2.3 检测手段对岩屑精度要求的满足

由表1我们可以知道，对于沉积岩中的绝大多数元素，吸收边的影响可以得到很大程度的降低，而散射影响在岩屑分析中又很不突出，上海X荧光光谱仪，再加上可以采用能量色散型仪器对x射线荧光进行检测，所以在对岩屑录井进行x射线荧光分析时，其精度上的要求是完全可以满足的。

综合以上分析，上海X荧光光谱仪，上海X荧光光谱仪，至少是在理论上，对岩屑录井进行x射线荧光分析是可行的。不过，在对岩屑录井进行x射线荧光分析的实际过程中，还必须严格遵守以***程，如图3：

2.2XRF分析技术在岩矿全分析中的应用

岩矿全分析是整个地质分析工作的基础，又是岩矿分析中**基础一项工作任务[3]。以前传统化学分析方法是一项工作量大、用料多、劳动强度又高的任务，存在耗时、耗力、不环保等诸多问题，而XRF分析技术却不存在这些问题。随着熔融制样法的广泛应用与高精度全自动XRF仪器的快速发展，使XRF高精度定量分析岩矿全分析主次量元素**终成为可能。XRF技术替代了传统的化学分析方法，成为了包括铀矿在内的岩矿全分析主导方法[3]。

X射线荧光技术常用来分析样品中的多种元素分布，非破坏性探测物质内部结构以及提供不同化学元素的分布情况。用同步辐射光源激发的 X 荧光分析，有较高的分析精度，还可以做元素化学态分析[7]。第三代同步辐射光源的高亮度也有利于建立性能优异的微探针，是X射线荧光分析**理想的光源。逐点对样品进行X射线荧光分析，直到扫完整个样品，得到样品元素的2维分布信息，结果直观准确，是一种重要的研究方法。为了完全评估纳米材料的潜在危险，新的研究方法和手段是解决纳米材料效应问题的关键。同步辐射X射线荧光成像方法，由于具有灵敏度高、无损分析、制样简单、能分析含水样品、能同时探测多种元素、不需要真空条件等优点,重要的是，X射线成像能够提供纳米材料的元素和价态信息，有大的穿透深度和空间分辨率，能够研究金属纳米材料在生物体内的定量和元素分布，非常适合纳米材料的研究[9,10]。

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