典型的如英国雷达研究所的科学家达默，他在1952年的一次会议上提出：可以把电子线路中的分立元器件，集中制作在一块半导体晶片上，一小块晶片就是一个完整电路，这样一来，电子线路的体积就可较大程度上缩小，可靠性大幅提高。这就是初期集成电路的构想，晶体管的发明使这种想法成为了可能，1947年在美国贝尔实验室制造出来了头一个晶体管，而在此之前要实现电流放大功能只能依靠体积大、耗电量大、结构脆弱的电子管。晶体管具有电子管的主要功能，并且克服了电子管的上述缺点，因此在晶体管发明后，很快就出现了基于半导体的集成电路的构想，也就很快发明出来了集成电路。集成电路(integratedcircuit，缩写：IC)2、二，三极管。SN74LV244ADBR

TI电源管理芯片选型指南，1.功能集成：根据应用的需求，选择具有所需功能集成的电源管理芯片。TI的电源管理芯片集成了多种功能，如电池充电、电源监控、电压调节等，可以简化系统设计。5.尺寸和封装：根据应用的空间限制和布局要求，选择合适的尺寸和封装。TI提供了多种封装选项，如QFN、BGA、SOT等，以满足不同的设计需求。2.特殊功能需求：考虑到特殊的功能需求，如低功耗、快速启动、低噪声等，选择具有相应功能的电源管理芯片。TI的电源管理芯片提供了多种特殊功能的解决方案。SN74HC32PWRLP8752还具有低功耗模式和自动优化模式，可以根据负载需求进行电源管理，从而延长电池寿命并降低功耗。

随着微处理器和PC机的普遍应用和普及(特别是在通信、工业控制、消费电子等领域)，IC产业已开始进入以客户为导向的阶段。一方面标准化功能的IC已难以满足整机客户对系统成本、可靠性等要求，同时整机客户则要求不断增加IC的集成度，提高保密性，减小芯片面积使系统的体积缩小，降低成本，提高产品的性能价格比，从而增强产品的竞争力，得到更多的市场份额和更丰厚的利润；另一方面，由于IC微细加工技术的进步，软件的硬件化已成为可能，为了改善系统的速度和简化程序，故各种硬件结构的ASIC如门阵列、可编程逻辑器件(包括FPGA)、标准单元、全定制电路等应运而生，其比例在整个IC销售额中1982年已占12％。

集成电路检测常识：1、检测前要了解集成电路及其相关电路的工作原理，检查和修理集成电路前首先要熟悉所用集成电路的功能、内部电路、主要电气参数、各引脚的作用以及引脚的正常电压、波形与外部元件组成电路的工作原理。2、测试避免造成引脚间短路，电压测量或用示波器探头测试波形时，避免造成引脚间短路，较好在与引脚直接连通的外部印刷电路上进行测量。任何瞬间的短路都容易损坏集成电路，尤其在测试扁平型封装的CMOS集成电路时更要加倍小心。SN军标，带N表示DIP封装，带J表示DIP (双列直插)，带D表示表贴，带W表示宽体。

集成电路检测常识：1、要保证焊接质量，焊接时确实焊牢，焊锡的堆积、气孔容易造成虚焊。焊接时间一般不超过3秒钟，烙铁的功率应用内热式25W左右。已焊接好的集成电路要仔细查看，较好用欧姆表测量各引脚间有否短路，确认无焊锡粘连现象再接通电源。2、测试仪表内阻要大，测量集成电路引脚直流电压时，应选用表头内阻大于20KΩ/V的万用表，否则对某些引脚电压会有较大的测量误差。3、要注意功率集成电路的散热，功率集成电路应散热良好，不允许不带散热器而处于大功率的状态下工作。4、引线要合理，如需要加接外部元件代替集成电路内部已损坏部分，应选用小型元器件，且接线要合理以免造成不必要的寄生耦合，尤其是要处理好音频功放集成电路和前置放大电路之间的接地端。TI的电源管理芯片采用了先进的功率转换技术，以提高效率并降低能量损耗。TLV70215DBV

SOT-223封装:这是一种表面安装型的封装形式，尺寸为6.5mmx6.5mmx3.0mm，有5个引脚。SN74LV244ADBR

集成电路，英文为Integrated Circuit，缩写为IC；顾名思义，就是把一定数量的常用电子元件，如电阻、电容、晶体管等，以及这些元件之间的连线，通过半导体工艺集成在一起的具有特定功能的电路。是20世纪50年代后期到60年代发展起来的一种新型半导体器件。它是经过氧化、光刻、扩散、外延、蒸铝等半导体制造工艺，把构成具有一定功能的电路所需的半导体、电阻、电容等元件及它们之间的连接导线全部集成在一小块硅片上，然后焊接封装在一个管壳内的电子器件。其封装外壳有圆壳式、扁平式或双列直插式等多种形式。SN74LV244ADBR

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