现在说几个LCR数字电桥日常保养的技巧：请不要在多尘、震动、强光直射等不佳环境下使用仪器。尽管仪器已针对不佳杂讯( 特别是交流电源噪声) 的影响做了特殊处理，但仍应尽可能在低噪声的环境中使用。如果无法避免，请为本仪器安装电源滤波器。LCR数字电桥长期不用，请用原始包装或先包密封塑料袋再用纸箱包装，储存在温度为-10℃ ～40℃ 、湿度≤85%RH 的通风室内，安微手持lcr数字电桥。若被测件为电容器时，尽管仪器具有专门设计的抗冲击电路，安微手持lcr数字电桥，通过将被测电容与信号源测试部分相隔离和吸收回路，使得由于电容带电对仪器的破坏性极大降低。但从仪器的可靠性和安全性角度来讲，应先将被测电容器的余电放干净，安微手持lcr数字电桥，再进行测试。需要购买精密LCR数字电桥联系深圳市展荣新精密电子有限公司。安微手持lcr数字电桥

测试电容器漏电流时,测试时间如何设定?生产线上几乎不可能按标准的1分钟来设定测试时间,一般是用抬高漏电流的设定值来相应缩短测试时间,具体的比例关系由各企业根据自己的经验公式来确定,一般设定的充电时间都在10秒以内(大容值电容和多个电容同时充电的情况除外).LCR数字电桥在被测元件接入时,接入轴向引线元件时,为避免扭折引线,可采用轴向转接头,先把这两个配件分别插入测试夹的两端,再将其间距调正到适合元件测量的位置,然后便将轴向引线元件插入两端的配件夹内.安微手持lcr数字电桥有了LCR数字电桥，还需要选择一款合适的测试夹具才能满足您的测试需求。

LCR测试仪测试原理：Vx与Vr均是矢量电压表，Rr是理想电阻。LCR测试仪自平衡电桥的意思是：当DUT(Device Under Test)接入电路时，放大器的负反馈配置自动使得OP输入端虚地。Vx准确测定DUT两端电压（DUT的Low电位是0），Vr与Rr测得DUT电流Ix，由此可计算Zx。LCR测试仪提高精度的方法是: 1,Hp,Lp,Hc,Lc尽量接近DUT; 2,减小测试电流Ix的回路面积&磁通量（关键是分析Ix，要配合使用Guard与Cable*小化回路面积);3,使用Gurard与Cable构建地平面中断信号线间的电场连接，虽然会增加信号线的对地电容（对地电容不影响测试结果），但是会减少信号线的互容。Guard与Cable的对地寄生阻抗（Zhg,Zlg) 不影响测试结果，电桥平衡时Zlg的两端电压是0，流向Rr的电流不会被Zlg分流，Zhg的分流作用不影响Hp的电压测量。

LCR数字电桥的常见功能有哪些？BIAS按键，测量电解电容器时要用到2V直流偏压。这可通过按动BIAS键获得。注意：在启用或消除偏压电压后，电桥需要约40秒钟方可恢复。恢复期间，读数显示器上显示出BIAS字符，一旦BIAS字符消失，便可进行正常的测量，不再发生恢复延迟现象。100Hz-1KHz按键，为了充分利用电桥对电感和电容的量程扩展能力，必需选用正确的测量频率。量值高时应在100Hz频率上测量，低量值应在1KHz频率上测量。选择不当时LCR，LCR数字电桥的功能电桥的自动提示系统将通过闪亮频率“100Hz” 或“1KHz”指示LED来建议更改测量频率。LCR数字电桥使用内部/外部直流偏置，结合各种扫描测试功能，可以精确地分析磁性材料、电感器件的性能。

关于LCR数字电桥的测量对象问题，相信大家了解的应该也是比较少的。1.无源元件：电容器、电感器、磁芯、电阻器、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数测量。2.半导体元件：电容器、电感器、磁芯、电阻器、变压器、芯片测试仪组LCR数字电桥的测量对象的介绍件和网络元件等的阻抗参数测量。3.其它元件：印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估。4.介质材料：塑料、陶瓷和其它材料的介电常数的损耗角评估。5.磁性材料：铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估。6.半导体材料：半导体材料的介电常数，导电率和C-V特性。7.液晶材料：液晶单元的介电子常数、弹性常数等C-V特性。根据LCR数字电桥测量流过被测器件的电流(I)、电压(v )、电压与电流的相位角测量结果，可以计算阻抗参数。安微手持lcr数字电桥

在操作LCR数字电桥时，应在技术指标规定的环境中工作。安微手持lcr数字电桥

为什么同一个电感在不同厂家的LCR仪器上用相同测试条件,电感测试数据会有很大差别？因为绝大多数电感都带有铁芯磁芯，而带有铁芯磁芯的电感对其施加的磁场非常敏感，磁场与测试信号电流成正比，因此相同电平若内阻不同，电流就会不一样，则结果有很大差别。这是客户电感测试时遇到的普遍问题。再有就是判定仪器测试电感的一致性原则应该是施加与被测件上的电流要一致，这其中有一个特例，就是空心电感与磁场不敏感的。如果还有什么好的补充回答欢迎大家来补充。安微手持lcr数字电桥

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