1X射线荧光光谱检测的原理

       X射线荧光是一种由于原子内部结构变化所导致的现象。当照射原子核的X射线能量与原子核的内层电子能量在同一数量级时，核的内层电子共振吸收射线的辐射能量后发生跃迁，山西X射线荧光维修电话，山西X射线荧光维修电话，在内层电子轨道上留下一个空穴，处于高能态的外层电子跳回低能态的空穴，山西X射线荧光维修电话，将过剩的能量以X射线的形式放出，所产生的X射线即为**各元素特征的X射线荧光谱线。只要测出一系列X射线荧光谱线的波长，即能确定元素的种类；测得各元素荧光辐射强度，即可确定该元素的含量。

便携式Ｘ射线荧光仪应用于找矿可以分为直接找矿和间接找矿两方面：以X 射线荧光找金矿为例,由于金元素的克拉克值丰度远远小于Ｘ射线荧光仪自身探测线，加之金元素的K系特征X 射线Kα1的能量为68.79kev，而我们目前使用的激发源的能量（Pu能量为11.6～21.7kev，Am能量为59.5kev和26.4kev）远小于68.79kev，它不能激发金元素的K系特征X射线，只能根据同属金元素IB 族中铜、银的地球化学特性来确定，由于金元素属于亲铜元素组和亲银元素组，与亲铜元素组和亲银元素组的地球化学性质相近，在自然界中常以硫化物或复杂硫化物的形式存在，与亲铜元素和亲银元素共生或伴生一起，在金矿的地球化学晕中，基本上都会有铜、砷、银等亲铜元素和亲银元素的异常晕出现，所以可以将它们作为找金矿的良好指示，用单独测量一种元素或测量多种元素组合的特征Ｘ射线强度来圈定矿化异常，从而达到寻找金矿的目的。

 单一元素单一矿种测量公式：

       Cf=a×Kx+b（1）

       式中Cf为待测元素含量，a为斜率，Kx为待测元素的特征Ｘ射线荧光强度，b为斜率。多元素、复杂矿种的多参数测量公式：

       Cf=A×Kx+B×Ky+b（2）

       式中Cf

为待测元素含量，Ａ为Ａ元素的系数，Kx为待测元素的特征Ｘ射线荧光强度，B为B元素的系数，Ky为待测元素的特征Ｘ射线荧光强度，b为斜率。

用于地质调查、矿产普查与勘探、工程地质、岩土工程过程中岩石矿物元素分析。

用于分析海洋地质构造、海底岩石和海底沉积物中的各种元素。

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