主要精度数据：

测试对象：偏光片，相位差膜，光学膜

测试项目：偏光度，苏州日文王子相位差测试仪，透过率(单体/平行/直交)，色度，相位差（R0/RTH），苏州日文王子相位差测试仪，轴角度，吸收轴角度，苏州日文王子相位差测试仪，消光比

注：测试可选择高精度模式和快速模式

整机尺寸：根据客户样品尺寸定制

对应样品尺寸：可定制

测试光斑：约5mm

轴角度测量范围：0°~180°

偏光度

重复性 ：３σ≦０．００１%

可实现指定波长透过率测量

轴角度精度：±0.05°（高精度模式）

测量重复性：0.02°    （高精度模式）

相位差测亮范围：0~20000nm  

相位差重复性精度：３σ≦０．１nm；

测量波段：400nm~800nm

倾斜旋转台规格：傾斜角度范围：－60°～＋60°**小角度：０．１°

旋转角度范围：－180°～＋180°

旋转**小角度：０．１°

相位差的丈量 两正弦电量可以同为电压、电流，或一为电压、-为电流等。对应点常取正弦电量由负到正的过零点，相当于正弦电量函数的初相角。相. 位差的单位是度或弧度，正、负号表示抢先或滞后联系。 待测相位差的正弦电量的频率规模很广，因此选用的丈量办法和仪器一般随频率的高低来挑选。常用的办法是直接法和间接法。间接法一般选用三电压表法。 -般要求两电压信号有一-公共点(设为a点)，当分别测出两信号电压Uab、Uca, 以及两电压的差值Ubc后, 可画出电压三角形。按余弦定理,两信号电压间的相位差当$很小时,可将Uab或Uca中较大的一个信号电压分压，使分压后两信号 的数值相等。

光谱仪参数

探测器类型:                   HAMATSU光电二极管阵列

像素点：                              2048

光栅：                          全息平场凹面衍射光栅

狭缝：        可选择狭缝宽度（25um、50um、100um、200um）

光谱范围：                        VIS：400--800nm

UV-VIS:190--800nm

光学分辨率：                     VIS：1.5nm（100um狭缝）

UV-VIS:1.5nm（100um狭缝）

波长精度：                             ±0.2nm

光谱杂散光：                             <0.05%（400nm）

信噪比：                               2000：1

AD分辨率：                             16bit

积分时间：                            0.1ms--60s

供电：                                 5V/220mA

通讯接口：                          USB2.0（480Mbps）

解析多层相位差：相位差（0~20000nm）

吸收轴角度/偏光轴角度

透过率，色度（La、b），偏光度

快轴慢轴角度

单波段（550nm为主）/多波段测试（380nm~nm为主）

内应力（此功能软件开发中）

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