一般是从测试的对象上分为WAT、CP、FT三个阶段，WAT: Wafer Acceptance Test，是晶圆出厂前对testkey的测试。采用标准制程制作的晶圆，深圳大容量芯片测试哪里好，深圳大容量芯片测试哪里好，在芯片之间的划片道上会放上预先一些特殊的用于专门测试的图形叫testkey。CP:Circuit Probe，是封装前晶圆级别对芯片测试。这里就涉及到测试芯片的基本功能了。不同项目的失效，会分别以不同颜色表示出来。失效的项目反映的是芯片设计的问题。FT:Final test，封装完成后的测试，也是接近实际使用情况的测试，会测到比CP更多的项目，处理器的不同频率也是在这里分出来的。这里的失效反应封装工艺上产生的问题，比如芯片打线不好导致的开短路。秉持迅速、可靠、精细，深圳大容量芯片测试哪里好、专业的态度永续经营，以提供实时有效的服务为目标。深圳大容量芯片测试哪里好

芯片测试座，用于IC封装后的测试，主要包含有互相组配的一上盖板与一基座。上盖板的内部容设有通孔，以及在邻近前述的通孔附近设置有复数个测试探针，用以接触IC，各测试探针的内部容设有测试弹簧。基座的内部容设至少一承靠座，对应于上盖板的通孔，用以承载待测IC。承靠座下方与基座之间设有至少一承靠弹簧，并且通孔与承靠座之间的距离小于IC封装后的厚度，且承靠弹簧的弹性系数大于上述复数个测试弹簧的弹性系数的总和。使用IC测试座的好处：1)可避免待测IC于测试装置测试时因尺寸不合而被压损。2)可避免因测试装置与待测IC接触不良而造成测试失败。3)以提升测试良率及降制造成本。深圳本地芯片测试关注优普士电子（深圳）有限公司，带你了解更多芯片测+烧录服务。

芯片测试是一个比较大的问题，直接贯穿整个芯片设计与量产的过程中，首先芯片fail可以是下面几个点：

1.功能fail，某个功能点点没有实现，这往往是设计上导致的，通常是在设计阶段前仿真来对功能进行验证来保证，所以通常设计一块芯片，仿真验证会占用大约80%的时间。2.性能fail，某个性能指标要求没有过关，如2G的cpu只能跑到1.5G，数模转换器在要求的转换速度和带宽的条件下有效位数enob要达到12位，却只有10位，以及lna的noise figure指标不达标等等。这种问题通常是由两方面的问题导致的，一个是前期在设计系统时就没做足余量，一个就是物理实现版图太烂。这类问题通常是用后仿真来进行验证的。3.生产导致的fail。这个问题出现的原因就要提到单晶硅的生产了。学过半导体物理的都知道单晶硅是规整的面心立方结构，它有好几个晶向，通常我们生长单晶是是按照111晶向进行提拉生长。但是由于各种外界因素，比如温度，提拉速度，以及量子力学的各种随机性，导致生长过程中会出现错位，这个就称为缺陷。

缺陷产生还有一个原因就是离子注入导致的，即使退火也未能校正过来的非规整结构。这些存在于半导体中的问题，会导致器件的失效，进而影响整个芯片。所以就必须要进行芯片测试了。

对于芯片来说，有两种类型的测试，抽样测试和生产全测。抽样测试，比如设计过程中的验证测试，芯片可靠性测试，芯片特性测试等等，这些都是抽测，主要目的是为了验证芯片是否符合设计目标，比如验证测试就是从功能方面来验证是否符合设计目标，可靠性测试是确认z终芯片的寿命以及是否对环境有一定的鲁棒性，而特性测试测试验证设计的冗余度。而生产全测的测试，这种是需要100%全测的，这种测试就是把缺陷挑出来，分离坏品和好品的过程。在芯片的价值链中按照不同阶段又分成晶圆测试和Z终测试 芯片测试的过程是将封装后的芯片置于各种环境下测试其电气特性。

如何去分辨测试座是否是进口的？一般品牌进口的测试座在座子的表面都会有厂家品牌的标识。并且国内的测试座厂家是在自主生产测试座的时候一般是不会添加国外的标签。一般品牌进口的测试座在价格上是要比国产的价格要贵的。同型号的测试座，国内的测试座产品比国外进口的测试座在价格上是要便宜70%左右。一般品牌进口的测试座在使用的次数上也是要比国产的座子要多的多。国外进口的测试座测试的次数能够达到几万次，如果保养的比较好，使用次数可以更多。而国内的测试座在使用次数方面是远远达不到的。一般品牌进口的测试座在座子本身的材料上跟国产的座子是不一样的。这一点，一般的新手是不能凭感觉手感判断出来的。只有多年的老手，接触进口测试座比较多的才能判断出来OPS助力中国芯科技之发展，赋能于半导体产业的专业化测试、烧录服务。深圳大容量芯片测试哪里好

芯片测试是指在芯片生产出来之后利用ATE对芯片功能进行的一种物理检查。深圳大容量芯片测试哪里好

芯片测试座的三大作用：芯片测试座检查在线的单个元器件以和各电路网络的开、短路情况，具有操作简单、故障定位准确，快捷迅速等特点。简单点描述就是一个连接导通的插座;

作用一：来料检测，采购回来的IC在使用前有时会进行品质检验，找出不良品，从而提高SMT的良品率。IC的品质光凭肉眼是看不出来的，必须通过加电检测，用常用的方法检测IC的电流、电压、电感、电阻、电容也不能完全判断IC的好坏;通过IC测试夹具应用功能跑程序，可以判断IC的好坏。

作用二：返修检测，有时生产过程中主板出了问题，倒底是哪里出了问题?不好判断!有了IC测试治具什么都好说，把拆下的IC放到测试座内通过测试就能排除是否IC方面的原因。

作用三：IC分检，返修的IC，在拆下的过程有可能损坏，用IC测试治具可以将坏的IC分检出来，可以节省很多人力、物力，从而减小各项成本。拿BGA封装的IC来说，如果IC没有分检，坏的IC贴上经过FCT测试检查出来后，把IC拆下来，要烘烤、清洗，很麻烦，还有可能损坏相关器件。用IC测试夹具检测就可以大减少出现上述问题的机率。​
深圳大容量芯片测试哪里好

免责声明： 本页面所展现的信息及其他相关推荐信息，均来源于其对应的用户，本网对此不承担任何保证责任。如涉及作品内容、 版权和其他问题，请及时与本网联系，我们将核实后进行删除，本网站对此声明具有最终解释权。