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江苏质量相位差测量仪质量推荐 苏州千宇光学科技供应

信息介绍 / Information introduction

专业性:光学博士团队合力研发,江苏质量相位差测量仪质量推荐,追求国产替代。 精心打造的每一台设备出货前都会用国家i级计量标准片进行校验 打破国外垄断 主要精度数据: 整机尺寸:根据客户样品尺寸定制; 对应样品尺寸:可定;制 轴角度测量范围:0°~180°; 数据输出:电脑连接; 轴角度精度:±0,江苏质量相位差测量仪质量推荐,江苏质量相位差测量仪质量推荐.05°(精度业内zui高); 测量重复性:0.02° (精度业内zui高); 相位差重复性精度:3σ≦0.1nm; 测量波段:550nm单波段(可根据客户要求定制波段)可升级为380nm~780nm。配置表: PLM-100系列- -套 工业电脑及软件。江苏质量相位差测量仪质量推荐

两个频率相同的沟通电相位的差叫做相位差,或者叫做相差。这 两个频率相同的沟通电,可所以两个沟通电流,可所以两个沟通电压,可. 所以两个沟通电动势,也可所以这三种量中的任何两个。两个同频率正弦量的相位差就等于初相之差。是一个不随时刻改变的常数。 也可所以一个元件_上的电流与电压的相位改变。两正弦电量可以同为电压、电流,或一为电压、-为电流等。对应点常取正弦电量由负到正的过零点,相当于正弦电量函数的初相角。相. 位差的单位是度或弧度,正、负号表示抢先或滞后联系。 待测相位差的正弦电量的频率规模很广,因此选用的丈量办法和仪器一般随频率的高低来挑选。常用的办法是直接法和间接法。江苏质量相位差测量仪质量推荐单波段(550nm为主)/多波段测试(380nm"nn为主)。

相位差测量仪PLM-100系列 测试误区 配向角(取向角)是指轴角吗? 否。 配向角是轴角在垂直方向的投影。当水平放置样品时,配向角=轴角。当样品倾斜时,配向角会随着样品的翻转而变化,所以在测量配向角时候,需要知道样品与水平面的夹角。 设备主要运用于:其他光学材料、盖板玻璃、双折射材料、离型膜、补偿膜、偏光片 *已通过中国计量用标准片数据匹配。 *傅里叶变换解析偏振光,数据可靠稳定 *可溯源性:可提供计量检测报告 *专业性:光学博士团队合力研发,追求国产替代。 *精心打造的每一台设备出货前都会用国家i级计量标准片进行校验 *打破国外垄断

该设备是对对正弦/三角/梯形波/方波的相位差进行精密测量,具有高度集成,精度高;稳定性好,性能可靠,操作简便、使用方便、安全等特点,相控雷达阵、无线电导航系统、自动控制系统的测距和定位,电力系统中相电压的相位差测量等都有广泛应用。该套高精度相位差测量仪的部分参数如下:输入信号波形正弦/三角/梯形波/方波输入阻抗1MΩ相位范围0°to360°or±180°频率范围10Hz~20KHz幅度范围~100Vrms测量精度相位测量精度±°相位分辨率°频率测量精度2E-6环境特性工作温度0℃~+50℃相对湿度≤90%(40℃)存储温度-30℃~+70℃供电电源交流220V±10%,50Hz±5%,功率小于75W机箱尺寸3U,19″标准机箱(上机架)482mm(宽)x370(深)x150mm(高)选件根据客户要求定做类似产品。高精度相位差测量仪主要是由锁相环PLL(PhaseLockLoop)产生360倍频基准信号和移相网络的基准信号与待测信号进行异或后的信号作为显示器的闸门电路和控制信号。在电子系统非常广泛应用领域内,到处可见到处理离散信息的数字电路,在电子技术中,频率是**基本的参数之一。现代相位测量技术的发展可分为三个阶段:***个阶段是早期采用的诸如阻抗法、和/差法、三电压法、对比法和平衡法等。型号PLM-100 技术参数: 主要测试项目:偏光片吸收轴角度、偏振片偏振方向、波片快轴方向。

间接法通常采用三电压表法。一般要求两电压信号有一公共点(设为a点),当分别测出两信号电压Uab、Uca,以及两电压的差值Ubc后,可画出电压三角形。按余弦定理,两信号电压间的相位差当∮很小时,可将Uab或Uca中较大的一个信号电压分压,使分压后两信号的数值相等。间接法通常采用三电压表法。一般要求两电压信号有一公共点(设为a点),当分别测出两信号电压Uab、Uca,以及两电压的差值Ubc后,可画出电压三角形。按余弦定理,两信号电压间的相位差当∮很小时,可将Uab或Uca中较大的一个信号电压分压,使分压后两信号的数值相等。测量波段:550nm单波段(可根据客户要求定制波段)。江苏质量相位差测量仪质量推荐

测量重复性:0.02° (精度业内比较高)。江苏质量相位差测量仪质量推荐

相位差测试仪的发展与现状

相位测量技术的研究由来已久,**早的研究和应用是在数学的矢量分析和物理学的圆周运动以及振动学方面,随之在电力部门、机械部门、航空航天、地质勘探、海底资源等方面也相应得到重视和发展。随着电子技术和计算机技术的发展,相位测量技术得到了迅速的发展,目前相位测量技术已较完善,测量方法及理论也比较成熟,相位测量仪器已系列化和商品化。现代相位测量技术的发,展可分为三个阶段:***个阶段是早期采用的诸如阻抗法、和/差法、三电压法、对比法和平衡法等,虽方法简单,但测量精度较低,第二阶段是利用数字



**电路,微处理器、FPGA/CPLD、 DSP 等构成测相系统,使测量精度得以**提高,第三阶段是充分利用计算机及智能化虚拟测量技术,从而**简化设计程序,增强功能,使得相应的产品精度更高,功能更全,同时各种新的算法也随之出现。



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