AOI检测是制造业视觉检测系统产业中视觉检测设备的一部分。AOI检测被普遍运用于PCB印刷电路板、平板显示器和半导体芯片等电子元器件领域，是现阶段PCB印刷电路板和集成电路芯片生产过程中，深圳高速AOI检测设备设备，至关重要的组成部分。一，深圳高速AOI检测设备设备、AOI检测的崛起和发展我国AOI检测行业从20世纪80年代逐渐开始发展，深圳高速AOI检测设备设备，迄今为止大概经历过四个阶段：从1985年的空白期到现在的智能化系统，从人工目检到3DAOI视觉检测技术的不断应用，伴随着SMT组装向标准化和精细化发展，AOI检测设备具备宽阔的应用前景。

虽然AOI检测设备类型繁多，但厂家为了能够达到更完善的检测，大部分都选择在线型AOI检测设备。深圳高速AOI检测设备设备

AOI检测发展历程：1985年至1995年期间，我国的AOI由空白期逐渐衍生：我国引进首台贴片机后，AOI检测进入起步阶段；1996年至2003年期间，以康耐德视觉为首的企业开启AOI检测设备的国内生产制造的之路；2004年至2010年期间，我国进入了AOI的快速发展期：AOI新技术不断发展，国内品牌开始与国外品牌进行战略性合作，不断研制更先进的设备。2011年后，我国AOI进入人工智能化阶段：伴随着大数据、人工智能、机器学习等新技术的不断应用，AOI检测不断朝着智能化系统方向进步。深圳半导体AOI检测设备功能AOI的包含情况以及三种检测方法，欢迎来电咨询！

AOI，即自动光学检查。它是自动检查经过波峰焊以及回流焊后的印刷电路板的焊锡焊接状况和实装情况的装置。首先，机器通过内部的照明单元，将焊锡及元器件分解成不同的颜色。在制作检查程序时，首先取一块标准板，对上面的各个元器件的不同部分分别设定合适的颜色参数。在进行检查时，机器将拍摄到的标准板的图像作为标准影像，以设定好的颜色参数作为标准。将被检查的基板的图像与标准影像进行对比，以设定好的色参数为基准进行判别。

AOI的设备构成AOI检测的工作逻辑可以分为图像采集阶段（光学扫描和数据收集），数据处理阶段（数据分类与转换），图像分析段（特征提取与模板比对）和缺陷报告阶段这四个阶段（缺陷大小类型分类等）为了支持和实现AOI检测的上述四个功能，AOI设备的硬件系统包括了工作平台，成像系统，图像处理系统和电气系统四个部分，是一个集成了机械，自动化，光学和软件等多学科的自动化设备图像采集阶段AOI的图像采集系统主要包括光电转化摄影系统，照明系统和控制系统三个部分因为摄影得到的图像被用于与模板做对比，所以获取的图像信息准确性对于检测结果非常重要，可以想象一下，如果图像采集器看不清楚或看不到被检测物体的特征点，那么也就无法谈到准确的检出AOI自动光学检测逐渐取代传统的人工目检，被普遍应用于LCD/TFT、晶体管和PCB等工业过程中。

AOI设备优势：随着电子产品向着小型化发展，PCBA设计也越来越来精密化，单靠人工目检的难度也越来越大，由于长时间进行检查容易产生用眼疲劳而造成漏检，这时候AOI就有很大的用处了，主要优势有一下几种：1.能节省人力和降低人工成本；2.提高生产效率和生产产能；3.提高入库的合格率；4.收集检测数据，提供制程分析，加强制程能力；5.统一的检测标准，不会因为线别而有所差异；6.能够及时回馈和统计生产问题；AOI放置位置1.贴片加工完成后使用：可以有效防止元件的缺失、极性、移位、立碑、反面等问题。2.回流焊后使用：处于生产线的末端，检测系统可以有效的检查出PCBA加工的元件缺失、偏移、歪斜等问题，焊点的正确性和锡量有没有不足，焊接短路、翘脚等缺陷。视觉检测自动化设备主要测试项目尺寸检验，缺陷检测等。深圳国内AOI检测设备按需定制

按分辨率分类： 0402元件AOI设备，0201元件AOI设备。深圳高速AOI检测设备设备

光电转化摄影系统指的是光电二极管器件和与之搭配的成像系统。是获得图像的”眼睛”,原理都是光电二极管接受到被检测物体反射的光线，光能转化产生电荷，转化后的电荷被光电传感器中的电子元件收集，传输形成电压模拟信号二极管吸收光线强度不同时生成的模拟电压大小不同，依次输出的模拟电压值被转化为数字灰阶0-255值，灰阶值反映了物体反射光的强弱，进而实现识别不同被检测物体的目的光电转化器可以分为CCD和CMOS两种，因为制作工艺与设计不同，CCD与CMOS传感器工作原理主要表现为数字电荷传送的方式的不同CCD采用硅基半导体加工工艺，并设置了垂直和水平移位寄存器，电极所产生的电场推动电荷链接方式传输到模数转换器。而CMOS采用了无机半导体加工工艺，每像素设计了额外的电子电路，每个像素都可以被定位，无需CCD中那样的电荷移位设计，而且其对图像信息的读取速度远远高于CCD芯片，因光晕和拖尾等过度曝光而产生的非自然现象的发生频率要低得多，价格和功耗相较CCD光电转化器也低。但其非常明显的缺点，作为半导体工艺制作的像素单元缺陷多，灵敏度会有问题，为每个像素电子电路提供所需的额外空间不会作为光敏区，域而且CMOS芯片表面上的光敏区域部分小于CCD芯片。深圳高速AOI检测设备设备

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