机器视觉是通过光学的装置和非接触的传感器自动地接收和处理一个真实物体的图像，以获得所需信息或用于控制机器人运动的装置。机器视觉是一种无接触、无损伤的自动检测技术，是实现设备自动化、智能化和精密控制的有效手段，具有安全可靠、光谱响应范围宽，上海高精度光谱共焦位移传感器制造商、可在恶劣环境下长时间工作和生产效率高等突出优点。机器视觉检测系统通过适当的光源和CCD工业相机图像传感器获取产品的表面图像，利用相应的图像处理算法提取图像的特征信息，然后根据特征信息进行表面缺点的定位、识别，上海高精度光谱共焦位移传感器制造商，上海高精度光谱共焦位移传感器制造商、分级等判别和统计、存储、查询等操作。岱珂致力于壮大业已打造的自动化精密测量技术平台。上海高精度光谱共焦位移传感器制造商
光谱共焦位移传感器——线传感器
MP***M线扫描传感器
MP***M控制器，是市场上首台“线”光谱共聚焦传感器。
包含了180个**的光谱共聚焦通道。 每个通道测量样品表面上的单个点，并包含自己的点源，zhen孔和光谱仪。
在MP***M中，控制器和光学头通过两个光纤束连接。
首束将控制器的内部光源连接到镜头的入射面; 180束光纤电缆的前列成为180个通道的点源。
第二束连接光谱仪的输出平面; 180根光纤电缆的前列实现了180个通道的zhen孔。
MP***M控制器——技术特点
l 市场上首台“线”光谱共聚焦传感器
l 投射到样品表面为一条线，由180个离散点组成，每点对应一条**测量通道
l 比较大线率是2000 lines/秒
l 高工作量（360000点/秒）
l 由千兆以太网进行数据传输
l gao分辨率，高精度
l 可测量任何材料
l 对外部环境光线不敏感
l 兼容所有光学头
l 同步方式：主和从
l 借助DLL工具，易于管理
天津质量传感器哪家强金属、玻璃、陶瓷、半导体、塑料、织物等任何材料的物体STIL光谱共焦传感器都可轻松测量。
3D测量系统MICROMESURE2
配置“点”传感器的MICROMESURE 2系统
MICROMESURE 2系统，配置CCS-PRIMA,STIL-DUO传感器，是非接触式表面测量的理想工具，包含3D粗糙度，形状测量和3D微观形貌。
MICROMESURE 2系统，充分利用了STIL非接触式传感器在各种应用和领域的***性能。
与配套的控制&采集硬件和软件一起交付，MICROMESURE 2系统是一套整机，启动后立刻执行（指令）。
借助光谱共焦传感器
●非接触式尺寸测量
●纳米和微米分辨
●白光传感器（***点，大测量范围）
●同轴测量（无阴影）
●镜面上的高局部斜率（反射式）
●对环境光不敏感
●可测量金属，玻璃，半导体，陶瓷和其他更多材料
●透明物体的厚度测量方式
●具有大测量范围能力（20μm-24mm）
借助高质量的扫描系统
●Z轴0.1μm编码器（系列产品）
●X&Y轴0.1μm编码器（可选择）
●低震动
●正交性和平面度校正
●透明的作业空间，避免气流震荡
在品质检测环节，除了可测量的物理参数能单立或集成在操作动作的视觉处理部分，与机器动作一起完成外，与光学信息有关的外观检查部份，特别是涉及到人眼视觉感观的光学检查部分，行业的人工智能应用发展极为缓慢。而人眼视觉感观的光学检查部分人工智能功能缺失，也是整个智能制造技术中， 难攻克的环节之一。国际消费类电子产业快速往中国转移的一个重大原因，除了中国劳动力成本较低外，消费类电子领域的产品品质控制，很少没有涉及到人眼视觉感观的光学检查部分。特别是配备有触摸显示器件的电子产品，需要数量庞大的外观检测熟练员工，才能支撑起每年数十亿数量的产能规模，从某种意义上来说，目前也只有中国才能满足全球市场在这方面的海量需求。STIL光谱共焦传感器可测量分析物体表面细微结构、形状及纹理粗糙度的测量分析。
STIL DUO双重技术“点”传感器
●世界上初次个提供两种同时测量技术的系统：光谱共焦原理和具备原始共焦设置的白光光谱干涉原理。
●STIL的共焦彩色原理可测量范围从130um到42mm。非常适用于粗糙度和表面形貌测量，在任何类型的材料上都可获得非常高的精确度，无论是反射还是散射。测量符合新ISO 25178标准。
●STIL的共焦光谱干涉测量法，可获得亚纳米分辨率(<1nm)的厚度和形貌测量结果，可在大于100um的测量范围内进行测量，且样品的zui小可测厚度为0.4um。
●完美适用于工业环境，许多输入和输出以及软件开发套件，接口非常简单。
光谱共聚焦模式
●使用Multipeak软件进行多层样品测量
白光光谱干涉模式
●振动不敏感度（OPILB-RP光学笔）
●高信噪比（OPILB-RP光学笔）
●不需垂直扫描
●zui小可测厚度0.4um
●光学原理固有的亚纳米分辨率
●共焦使相邻点之间无干扰
●厚度测量上具有出色性能（0.3nm分辨率，10nm精度） STIL的超新技术——颠覆传统激光三角测距法的光谱共焦技术。上海高精度光谱共焦位移传感器制造商
光谱共焦传感器行业领先——司逖测量技术（上海）有限公司。上海高精度光谱共焦位移传感器制造商
STIL光学笔介绍
ENDO系列光学笔
兼容所有STIL传感器
直径非常小：4mm,6mm和8mm
减少工作空间的需要
距离模式分辨率：始于20nm
EVEREST系列光学笔（K1/K2）
K1(2017年）
测量范围：1000 μm
工作距离：18.5mm
zui大采样斜率：±44°
精度（zui大线性误差）：<100nm
轴向分辨率：<50nm
光斑尺寸（直径）：5μm
数值孔径（N.A.）：0.7
zui小厚度测量：<50μm
长度：260.5mm
直径：82mm
重量：1400g
K2(2019年）
测量范围：2000 μm
工作距离：19.2mm
zui大采样斜率：±42°
精度（zui大线性误差）：150nm
横向分辨率：3.8μm
能量收集：51
光斑尺寸（直径）：7μm
数值孔径（N.A.）：0.67
zui小可测厚度：100μm
长度：243.4mm
直径：82mm
重量：1250g
上海高精度光谱共焦位移传感器制造商
司逖测量技术（上海）有限公司致力于仪器仪表，是一家生产型公司。公司业务分为光谱共焦位移传感器，玻璃测量仪器，光谱共焦传感器，纳米级测量仪器等，目前不断进行创新和服务改进，为客户提供良好的产品和服务。公司将不断增强企业重点竞争力，努力学习行业知识，遵守行业规范，植根于仪器仪表行业的发展。司逖测量立足于全国市场，依托强大的研发实力，融合前沿的技术理念，飞快响应客户的变化需求。
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