芯片融合时代：测试也要“上天”过去简单的电子技术就可以满足的需求，如今可能需要人工智能、机器学习、无人驾驶、医疗仪器、基础设施扩建等多元覆盖实现。终端应用领域对于半导体技术的要求亦呈指数增长。因此，半导体元器件必须具备极高的可靠性，半导体测试设备对于供应链的价值也由此变得更加重要。对应迅速更新迭代的智能世界，先进制程升级要求半导体检测技术快速迭代，因而对于ATE机台来说，平台通用化、模块化、灵活性高、可升级是未来技术发展的大趋势，深圳自动化芯片测试流程。系统级测试（SLT，systemleveltest），深圳自动化芯片测试流程、大数据分析、ATPG编程自动化等，深圳自动化芯片测试流程，都是测试领域应对未来半导体市场发展面临的挑战，这需要测试设备厂商有超前的技术眼光，随时跟进市场需求公司拥有配套齐全的测试烧录机。深圳自动化芯片测试流程

    老化测试的目的：是预测产品的使用寿命，为生产商评估或预测试所生产的产品耐用性的好坏;当下半导体技术的快速发展和芯片复杂度的逐年提高,芯片测试已贯穿于整个设计研发与生产过程,并越来越具有挑战性.老化测试是芯片在交付客户使用之前用以剔除早期失效产品的一项重要测试.为了避免反复焊接,不同封装类型的芯片在老化测试中由特制的老化测试座固定在老化板上测试验证.以保证卖给用户的产品是可靠的或者是问题少的;老化测试分为元器件老化和整机老化，尤其是新产品。在考核新的元器件和整机的性能，老化指标更高。那么测试只是老化座众多功能中的一种,老化座，除了可用做测试外,还考虑其他参数。测试一般是指常温下,但老化，通常需要考虑高温，低温,湿度,盐度下的测試和長时间测试时的散热效果。塑胶耐多大温度不变形或燃烧!老化座可进行恶劣环境测试的座子。老化座决定某一个芯片被设计后，是否能面世。 深圳芯片测试厂家电话使用标准化的流程管控，以确认快捷的生产周期及品质。

简单说一下芯片CP/FT测试的基本概念理解：chipprobing基本原理是探针加信号激励给pad，然后测试功能。a.测试对象，wafer芯片，还未封装的。b.测试目的，筛选，然后决定是否封装。可以节省封装成本（MPW阶段，不需要；fullmask量产阶段，才有节省成本的意义）。c.需要保证：基本功能成功即可，主要是机台测试成本高。高速信号不可能，较大支持100~400Mbps；高精度的也不行。总之，通常CP测试，只用于基本的连接测试和低速的数字电路测试。finaltesta.测试对象，封装后的芯片；b.测试目的，筛选，然后决定芯片可用做产品卖给客户。c.需要保证：spec指明的全部功能都要验证到。

IC产业继续高度细化分工，芯片测试走向专业化也必定是大势所趋。首先，IC制程演进和工艺日趋复杂化，制程过程中的参数控制和缺陷检测等要求越来越高，IC测试专业化的需求提升；其次，芯片设计趋向于多样化和定制化，对应的测试方案也多样化，对测试的人才和经验要求提升，则测试外包有利于降低中小企业的负担，增加效率。此外，专业测试在成本上具有一定优势。目前测试设备以进口为主，单机价值高达30万美元到100万美元不等，重资产行业特征明显，资本投入巨大，第三方测试公司专业化和规模化优势明显，测试产品多元化加速测试方案迭代，源源不断的订单保证产能利用率。因此，除Fabless企业外，原有IDM、晶圆制造、封装厂出于成本的考虑倾向于将测试部分交由第三方测试企业。拥有各类芯片烧录+测试能力。

1）随着集成电路应用越趋于广，需求量越来越大，对测试成本要求越来越高，因此对测试机的测试速度要求越来越高（如源的响应速度要求达到微秒级）；

2）由于集成电路参数项目越来越多，如电压、电流、时间、温度、电阻、电容、频率、脉宽、占空比等，对测试机功能模块的需求越来越多；

3）状态、测试参数监控、生产质量数据分析等方面，结合大数据的应用，对测试机的数据存储、采集、分析方面提出了较高的要求。

4）客户对集成电路测试精度要求越来越高（微伏、微安级精度），如对测试机钳位精度要求从1%提升至0.25%、时间测量精度提高到微秒级，对测试机测试精度要求越趋严格；

5）集成电路产品门类的增加，要求测试设备具备通用化软件开发平台，方便客户进行二次应用程序开发，以适应不同产品的测试需求；测试设备供应商对设备 芯片测试为客户提供一站式服务。深圳Flash芯片测试设备厂家

芯片测试的过程是将封装后的芯片置于各种环境下测试其电气特性。深圳自动化芯片测试流程

芯片测试绝不是一个简单的鸡蛋里挑石头，不只是“挑剔”“严苛”就可以，还需要全流程的控制与参与。从芯片设计开始，就应考虑到如何测试，是否应添加DFT【DesignforTest】设计，是否可以通过设计功能自测试【FuncBIST】减少对外围电路和测试设备的依赖。在芯片开启验证的时候，就应考虑末端出具的测试向量，应把验证的TestBench按照基于周期【Cyclebase】的方式来写，这样生成的向量也更容易转换和避免数据遗漏等等。在芯片流片Tapout阶段，芯片测试的方案就应制定完毕，ATE测试的程序开发与CP/FT硬件制作同步执行，确保芯片从晶圆产线下来就开启调试，把芯片开发周期极大的缩短。后进入量产阶段测试就更重要了，如何去监督控制测试良率，如何应对客诉和PPM低的情况，如何持续的优化测试流程，提升测试程序效率，缩减测试时间，降低测试成本等。所以说芯片测试不只是成本的问题，其实是质量+效率+成本的平衡艺术！深圳自动化芯片测试流程

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