积分就得到位移。激光全息法、散斑法测量位移。光速法测距。利用光速不变原理，检测激光发射与反射光反射回来的时间差，从而计算出距离。为了提高精度，可以将激光调制上一个低频信号，利用测量反射光的相位差来测得反射时间差。这种方法一般用于远距离测量。湖北一键式光学自动测量校准

深圳市茂迪机电设备有限公司成立于1995年4月，是广东省仪器仪表协会理事单位、深圳市仪器仪表行业协会理事单位，深圳市**采购中心定点采购单位。主要由光电事业部、物体色差部、系统集成部，环境测试仪器部组成。

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