从90年代末至今，近场微波成像已经引起了学者们的浓厚兴趣，但由于常规目标散射近场的复杂性，致使近场微波成像远远滞后于远场成像。近场微波成像中，深圳自动化辐射杂散解决方案，着眼于潜在的应用，目标函数既可以是理想导体目标的轮廓函数，也可以是目标介电常数的分布函数。从照射天线与成像目标的相对运动方式来看，近场微波成像有两种模式：即直线扫描模式和转台模式，研究方法可分为电磁逆散射法和球背向投影法（SphericalBackProjection，简写为SBP）。其中电磁逆散射法散射机理清晰，但数学公式复杂且有很大的局限性，深圳自动化辐射杂散解决方案，因而，深圳自动化辐射杂散解决方案，实际中使用较少；而球背向投影法在实际中使用较多。利用球背向投影法在直线扫描模式和转台模式情况下的目标函数解析公式已经给出。EMI辐射近场探头是用于配合频谱分析仪查找干扰源的设备。深圳自动化辐射杂散解决方案

可视化辐射抗扰度诊断分析系统—IS32整体介绍：带无线射频功能的电子产品，除了要解决常规EMC干扰问题外， 射频电路和天线与产品中各电路走线、功能组件、关键IC和元器件等 部件之间，也会发生电磁干扰问题。主要表现为射频相关信号干扰其 他部件，导致性能功能的下降或丧失。另外，由于产品布局布线、器 件选型不佳等原因，产品内一些器件在工作时产生的无意发射电磁噪 声也会干扰到射频电路和天线，导致射频灵敏度指标的下降，从而影 响产品的无线性能。以上两类问题的解决，必须要能够基于实际场景 评估干扰风险，准确分析关联器件和部件的辐射特性及射频抗扰度特 性。可视化辐射抗扰度诊断分析系统可用于对芯片、元器件、模组 件、FPC、PCBA等部件和整机进行近场辐射抗扰度故障模拟、自动化 测量、可视化呈现、是解决复杂电磁辐射抗扰度问题的有效工具。深圳吞吐量无线性能优势全部的辐射数据集从近场测量获得的辐射数据集中可获取3D空间中任何点的SPL。

车载导航产品的辐射干扰包含宽带干扰和窄带干扰。车载导航仪内的DC/DC变换器工作在脉冲状态下，本身就会产生很强的宽带干扰。而车载电子产品的主控芯片的速度在不断提高，时钟上升沿的振铃就会产生丰富的谐波窄带干扰。对这些车载导航仪的辐射干扰的整改，需要对其电磁辐射干扰进行准确定位，才能对症下药，针对干扰源和传输路径的不同特点，有的放矢地应用屏蔽、滤波、接地等对策方法来压制电磁辐射干扰。了解更多，欢迎来电咨询。

近场扫描测试能计入环境影响吗?近场测试是测的近场的表面电流,或者说很近的电磁场,然后再计算成远场的方向图,这显然是无法考虑附近金属体的影响的,其实近场测试只是对方向性高的阵列天线比较适用,到了边上的话计算出的场也是不准的,需要校准.我觉得如果你把金属考虑进去,一起测试比如一块大的ground,那也会是比较准确的。通过上述实施方式,其具有X、Y、Z及极化轴四轴运动能力,可以有效捕捉水平方向传播的波谱信息,能够容易地调整扫描架与待测设备之间的距离,自动化程度高,测试效率高。电源是EMI干扰噪声的主要来源，示波器的电源谐波分析在这类排查工作中很有潜力。

EMI认证机构通常按照EMI标准的准峰值检波进行测试，而EMI诊断中往往用峰值检波，两者不匹配，EMI诊断是否还有意义？由于EMI诊断的目的是为了找出EMI的根源，并不需要一定精确的测试，而是需要相对的重复性好的测试。准峰值检波用来检测信号包络加权后的峰值(准峰值)，它根据时长和重复率对信号加权。准峰值检波的平均过程需耗费时间，测试时间长，不利于日常诊断。由于准峰值检波测试幅度结果永远小于或等于峰值检波的测试结果，因此在进行EMI诊断时，用峰值检波可以快速发现EMI问题。电源是EMI干扰噪声的主要来源，示波器的电源谐波分析在这类排查工作中很有潜力。PCB近场扫描仪FLS106PCBset的目的是，方便近场探头检测电子元件组的磁场或电场。深圳自动化辐射杂散解决方案

（DC-9G）包括4个磁场探头和1个电场探头，所有探头均覆盖绝缘层。深圳自动化辐射杂散解决方案

辐射杂散快速测试系统— TS13整体介绍：辐射杂散性能是带有无线射频功能的电子产品的关键性能指标，并且，影响辐射杂散性能的因素特别复杂，在产品设计和生产阶段都需要保证辐射杂散方案性能的可靠性和一致性。标准全电波暗室测试方案成本高，测试时间长，不能满足研发阶段的快速分析测试及生产阶段的批量一致性抽检。辐射杂散快速测试系统，采用多天线、多角度快速切换测试，既保证了测试结果的准确性，又缩短了测试时间，提升了测试效率，并且在性能分析时可以快速定位杂散信号的方向。系统占用空间小，可便捷移动，可用于产品研发阶段辐射杂散问题分析及生产阶段的批量抽检。深圳自动化辐射杂散解决方案

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