本申请还提供具有上述基板结构的半导体晶圆,以及制作上述基板结构的晶圆制造方法。根据本申请的方案,提供具有边框结构的基板结构、半导体晶圆、以及晶圆制作方法。根据本申请的一方案,提供一种承载半导体组件的基板结构,其特征在于,包含:一晶圆层,具有相对应的一***表面与一第二表面,重庆半导体晶圆代工,其中该第二表面具有向该***表面凹陷的一中心凹陷区域,该中心凹陷区域位于该第二表面当中,使得该晶圆层的一边框结构区域环绕在该第二表面周围;以及一金属层,具有相对应的一第三表面与一第四表面,该第三表面完全贴合于该第二表面。进一步的,为了弥补较薄晶圆层的结构强度,其中该第二表面更包含具有向该***表面凹陷的一***环状凹陷区域,该***环状凹陷区域与该中心凹陷区域位于该第二表面当中,使得该晶圆层在该***环状凹陷区域与该中心凹陷区域之间形成环状的一***内框结构区域。进一步的,重庆半导体晶圆代工,为了更弥补较薄晶圆层的结构强度,其中该第二表面更具有向该***表面凹陷的第二环状凹陷区域,重庆半导体晶圆代工,该第二环状凹陷区域位于该第二表面当中,使得该晶圆层在该第二环状凹陷区域与该中心凹陷区域之间形成环状的一第二内框结构区域,该***环状凹陷区域完全包含环状的该***内框结构区域。晶圆的基本工艺有哪些?重庆半导体晶圆代工
也不限定这些芯片采用同一种剖面设计,更不限定使用同一种基板结构。在执行晶圆级芯片封装时,可以根据同一片晶圆上所欲切割的芯片的设计,来对该片晶圆执行特定的制程。请参考图15所示,其为根据本申请一实施例的晶圆制作方法1500的前列程示意图。图15所示的晶圆制作方法1500可以是晶圆级芯片封装方法的一部分。该晶圆级芯片封装方法可以是先在一整片晶圆上进行制作、封装与测试,然后经切割后,再将芯片放置到个别印刷电路板的过程。本申请所欲保护的部分之一是在封装测试之前,针对于基板结构的制作方法。当然本申请也想要保护一整套的晶圆级芯片封装方法。图15的晶圆制作方法1500所作出的芯片,可以包含图3~14所述的各种基板结构与剖面。请再参考图16a~16j,其为根据本申请实施例的晶圆制作过程的各阶段的剖面示意图。图16a~16j的各图是针对晶圆当中的某一个芯片来绘制。在说明图15的各步骤时,可以参考图16a~16j的各图。本领域普通技术人员可以理解到虽然图16a~16j是针对一个芯片的剖面进行绘制,但可以根据晶圆的设计,普遍地适用于整个晶圆。另外,在图16a~16j当中,主要是针对基板结构1000来绘制。但本领域普通技术人员可以理解到。重庆半导体晶圆代工半导体晶圆价格信息。
揭示了根据本发明的一个实施例的使用超声波或兆声波装置的晶圆清洗装置。图1a揭示了晶圆清洗装置的剖视图。该装置包括用于保持晶圆1010的晶圆卡盘1014,用于驱动晶圆卡盘1014的转动驱动装置1016,用于输送清洗液1032至晶圆1010表面的喷头1012。清洗液1032可以是化学试剂或去离子水。晶圆清洗装置还包括位于晶圆1010上方的超声波或兆声波装置1003,因此,随着晶圆1010的旋转以及从喷头1012内喷出的恒定流量的清洗液1032,在晶圆1010和声波装置1003之间保持具有厚度d的清洗液1032液膜。声波装置1003进一步包括压电式传感器1004及与其配对的声学共振器1008。压电式传感器1004通电后振动,声学共振器1008会将高频声能量传递到清洗液1032中。由高频声能引起气穴振荡使得晶圆1010表面上的杂质颗粒,也就是污染物等松动,以此去除晶圆1010表面上的污染物。再次参考图1a所示,晶圆清洗装置还包括与声波装置1003相连接的臂1007以在竖直方向z上移动声波装置1003,从而改变液膜厚度d。竖直驱动装置1006驱动臂1007的竖直移动。竖直驱动装置1006和转动驱动装置1016都由控制器1088控制。参考图1b所示,揭示了图1a所示的晶圆清洗装置的顶视图。声波装置1003*覆盖晶圆1010的一小部分区域。
ticuni)、钛合金、钒镍合金、银合金、镍合金、铜合金、纯钴,也可以包含铝、钛、镍、银、镍、铜各种金属的合金。如图16e所示的一实施例当中,步骤1550所作出的金属层的上表面,也就是第四表面,是一个平面。该第四表面和晶圆层的下表面,亦即***表面,应当是平行的。如图16f所示的一实施例当中,基板结构的金属层1010可以更包含两个金属子层1011与1012。这两个金属子层1011与1012的材质可以相同,也可以不同。金属子层1011的形状与第二表面8222相应。金属子层1012的形状与金属子层1011相应。制作金属子层1011的工法可以和制作金属子层1012的工法相同,也可以不同。图16f所示的实施例的一种变化当中,也可以只包含一层金属层1010,其形状与第二表面822相应。如图16g所示的一实施例当中,基板结构可以包含两个金属子层1011与1012。金属子层1011的形状与第二表面822相应。金属子层1012的下表面与金属子层1011的上表面相应,但金属子层1012的上表面,也就是第四表面,是一个平面。该第四表面和晶圆层的下表面,亦即***表面,应当是平行的。虽然在图16f与16g的实施例只示出两个金属子层1011与1012,但本领域普通技术人员可以理解到步骤1550可以制作出包含更多金属子层的金属层。半导体晶圆研磨设备。
为了尽可能地利用晶圆的面积来制作不同芯片,其中该半导体晶圆当中预定切割出一第二芯片区域,包含如该***芯片区域相同的该基板结构,该***芯片区域与该第二芯片区域的形状不同。在一实施例中,为了使用晶圆级芯片制造技术来加速具有上述基板结构的芯片制作,其中该半导体晶圆当中预定切割出多个芯片区域,该多个芯片区域当中的每一个都包含如该***芯片区域相同的该基板结构,该多个芯片区域当中的每一个芯片区域和该***芯片区域的形状都相同。根据本申请的一实施例,提供一种晶圆制造方法,其特征在于,包含:据所欲切割的多个芯片区域的大小与图样,在一晶圆层的一第二表面上涂布屏蔽层,在该多个芯片区域其中的一***芯片区域,包含该屏蔽层未覆盖的一中心凹陷区域与该屏蔽层覆盖的一边框结构区域,该中心凹陷区域位于该边框结构区域当中,该边框结构区域环绕在该第二表面周围;蚀刻该中心凹陷区域的该晶圆层;去除该屏蔽层;以及在该第二表面上制造金属层。在一实施例中,为了弥补较薄晶圆层的结构强度,其中该***芯片区域更包含该屏蔽层未覆盖的一***环状凹陷区域与该屏蔽层覆盖的一***内框结构区域,该***环状凹陷区域包围该***内框结构区域。开封怎么样半导体晶圆?开封半导体晶圆产品介绍
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从而可使所述连接台35带动所述横条33绕圆弧方向左右晃动,当所述横条33沿圆弧方向向上移动时,所述第二齿牙34可与所述***齿牙38啮合,进而可带动上所述滑块47向左移动,则可使所述夹块49向左移动。另外,在一个实施例中,所述从动腔62的后侧开设有蜗轮腔69,所述旋转轴36向后延伸部分均伸入所述蜗轮腔69内,且其位于所述蜗轮腔69内的外周上均固设有蜗轮64,所述蜗轮腔69的左壁固设有***电机63,所述***电机63的右侧面动力连接设有蜗杆65,所述蜗杆65的右侧面与所述蜗轮腔69的右壁转动连接,所述蜗杆65与所述蜗轮64啮合,通过所述***电机63的运转,可使所述蜗杆65带动所述旋转轴36转动。另外,在一个实施例中,所述稳定机构102包括限制块39,所述横板41向右延伸部分伸出外界,且其右侧面固设有手拉块40,所述横板41内设有开口向上的限制腔42,所述从动腔62的上侧连通设有滑动腔43,所述滑动腔43与所述送料腔68连通,所述限制块39滑动设在所述滑动腔43的右壁上,所述限制块39向下滑动可插入所述限制腔42内,所述限制块39向下延伸部分贯穿所述送料腔68,并伸入所述从动腔62内,且其位于所述横条33上侧,所述第二齿牙34可与所述限制块39抵接,所述限制块39的顶面固设有拉杆45。重庆半导体晶圆代工
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