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辽宁半导体晶圆10寸 昆山创米半导体供应

信息介绍 / Information introduction

    提供具有边框结构的基板结构、半导体晶圆、以及晶圆制作方法。根据本申请的一实施例,提供一种承载半导体组件的基板结构,其特征在于,包含:一晶圆层,具有相对应的一***表面与一第二表面,其中该第二表面具有向该***表面凹陷的一中心凹陷区域,该中心凹陷区域位于该第二表面当中,使得该晶圆层的一边框结构区域环绕在该第二表面周围;以及一金属层,具有相对应的一第三表面与一第四表面,该第三表面完全贴合于该第二表面。在一实施例中,辽宁半导体晶圆10寸,为了弥补较薄晶圆层的结构强度,其中该第二表面更包含具有向该***表面凹陷的一***环状凹陷区域,该***环状凹陷区域与该中心凹陷区域位于该第二表面当中,辽宁半导体晶圆10寸,使得该晶圆层在该***环状凹陷区域与该中心凹陷区域之间形成环状的一***内框结构区域。在一特定实施例中,为了更弥补较薄晶圆层的结构强度,辽宁半导体晶圆10寸,其中该第二表面更具有向该***表面凹陷的第二环状凹陷区域,该第二环状凹陷区域位于该第二表面当中,使得该晶圆层在该第二环状凹陷区域与该中心凹陷区域之间形成环状的一第二内框结构区域,该***环状凹陷区域完全包含环状的该***内框结构区域,该***内框结构区域完全包围该第二环状凹陷区域,该第二环状凹陷区域完全包围该第二内框结构区域。半导体晶圆推荐咨询??辽宁半导体晶圆10寸

    在清洗过程中晶圆24010浸没在清洗液24070中。在上述实施例中,在晶圆清洗工艺中,如果声波电源的所有关键工艺参数,例如功率水平、频率、通电时间(τ1)、断电时间(τ2)都预设在电源控制器中,而不是实时监测,在晶圆清洗过程中,由于一些异常情况,仍然可能发生图案结构损伤。因此,需要一种实时监测声波电源工作状态的装置和方法,如果参数不在正常范围,则声波电源应该关闭且需要发出警报信号并报告。图25揭示了本发明的一实施例的使用超声波或兆声波清洗晶圆过程中监测声波电源运行参数的控制系统。该控制系统包括主机25080、声波发生器25082、声波换能器1003、检测电路25086和通信电缆25088。主机25080发送声波的参数设定值到声波发生器25082,例如功率设定值p1、通电时间设定值τ1、功率设定值p2、断电时间设定值τ2、频率设定值和控制指令,例如电源开启指令。声波发生器25082在接收到上述指令后产生声波波形,并发送声波波形到声波换能器1003来清洗晶圆1010。同时,主机25080发送的参数设定值和声波发生器25082的输出值被检测电路25086读取。检测电路25086将声波发生器25082的输出值和主机25080发送的参数设定值进行比较后。洛阳半导体晶圆价格优惠半导体晶圆研磨设备。

    结构500所包含的该金属层510的第四表面514并不是像该结构400所包含的该金属层310的第四表面314一样是平面。第四表面514的剖面相应于该金属层的第三表面513的剖面。该金属层510的第四表面514与该晶圆层320的***表面321的**短距离,要小于该金属层310的第四表面314与该晶圆层320的***表面321的**短距离。由于该结构500的金属层510的大部分比该结构400的金属层310的大部分较薄,因此可以节省金属本身的成本,也可以节省制作该金属层510的步骤的成本。请参考图5b所示,其为根据本申请一实施例的半导体基板的结构500的剖面示意图。图5b所示的实施例是图5a所示实施例的一种变形。和图5a的金属层510相比,图5b所示实施例的金属层510比较厚。图5b所示实施例的其余特征均与图5a所示实施例相同。请参考图6所示,为根据本申请一实施例的半导体基板的结构的剖面600的一示意图。该结构的剖面600可以是图3所示结构300的aa线剖面,也可以是图4所示结构400的aa线剖面,还可以是图5b所示结构500的bb线剖面。为了方便说明起见,图6所示的实施例是图3所示的结构300,因此使用了金属层310与晶圆层320的符号。但本领域普通技术人员可以理解到,剖面600可以适用于结构400或500。

    或者,可能不需要在每个周期内检查清洁度,取而代之的是,使用的周期数可能是预先用样品晶圆通过经验确定。在一些实施例中,本发明中以各种图形描述的晶圆清洗过程可以组合以产生期望的清洗结果。在一个实施例中,如图34所示的步骤34030中的振幅检测可以并入如图33所示的晶圆清洗工艺中。在另一个实施例中,图26所示的电压衰减电路26090及整形电路26092与图27所示的振幅检测电路27092可以应用到图33及图34所示的晶圆清洗工艺中。本发明揭示了利用超声波或兆声波清洗半导体基板的装置,包括卡盘、超声波或兆声波装置、至少一个喷头、超声波或兆声波电源、主机及检测电路。卡盘支撑半导体基板。超声波或兆声波装置设置在半导体基板附近。至少一个喷头向半导体基板以及半导体基板与超声波或兆声波装置之间的空隙中喷洒化学液。主机设置超声波或兆声波电源以频率f1、功率p1驱动超声波或兆声波装置,在液体中的气泡气穴振荡损伤半导体基板上的图案结构之前,将超声波或兆声波电源的输出设为零,待气泡内的温度下降到设定温度后,再次设置超声波或兆声波电源的频率为f1,功率为p1。检测电路分别检测频率为f1,功率为p1时的通电时间和断电时间,将在频率为f1。半导体晶圆定制价格?

    所述有机胺为二乙烯三胺、五甲基二乙烯三胺、多乙烯多胺、乙胺、二乙胺、三乙胺、三丙胺,N,N-二甲基乙醇胺、N,N-甲基乙基乙醇胺、N-甲基二乙醇胺和三乙醇胺一种或多种。所述有机羧酸选自丙二酸、草酸、乙二胺四乙酸盐和柠檬酸中的一种或者多种。所述胍类为四甲基胍、碳酸胍、醋酸胍、3-胍基丙酸、聚六亚甲基胍和对胍基苯甲酸。所述清洗液的pH值为2~5。与现有技术相比,本发明的有益效果是:本发明的清洗液能有效***金属污染物的残留问题,同时对金属和非金属的腐蚀速率较小,有效改善了一般氟类清洗液不能同时控制金属和非金属腐蚀速率的问题,提高化学清洗质量;对残留物的清洗时间明显缩短,效率提高;由于不存在强氧化剂,清洗液放置稳定,使用安全。具体实施方式下面将结合本发明实施例,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例**是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。实施例1一种用于半导体晶圆等离子蚀刻残留物的清洗液。进口半导体晶圆的优势?西安半导体晶圆服务至上

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    无法有效去除被困在通孔或槽内的颗粒、残留物和其他杂质。但如图20a所示,在时间τ2内关闭超/兆声波电源以冷却气泡,由于气泡缩小,这种状态将更替到下一个状态。在冷却状态下,新鲜清洗液有机会进入到通孔或槽内以便清洗其底部和侧壁。当超/兆声波电源在下一个打开周期打开时,颗粒、残留物和其他杂质受到气泡体积增量产生的外拉力移出通孔或槽。如果在清洗过程中这两个状态交替进行,可以达到使用超声波/兆声波有效清洗具有高深宽比的通孔,槽或凹进区域的晶圆的目的。时间段τ2内的冷却状态在清洗过程中起到关键作用,且需要在τ1<τi的条件下限制气泡尺寸。以下用实验方法可以确定时间段τ2以在冷却状态下缩小气泡尺寸,以及时间段τ1以限制气泡膨胀到堵塞尺寸。实验使用超/兆声波装置结合清洗液来清洗具有通孔和槽等微小特征的图案化晶圆,存在可追踪的残留物以评估清洗效果。***步是选择足够大的τ1以堵塞图案结构,可以像基于方程式(20)计算τi那样计算出τ1;第二步是选择不同的时间τ2运行doe,选择的时间τ2至少是10倍的τ1,***屏测试时**好是100倍的τ1;第三步是确定时间τ1和功率p0,分别以至少五种条件清洗特定的图案结构晶圆,此处,p0为运行连续模式。辽宁半导体晶圆10寸

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