光谱仪参数
探测器类型: HAMATSU光电二极管阵列
像素点: 2048
光栅: 全息平场凹面衍射光栅
狭缝: 可选择狭缝宽度(25um、50um、100um、200um)
光谱范围: VIS:400--800nm
UV-VIS:190--800nm
光学分辨率: VIS:1.5nm(100um狭缝)
UV-VIS:1.5nm(100um狭缝)
波长精度: ±0.2nm
光谱杂散光: <0,江苏国产相位差测量仪专业服务.05%(400nm)
信噪比: 2000:1
AD分辨率: 16bit
积分时间: 0.1ms--60s
供电: 5V/220mA
通讯接口: USB2.0(480Mbps)
解析多层相位差:相位差(0~20000nm)
吸收轴角度/偏光轴角度
透过率,江苏国产相位差测量仪专业服务,江苏国产相位差测量仪专业服务,色度(La、b),偏光度
快轴慢轴角度
单波段(550nm为主)/多波段测试(380nm~nm为主)
内应力(此功能软件开发中) 测量重复性精度业内** 高。江苏国产相位差测量仪专业服务
PLM系列是由苏州千宇光学科技有限公司精心设计研发及生产的一款高精度相位差轴角度测量仪。该设备可解析多层相位差,是对吸收轴角度、快慢轴角度、相位差、偏光度、色度及透过率等进行高精密测量;是结合偏光解析和一般光学特性分析于一体的设备;并提供不同型号,供客户进行选配。
设备主要运用于:偏光片,盖板玻璃,双折射材料,离型膜,补偿膜,其他光学材料的测试中。可解析多层相位差,主要测试项目包括:吸收轴角度,偏光轴角度,快轴,慢轴角度,波长分散性,三次元折射率,相位差R0/Rth(0~20000nm),透过率,色度,偏光度。
江苏离型膜相位差测量仪测量波段可升级为380nm~780nm。
随着科学技术突飞猛进的发展,电子技术比较广的应用于工业、农业、交通运输、航空航天、国防建设等国民经济的诸多领域中,而电子测量技术又是电子技术中进行信息检测的重要手段,在现代科学技术中占有举足轻重的作用和地位。 相位差测试仪是工业领域中是经常用到的一般测量工具,比如在电力系统中电网并网合闸时,需要两电网的电信号相同,这就需要精确的测量两工频信号之间的相位差。更有测量两列同频信号的相位差在研究网络、系统的频率特性中具备重要意义。相位测量的方法很多,典型的传统方法是通过显示器观测,这种方法误差较大,读数不方便。为此,我们设计了一种数字相位差测量仪,实现了两列信号相位差的自动测量及数显。
随着科学技术突飞猛进的发展,电子技术比较广的应用于工业、农业、交通运输、航空航天、国防建设等国民经济的诸多领域中,而电子测量技术又是电子技术中进行信息检测的重要手段,在现代科学技术中占有举足轻重的作用和地位。实现了两列信号相位差的自动测量及数显。近年来,随着科学技术的迅速发展,很多测量仪逐渐向“智能仪器”和“自动测试系统”发展,这使得仪器的使用比较简单,功能越越多。 相位差测试仪应用于电力线路、变电所的相位校验和相序校验,具有核相、测相序、验电等功能。具备很强的抗干扰性,适应各种电磁场干扰场合。被测高电压相位信号由采集器取出,经过处理后直接发射出去。接收并进行相位比较,对核相后的结果定性。对应样品尺寸:可定制,轴角度测量范围:0°~180°。
该设备是对对正弦/三角/梯形波/方波的相位差进行精密测量,具有高度集成,精度高;稳定性好,性能可靠,操作简便、使用方便、安全等特点,相控雷达阵、无线电导航系统、自动控制系统的测距和定位,电力系统中相电压的相位差测量等都有广泛应用。该套高精度相位差测量仪的部分参数如下:输入信号波形正弦/三角/梯形波/方波输入阻抗1MΩ相位范围0°to360°or±180°频率范围10Hz~20KHz幅度范围~100Vrms测量精度相位测量精度±°相位分辨率°频率测量精度2E-6环境特性工作温度0℃~+50℃相对湿度≤90%(40℃)存储温度-30℃~+70℃供电电源交流220V±10%,50Hz±5%,功率小于75W机箱尺寸3U,19″标准机箱(上机架)482mm(宽)x370(深)x150mm(高)选件根据客户要求定做类似产品。高精度相位差测量仪主要是由锁相环PLL(PhaseLockLoop)产生360倍频基准信号和移相网络的基准信号与待测信号进行异或后的信号作为显示器的闸门电路和控制信号。在电子系统非常广泛应用领域内,到处可见到处理离散信息的数字电路,在电子技术中,频率是**基本的参数之一。现代相位测量技术的发展可分为三个阶段:第 一个阶段是早期采用的诸如阻抗法、和/差法、三电压法、对比法和平衡法等。轴角度测量范围:0°~180°。江苏优质相位差测量仪
轴角度测量范围:0°~180° 。江苏国产相位差测量仪专业服务
相位差测量仪PLM-100系列 测试误区 配向角(取向角)是指轴角吗? 否。 配向角是轴角在垂直方向的投影。当水平放置样品时,配向角=轴角。当样品倾斜时,配向角会随着样品的翻转而变化,所以在测量配向角时候,需要知道样品与水平面的夹角。 设备主要运用于:其他光学材料、盖板玻璃、双折射材料、离型膜、补偿膜、偏光片 *已通过中国计量用标准片数据匹配。 *傅里叶变换解析偏振光,数据可靠稳定 *可溯源性:可提供计量检测报告 *专业性:光学博士团队合力研发,追求国产替代。 *精心打造的每一台设备出货前都会用国家i级计量标准片进行校验 *打破国外垄断江苏国产相位差测量仪专业服务
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