LCR数字电桥触发延时指从LCR数字电桥仪器被触发到开始测量的延迟时间。延时功能让你可设定触发延时时间。触发延时时间设定范围为：0s至60s，中山精密lcr数字电桥，1ms为步进，中山精密lcr数字电桥。触发延时时间设置过程如下：1）移动光标至延时域。2）使用数值键输入延时时间。按下一个数字键后，屏幕软区显示一下单位软键：msec：按下此软键，默认输入单位为毫秒。sec：按下此软键，默认输入单位为秒，中山精密lcr数字电桥。用户也可按下【ENTER】结束数字输入。特别注意：当LCR数字电桥仪器被用在自动测试系统时，触发延时功能很有用。当LCR数字电桥仪器被HANDLER接口触发后，经过触发延时时间可以保证被测件与测试端可靠接触。早期的LCR测试就是一个真正的电桥平衡测试方法。中山精密lcr数字电桥

半导体材料和元件的测量进行MOS型半导体制造工艺评价时，需要氧化层电容和衬底杂质密度这些参数，这些可从C－Vdc特性的测量结果推导出来。通过提供的直流源，结合各种扫描功能，可以方便地完成C-VDC特性的测量。为了测试晶圆上的半导体器件，需要延伸电缆和探头，仪器的1m/2m/4m延伸电缆选件可将电缆延伸的误差降至极小。各种二极管、三极管、MOS管的分布电容也是本仪器的测试内容。深圳市展荣新精密电子有限公司，专业从事电子变压器、电感线圈、电容电阻等各类元器件测试仪之自主研发、制造和销售。广州数字lcr电桥目前，LCR数字电桥的研发技术还在不断的改进中。

怎样选择串联和并联测试参数? (1)可以两个不同的测试频率下损耗因子的变化性来决定，若频率升高而损耗增加，则应选用串联等效电路若频率升高而损耗减小，则应选用并联等效电路。对于电感来说，情况正好与电容相反。实际中器件的D 不可能与频率完全成正比关系，其可能有并联成分，也可能有串联成分，应看何种成分占主导。(2)根据元件的使用情况来判定。如用于信号耦合电容，则优先选择串联方式，旁路或并联谐振则使用并联等效电路。习惯上说低阻抗元件用串联，从数值上说阻抗小于100欧姆一定用串联，大于10千欧用并联，(100欧姆-10千欧)根据实际情况选择。

LCR数字电桥操作面板都有“串联”和“并联”按键供用户选择，这串联和并联不是物理连结，而是内在计算模式的改变，以改变计算模式得到理想的测试精度。理论上电感正弦波激励响应电压超前电流90度，电容电压落后电流90度。实际测量中由于铜阻和各种损耗的存在，超前或落后都小于90度，这种损耗在测量中以副参数出现，电感损失角的正切值的倒数称品质因素Q值。同样电容损失角的正切值称损耗因子DF。LCR数字电桥进行高精度量化，要建立适当的数学模型，经过一些数学运算，得到各种参数值。在整个过程中，把损耗的影响用电阻等效和电感或电容串并联。LCR测试仪为了进行负荷校正，首先需要准备好标准器具或者已知准确值的零部件。

LCR数字电桥采用微处理技术取得突破,LCR数字电桥具有强大的测试功能和优越的测量性能结合可提供稳定的5位测试分辨率,50Hz-100kHz/200kHz的频率范围、0.1V0.3V1V可编程信号电平、高达12次/秒的测量速度、5级量程、恒定的30Ω或100Ω源内阻及灵活人性的操作方式,满足了多方面的需求.对各种电子元件检验起到重要的作用.LCR数字电桥采用微处理技术取得突破.取消传统机械电源开关,采用软件控制电源开关.0.05%的基本精度和良好的测试稳定性可与**机型媲美.可通过仪器的校准功能将存在于测试端上的杂散电抗和引线电阻进行清"0".仪器提供有通用测量夹具和五端测试电缆各一付以供用户选择.可适用于任何环境工作,仪器及测试线应远离强电磁场,以免影响正常测量.通过本文的介绍，相信大家对于LCR数字电桥有了一定的了解。lcr数字电桥高精度系统

一般地，lcr仪器定价是根据频率准确度、性能等要素综合确定的。中山精密lcr数字电桥

LCR测试仪测试原理：Vx与Vr均是矢量电压表，Rr是理想电阻。LCR测试仪自平衡电桥的意思是：当DUT(Device Under Test)接入电路时，放大器的负反馈配置自动使得OP输入端虚地。Vx准确测定DUT两端电压（DUT的Low电位是0），Vr与Rr测得DUT电流Ix，由此可计算Zx。LCR测试仪提高精度的方法是: 1,Hp,Lp,Hc,Lc尽量接近DUT; 2,减小测试电流Ix的回路面积&磁通量（关键是分析Ix，要配合使用Guard与Cable*小化回路面积);3,使用Gurard与Cable构建地平面中断信号线间的电场连接，虽然会增加信号线的对地电容（对地电容不影响测试结果），但是会减少信号线的互容。Guard与Cable的对地寄生阻抗（Zhg,Zlg) 不影响测试结果，电桥平衡时Zlg的两端电压是0，流向Rr的电流不会被Zlg分流，Zhg的分流作用不影响Hp的电压测量。中山精密lcr数字电桥

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