cp测试和ft测试的区别

1）因为封装本身可能影响芯片的良率和特性，所以芯片所有可测测试项目都是必须在FT阶段测试一遍的，而CP阶段则是可选。

2）CP阶段原则上只测一些基本的DC，低速数字电路的功能，以及其它一些容易测试或者必须测试的项目。凡是在FT阶段可以测试，在CP阶段难于测试的项目，能不测就尽量不测。一些类似ADC的测试，在CP阶段可以只给几个DC电平，确认ADC能够基本工作。在FT阶段再确认具体的SNR/THD等指标。

3）由于CP阶段的测试精度往往不够准确，可以适当放宽测试判断标准，只做初步筛选。精细严格的测试放到FT阶段。

4）如果封装成本不大，且芯片本身良率已经比较高。可以考虑不做CP测试，或者CP阶段只做抽样测试，监督工艺。

5）新的产品导入量产，应该先完成FT测试程序的开发核导入。在产品量产初期，FT远远比CP重要。等产品逐渐上量以后，可以再根据FT的实际情况，制定和开发CP测试。了解了它们之间的不同，我们还可以根据测试项目的不同和重复内容等因素，在具体测试项目中进行判断和取舍了，龙华区MCU IC测烧。毕竟增加一个复杂的高速或高精度模拟测试，不仅会增加治具的成本，龙华区MCU IC测烧，还会增加测试机台的费率和延长测试时间，龙华区MCU IC测烧，影响出产成果。 主要客户群体是：芯片原厂、IC方案公司，智能终端，元器件，显示器件等。龙华区MCU IC测烧

耐久性测试项目（Endurancetestitems）包含哪些测试？

1、周期耐久性测试（EnduranceCyclingTest）目的：评估非挥发性memory器件在多次读写算后的持久性能测试方法：将数据写入memory的存储单元，在擦除数据，重复这个过程多次测试条件：室温，或者更高，每个数据的读写次数达到100k~1000k具体的测试条件和估算结果可参考以下标准：MIT-STD-883EMethod1033

2、数据保持力测试（DataRetentionTest）目的：在重复读写之后加速非挥发性memory器件存储节点的电荷损失测试方法：在高温条件下将数据写入memory存储单元后，多次读取验证单元中的数据测试条件：150℃ 龙华区IC测烧供应商烧录过程在此处被称为编程，在某些地方也被称为IC复制。

IC芯片可靠性测试包含哪些？

主要针对芯片施加各种苛刻环境，比如ESD静电，就是模拟人体或者模拟工业体去给芯片加瞬间大电压。再比如HTOL的测试座，高温工作寿命测试，即利用高温，电压加速的方式，在一定时间内通过加速测试，来预估这个电子器件在未来长时间内的正常工作寿命。HTOL 测试

1、采用开模Socket+探针的结构，精度高，测试稳定，同时 IC 较大降低设计、加工成本，降低了使用费用 

2、根据实际测试情况，选用不同探针，可以对IC进行有锡球 PAD尖头无锡球不同测试

3、外带散热片解决高功率元器件散热问题 

4、安装方便，无需焊接，有Open-top/翻盖结构，适合手动/自动操作

在晶圆测试后，将好的芯片在晶圆上标记出来（又叫bluetape），然后切割成一个一个单独的芯片，将这些一个一个的芯片封装成黑盒子，也就是这个样子。然后我们将封装好的芯片，分别装进ICsocket中，然后再将socket装进一个board中，其中，这又涉及到一些新概念。

首先我们要知道，在FT测试中是不需要probecard的。那该怎么测试呢？在封装完之后得到上面图形的芯片。可以看到，上面有很多银色的金属引脚，这个时候用CP端的probecard肯定是不行了，比较好的办法就是找一个IC插座，懂行的也称之为IC测试座，将这些带引脚的芯片放在IC测试座子里，然后给插座供电就可以测试了啊，这个插座就叫做Icsocket，所以直接在socket上加电压，电流就可以了。

到这里还有一个问题，就是这样一个一个测试太慢了，比较好是把这些socket都放在一起。然后测试效率就有效升高。所以我们把这些socket都放在一个板子上，这个板子就叫做board。那socket和board是什么关系呢？在测试的时候，将board放到测试机台上，测试机台将需要的电压电流加到board上的接口，然后再通过board上的电路，将这些电压电流加到socket上，socket再把电压电流加到芯片上。这就是FT测试的大概流程。 批量烧录,选择优普士,专注IC烧录测试 行业二十年！

为什么要进行芯片测试？

1、随着芯片的复杂度原来越高，芯片内部的模块越来越多，制造工艺也是越来越先进，对应的失效模式越来越多，而如何能完整有效地测试整个芯片，在设计过程中需要被考虑的比重越来越多。

2、设计、制造、甚至测试本身，都会带来一定的失效，如何保证设计处理的芯片达到设计目标，如何保证制造出来的芯片达到要求的良率，如何确保测试本身的质量和有效，从而提供给客户符合产品规范的、质量合格的产品，这些都要求必须在设计开始的时候就要考虑测试方案。

3、成本的考量。越早发现失效，越能减少无谓的浪费；设计和制造的冗余度越高，越能提供产品的良率；同时，如果能得到更多的有意义的测试数据，也能反过来提供给设计和制造端有用的信息，从而使得后者有效地分析失效模式，改善设计和制造良率。 IC测试治具的测试针是用于测试PCBA的一种探针。龙华区IC测烧供应商

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在线烧录是什么意思？主要用在哪一方面？

在线烧录:此方式在SMT生产过程中通常被叫做-先焊后烧。是指将未烧录的芯片先焊接在产品PCB上，然后通过PCB预留的连接器或接口，将下载调试工具连接到芯片本身的各种通讯接口，如USB、SWD、JTAG、UART等,运行**的软件，将数据烧录到IC中。这种方式受限于接口本身的性能，烧录速度有快有慢，如果使用的是SWD或者JTAG方式，烧录速度与离线差不多，如果是通过UART之类的，受频率影响，烧录速度相对较慢。在线烧录受设备功能和烧录方式的影响，单位时间产能低，追求产能时只能靠增加人力来完成，适合试验阶段或小批量的生产。 龙华区MCU IC测烧

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