相对人类视觉，视觉检测虽然在智能化和彩色识别能力方面还存在差距，在灰度分辨力、空间分辨力、速度、感光范围、环境要求以及观测精度等方面都存在 优势，尤其是在有害环境中或者重复性工作环境下，可节省大量人力， 提高产品检测效率。 由于视觉检测具有诸多优势，因此可应用场景 。目前视觉检测比较成熟的应用主要集中在定位、尺寸测量、OCR/OCV、特征有无等领域。 典型的是半导体行业，从上游晶圆加工制造的分类切割，到末端电路板印刷、贴片，都依赖于高精度的视觉测量对于运动部件的引导和定位，半导体制造行业对于视觉检测的需求占全行业市场需求的40%-50%。

        共聚焦光谱成像技术以极高的分辨率提供可靠、精确和可再现的尺寸测量。什么是光谱共焦干涉仪？非接触式轮廓测量技术中的测量精度，通常受机械振动和微扫描台位置不准确的限制。为不再受此类环境干扰，STIL开发了对振动不敏感的全新干涉测量法。采用这种新型干涉仪系统，干涉仪显微镜的精度可达亚纳米级。光谱共焦干涉测量原理STIL干涉测量法基于白光干涉图（SAWLI）的光谱分析。它包括分析在光谱仪上观察到的干扰信号，以便测量参比板和样品之间的气隙厚度。成熟系统的**性在于将参考板固定在检测目标上。由于参考板和样品固定在一起，机械振动不会影响测量结果。此外，该传感器可用于测量太薄而不允许使用光谱共焦技术的透明薄膜。可测厚度为μm。

司逖测量技术(上海)有限公司是法国stil公司在中国的销售公司。法国stil公司为全球各行企业提供高性能 光谱共焦位移传感器（chromatic confocal sen）已经超过25年。为应对公司在中国市场快速增长的需求，2016年stil成立了中国销售公司，即司逖测量技术（上海）有限公司，我们在华东(上海浦东新区)及华南(东莞长安中心区)分别设有总公司及办事处，两地均交通便捷、物流发达，以便更好地为中国客户提供质量的售前售后服务。 作为光谱共焦传感器的发明者及全球**者，法国stil公司基于这一创新的技术开发了两个系列的产品：从0.1μm到100mm测量行程的点光谱共焦传感器、从1.8mm到45mm线长的不同测量行程的线光谱共焦传感器。 这些高分辨率的非接触式传感器可运用于各种不同要求的高精密测量场合。从物体表面细微结构、形状及纹理粗糙度的测量分析，到工业环境下的在线质量检测、过程控制与逆向工程，及实验室研究场合的高精度设备，法国stil光谱共焦传感器都成了众多客户不可或缺的选择。 法国stil光谱共焦位移传感器为全球各行业（可应用行业范围：玻璃、医疗、电子、半导体、汽车、航空航天、制表业…等）企业提供高性能的光谱共焦位移传感器。任何材料的物体，如金属、玻璃、陶瓷、半导体、塑料、织物等，stil光谱共焦传感器都可轻松测量，而且对被测物体表面的颜色和光洁度也没有任何特殊要求，无论什么颜色，物体表面是漫反射或者高光面，乃至于镜面，stil光谱共焦传感器都可以轻松测量。

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