X射线荧光分析在岩屑录井中的应用研究

【摘要】录井的基本任务是获取准确的岩性资料，然而目前录井对岩性的识别还主要是依赖传统的方法，如借助光学仪器观察获取的定性资料，上海石油化工X荧光能谱仪，甚至是直接依靠人的观察。随着水平井钻井技术的迅猛发展，这种方法已经越来越无法满足复杂的油气藏勘探开发的需要。岩屑录井对一种新的更加可靠的地层评价手段的出现提出了迫切要求，上海石油化工X荧光能谱仪。本文就拟从x射线荧光分析原理，上海石油化工X荧光能谱仪、x射线荧光分析在岩屑录井应用中的可行性以及进一步改进岩屑录井中x射线荧光分析技术的方法，以期加深对这一新技术的认识程度，为获取准确的岩性资料奠定基础。

第二章 X射线荧光分析在纳米材料研究中的作用

纳米材料是指几何尺寸达到纳米级水平，并具有特殊性能的材料。当颗粒尺寸进入纳米量级时，其本身和由它构成的纳米固体就具有四个方面的效应，即小尺寸效应、表面效应、量子尺寸效应、宏观量子隧道效应，并派生出传统固体不具备的许多特殊性质，如特殊的光学特性：宽频带强吸收、蓝移现象、新的发光现象。纳米材料的特殊性能使其在信息、光学、能源、生物、医药等诸多领域具有***的应用。随着纳米技术的产业化进程, 许多纳米材料已经大规模生产并应用于涂料、化妆品、新型材料、催化剂、医学等领域的近千种消费产品中，人们在不知不觉中暴露在有纳米材料存在的环境中[1-5]。

表3中可以看出同一样品制备10次测得的分析结果极差值≤允差值，认为制样方法是可行的。

2.5、仪器稳定性的效验和准确度的测试，在分析仪使用之前必须进行此项工作。用已有准确分析结果的试样50克，放入料钵内（不放两个钢圈）运行3min后，分成四份制成压片进行测量，测量结果见附表4

同一试样混匀后分四份制片后用荧光仪的测量结果

从表4可以看出几组样子误差特别小，说明仪器的稳定性很好。

2.6、建立应用程序（标准曲线） 

X—荧光分析仪是一种相对测量仪器，它是通过测量已准确得知化学分析结果的标样，由计算机所获得的特征X射线强度数据进行一系列的数学处理，计算得出工作曲线。建立应用程序（标准曲线）是荧光仪准确分析的基础，应注意以下几个问题：

（1）选取具有代表性的标准样品。每组曲线至少要八个以上的样品（我公司做每组曲线时至少选取10个以上的标准样品），且要在实际生产所用的矿区采样，使其分析样品的物理性能相同，各元素含量范围应覆盖实际生产所能达到的范围，尽可能在生产控制指标的中部，以保证分析的准确性。

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