奥林巴斯X荧光光谱仪坚固耐用、性能强大、界面简单直观，可以为那些要求在户外情景下获得精细分析的用户，进行快速的元素分析和合金辨别。不但可以在艰苦的工作环境中正常工作，还可以在很大程度上提高用户的分析量，并使数据归档操作简单易行。

  奥林巴斯X荧光光谱仪分析仪具有以下特性：

  ①通过了美国**部标准中的坠落测试，江苏手持式X荧光光谱仪，在分析仪被撞落或挤落时，可以减少其受到损伤的危险，江苏手持式X荧光光谱仪，避免用户支付昂贵的修理费用。同时，江苏手持式X荧光光谱仪，该设备符合IP55评级标准，具有防尘和防水的特性，即使在具有挑战性的环境中，也可以免受各种危险因素的侵害；

  X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管通过产生入射X射线（一次X射线），来激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，因此,只要测出荧光X射线的波长或者能量,就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。

  特征x射线的产生与特性当用高能电子束照射样品时，人射高能电子被样品中的电子减速，这种带电拉子的负的加速度会产生宽带的连续X射线谱，简称为连续潜或韧致辐射。另一方面，化学元素受到高能光子或粒子的照射，如内层电子被激发，则当外层电子跃迁时，就会放射出特征X射线。特征X射线是一种分离的不连续谱。如果激发光源为x射线，则受激产生的x射线称为二次X射线或X射线荧光。特征x射线显示了特征x射线光谱仪产生的过程。

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