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江苏奥林巴斯XRD公司哪家好 上海泽权仪器设备供应

信息介绍 / Information introduction

衍射仪,即X射线衍射仪;特征X射线及其衍射X射线是一种波长(0.06-20nm)很短的电磁波,能穿透一定厚度的物质,江苏奥林巴斯XRD公司哪家好,并能使荧光物质发光、照相机乳胶感光、气体电离。用高能电子束轰击金属靶产生X射线,它具有靶中元素相对应的特定波长,称为特征X射线。如铜靶对应的X射线波长为0.154056 nm。 x射线的波长和晶体内部原子面之间的间距相近,晶体可以作为X射线的空间衍射光栅,即一束X射线照射到物体上时,受到物体中原子的散射,每个原子都产生散射波,江苏奥林巴斯XRD公司哪家好,这些波互相干涉,江苏奥林巴斯XRD公司哪家好,结果就产生衍射。衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强,在其他方向上减弱。分析衍射结果,便可获得晶体结构。以上是1912年德国物理学家劳厄(M.von Laue)提出的一个重要科学预见,随即被实验所证实。1913年,英国物理学家布拉格父子(W.H.Bragg,W.L.Bragg)在劳厄发现的基础上,不只成功的测定了NaCl,KCl等晶体结构,还提出了作为晶体衍射基础的有名公式——布拉格方程:2dsinθ=nλ。X射线衍射仪是利用X射线衍射法对物质进行非破坏性分析的仪器。江苏奥林巴斯XRD公司哪家好

用x射线照射固体时,由于光电效应,原子的某一能级的电子被击出物体之外,此电子称为光电子。如果x射线光子的能量为hν,电子在该能级上的结合能为eb,射出固体后的动能为ec,则它们之间的关系为: hν=eb+ec+ws 式中ws为功函数,它表示固体中的束缚电子除克服各别原子核对它的吸引外,还必须克服整个晶体对它的吸引才能逸出样品表面,即电子逸出表面所做的功。上式可另表示为: eb=hν-ec-ws 可见,当入射x射线能量一定后,若测出功函数和电子的动能,即可求出电子的结合能。由于只有表面处的光电子才能从固体中逸出,因而测得的电子结合能必然反应了表面化学成份的情况。这正是光电子能谱仪的基本测试原理。江苏奥林巴斯XRD公司哪家好X射线衍射即XRD,通过对材料进行X射线衍射。

X射线荧光光谱仪优缺点: 优点: a) 分析速度高。测定用时与测定精密度有关,但一般都很短,2~5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关,而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。(气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内,这种效应更为明显。波长变化用于化学位的测定 。c) 非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变,也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量,结果重现性好。d) X射线荧光分析是一种物理分析方法,所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。e) 分析精密度高。f) 制样简单,固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。缺点:a)难于作相对分析,故定量分析需要标样。 b)对轻元素的灵敏度要低一些。c)容易受相互元素干扰和叠加峰影响。

取向分析包括测定单晶取向和多晶的结构(如择优取向)。测定硅钢片的取向就是一例。另外,为研究金属的范性形变过程,如孪生、滑移、滑移面的转动等,也与取向的测定有关。晶粒(嵌镶块)大小和微观应力的测定由衍射花样的形状和强度可计算晶粒和微应力的大小。在形变和热处理过程中这两者有明显变化,它直接影响材料的性能。宏观应力的测定宏观残留应力的方向和大小,直接影响机器零件的使用寿命。利用测定点阵平面在不同方向上的间距的改变,可计算出残留应力的大小和方向。X射线衍射仪是利用衍射原理,精确测定物质的晶体结构。

进口X射线衍射仪的基本原理:X射线与物质作用时,就其能量转换而言,一般分为三部分,其中一部分被散射,一部分被吸收,一部分通过物质继续沿原来方向传播。散射的X射线与入射X射线波长相同时对晶体将产生衍射现象,即晶面间距产生的光程差等于波长的整数倍时。将每种晶体物质特有的衍射花样与标准衍射花样对比,利用三强峰原则,即可鉴定出样品中存在的物相。X-射线的产生是由在X-射线管(真空度10-4Pa)中有30-60KV的加速电子流,冲击金属靶面产生。常用的射线是MoKα射线,包括Kα1和Kα2两种射线(强度2:1),波长为71.073pm。分析电子衍射与x射线衍射有何区别?徐州衍射仪代理公司有哪些

组合式多功能X射线衍射仪和高分辨率X射线衍射仪普遍应用于各种材料结构分析的各个领域。江苏奥林巴斯XRD公司哪家好

X射线荧光光谱仪的原理是什么? X荧光光谱仪(XRF)由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后,仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。 近年来,X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展,已成为一种普遍应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域,特别是在RoHS检测领域应用得多也普遍。   大多数分析元素均可用其进行分析,可分析固体、粉末、熔珠、液体等样品,分析范围为Be到U。并且具有分析速度快、测量范围宽、干扰小的特点。江苏奥林巴斯XRD公司哪家好

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