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packagetest是在芯片封装成成品之后进行的测试。由于芯片已经封装，所以不再需要无尘室环境，测试要求的条件大幅度降低。一般packagetest的设备也是各个厂商自己开发或定制的，通常包含测试各种电子或光学参数的传感器，但通常不使用探针探入芯片内部（多数芯片封装后也无法探入），而是直接从管脚连线进行测试。由于packagetest无法使用探针测试芯片内部，因此其测试范围受到限制，有很多指标无法在这一环节进行测试。但packagetest是Z终产品的测试，因此其测试合格即为Z终合格产品。 深圳高端定制芯片测试是什么意思芯片测试是必不可少的工段。

半导体探针在IC测试治具中起到什么作用：1、增强治具的耐用度IC测试探针的的设计使得其弹簧空间比常规探针的要大，所以能获得更长的寿命。2、不间断电接触设计行程超过有效行程（2/3行程）或者一般行程时都能够保持较低的接触阻抗，消除因探针造成的假性开路造成的误判。3、提高了测试精度IC测试针因为更加精细，通常直径都是0.58mm以下，总长不超过6毫米，所以能够达到同规格产品更好的精细度。C测试冶具通用性高，只需更换颗粒限位框，即可测试尺寸不同的颗粒；采用超短进口双头探针设计，相比同类测试产品，可使IC和PCB之间的数据传输距离更短，从而保证测试结果更稳定，频率更高，DDR3系列比较高频率可达2000MHz

探针是IC测试治具中十分重要的一个部分，那麼IC测试治具中的探针首要起到了什麼作用呢？IC测试治具的测试针是用于测试PCBA的一种探针。外表镀金，外部有均匀寿命3万~10万次的高功能弹簧。材质主要有W、ReW、CU、A+等几品种型。W，ReW弹性普通，容易偏移，粘金屑，需要屡次的清洗，磨损损针长，寿命普通。而A+材质的免清针，这种材质弹性较好，测试中不容易偏移，并且不粘金屑，免清洗，因而寿命较长。IC测试治具的探针次要用于PCB板测试，次要可分爲弹簧针和通用针。弹簧针在运用时，需求依据IC测试治具所测试的PCB板的布线状况制造测试模具，且普通状况下，一个模具只能测试一种PCB板；通用针在运用时，只需有足够的点数即可，故如今很多厂家都在运用通用针；弹簧针依据运用状况又分爲PCB板探针、ICT探针、BGA探针，PCB板探针次要用于PCB板测试，ICT探针次要用于插件后的在线测试，BGA探针次要用于BGA封装的芯片测试。IC测试探针的选择起着至关重要的一部，优普士电子消费、研发的IC测试治具，探针均选用日本出口探针。保证客户测试功能稳定的同时，寿命也愈加长 从服务客户为理念,为客户提供芯片测试服务。

MCU(Micro Control Unit)芯片称为微控制单元,又称作单片机,是许多控制电路中的重要组成部分.MCU芯片的设计和制造的发展要依赖于芯片的测试,随着芯片可测试管脚数量的增多,芯片的功能也随之增多,芯片测试的复杂度和测试时间也随之增加.芯片测试系统从1965年至今已经历了四个阶段,目前的芯片测试系统无论在测试速度还是在可测试管脚数量方面都比以前有了很大提升,但是任何一个芯片测试系统也无法完全满足由于不断更新的芯片而引起的对测试任务不断更新的要求.设计安全性高,测试效率高,系统升级成本低的芯片测试系统是发展的方向。 秉持迅速、可靠、精细、专业的态度永续经营，以提供实时有效的服务为目标。深圳MCU芯片测试哪里好

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设计公司主要目标是根据市场需求来进行芯片研发，在整个设计过程中，需要一直考虑测试相关的问题，主要有下面几个原因：1）随着芯片的复杂度原来越高，芯片内部的模块越来越多，制造工艺也是越来越先进，对应的失效模式越来越多，而如何能完整有效地测试整个芯片，在设计过程中需要被考虑的比重越来越多。2）设计、制造、甚至测试本身，都会带来一定的失效，如何保证设计处理的芯片达到设计目标，如何保证制造出来的芯片达到要求的良率，如何确保测试本身的质量和有效，从而提供给客户符合产品规范的、质量合格的产品，这些都要求必须在设计开始的时候就要考虑测试方案。3）成本的考量。越早发现失效，越能减少无谓的浪费；设计和制造的冗余度越高，越能提供产品的良率；同时，如果能得到更多的有意义的测试数据，也能反过来提供给设计和制造端有用的信息，从而使得后者有效地分析失效模式，改善设计和制造良率。 深圳本地芯片测试诚信推荐

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