扫描电子显微镜—JSM-IT800特性：JSM-IT800 整合了我们用于从高分辨率成像到快速元素分析的“浸没式肖特基 Plus 场发射电子枪”、创新的电子光学控制系统“Neo Engine”以及无缝 GUI 系统“SEM Center”，该系统采用一体化 JEOL X 射线能量色散谱仪 (EDS) 作为通用平台，进行快速元素分析。 JSM-IT800 允许物镜作为一个更换模块，提供不同的版本以满足各种用户需求。JSM-IT800 有五种版本，提供不同的物镜：混合型物镜 (HL)，这是一种通用 FE-SEM；超级混合物镜（SHL/SHLs，具有不同功能的两种版本），可实现更高分辨率的观察和分析；以及新开发的半浸没式物镜（i/is，具有不同功能的版本），适用于纳米材料、化学，粒度分析仪供应、新材料、半导体器件的观察和分析。 此外，JSM-IT800 还可以配备新型闪烁体背散射电子探测器 (SBED) 和多功能背散射电子探测器 (VBED)。SBED 支持以高响应性获取图像，即使在低加速电压下也能产生清晰的成分衬度，而 VBED 可以帮助获取 3D，粒度分析仪供应，粒度分析仪供应、形貌和成分衬度的图像。因此，JSM-IT800 可以帮助用户获取丰富多样德 信息并解决测量中的问题。扫描电镜批发就找四川沃顿科技有限公司。粒度分析仪供应

气相色谱仪—NexisGC-2030特点：1、可根据分析工作的需要，从5种进样单元、7种检测单元中灵活选择系统配置方案，而且支持毛细管柱和填充柱分析。一套GC满足您的个性化分析需求，节省实验室空间。使用LabSolutions可同时控制4个检测器进行数据采集。2、氢气作载气进行快速分析：氢气容易达到较高的线速度水平，从而实现更好的分离，而且氢气在进样口压力波动上比复气更小，因此氢气对高速分析来说是一种理想的载气选择。NexisGC-2030可内置氢气传感器，通过对潜在泄漏的及早发现来保证使用安全，同时可以在氢气泄漏时主动关闭主机电源避免发生事故。四川沃顿科技有限公司氧氮氢分析仪厂家有哪些成都电子探针批发就找四川沃顿科技有限公司。

元素分析检测设备—EDX-7200原理：X射线管发出X射线照射样品，样品中所含的原子被激 发而产生原子特有的X射线。这种X射线被称为X射线 荧光。不同的元素波长（能量）不同。通过检测X射 线的波长，能够进行定性分析。X射线荧光的强度与 含量呈函数关系，检测元素特有的X射线的量值能够 进行定量分析。元素分析检测设备—EDX-7200原理：X射线管发出X射线照射样品，样品中所含的原子被激 发而产生原子特有的X射线。这种X射线被称为X射线 荧光。不同的元素波长（能量）不同。通过检测X射 线的波长，能够进行定性分析。X射线荧光的强度与 含量呈函数关系，检测元素特有的X射线的量值能够 进行定量分析。

扫描电子显微镜—JSM-IT800特点：1、利用AI功能，整合LIVE-AI Filter以实现更高质量的实时图像。与图像集成处理不同，这样可以显示无残留图像的无缝移动实时图像。这一独特功能对于快速搜索观察区域、聚焦和像散调整非常有效。2、JSM-IT800 系列了提供多种物镜可供选择，以满足用户的多种需求。 HL 版本和 SHL 版本（包括 SHLs 版本）配备了电磁/静电场叠加物镜。可以对从金属到纳米材料的各种样本进行高分辨率观察和分析，特别适用于磁性材料的观察和分析，例如 EBSD 分析。 i 版本和 is 版本都配备了半浸没式物镜，非常适合对倾斜和横截面样本进行高分辨率观察和分析，这是半导体器件故障分析的必备要素。此外，它还适用于使用高位透镜内电子探测器 (UID) 进行观察。3、SHL物镜里标配高位检测器，可高效检测样本中的电子，从而获得高S/N的图像。四川电感耦合等离子质谱仪批发就找四川沃顿科技有限公司。

气相色谱仪—Nexis GC-2030：Nexis GC-2030满足高精度分析工作要求。搭配岛津全新AOC-30系列液体自动进样器，可降低分析人员的重复操作负担，实现手动进样难以达到的高精度分析，避免不同分析人员之间的操作误差。同时采用的新一代先进流量控制器AFC，可实现恒线速度控制、恒流控制、恒压控制以及其他多种载气控制模式，从而实现超快速和高精度控制模式的重现。气相色谱仪—Nexis GC-2030：Nexis GC-2030满足高精度分析工作要求。搭配岛津全新AOC-30系列液体自动进样器，可降低分析人员的重复操作负担，实现手动进样难以达到的高精度分析，避免不同分析人员之间的操作误差。同时采用的新一代先进流量控制器AFC，可实现恒线速度控制、恒流控制、恒压控制以及其他多种载气控制模式，从而实现超快速和高精度控制模式的重现。X射线衍射仪批发就找四川沃顿科技有限公司。四川透射电镜总代理

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元素分析检测设备—JEM-JEM-F200特点：1、外观设计精炼：精炼的外型，全新的视觉感受。为分析型电镜全新设计的GUI，使操作更加直观方便。JEOL长年积累的丰富经验在设计上得到了充分的体现，与旧机型相比，电镜的机械性和电气稳定性都得到了很大的提高。2、四级聚光镜系统：现在的电子显微镜需要支持范围的成像技术---从明场/暗场的TEM成像到使用各种检测器的STEM技术。该设备采用新型四级聚光镜照射光学系统-“Quad-Lenscondensersystem”，通过分别控制电子束强度和汇聚角，能满足各种研究的需求。3、扫描系统：JEM-F200可以实现大视野的STEM-EELS分析，该设备在常规的照明系统的电子束扫描功能之上，增加了新的扫描系统-“AdvancedScanSystem”即成像系统的电子束扫描功能（选配）。粒度分析仪供应

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