确立IC芯片的实作方法，将不同功能分配成不同的单元，TI LM5164DDAR，并确立不同单元间连结的方法，如此便完成规格的制定。设计完规格后，接着就是设计芯片的细节了。这个步骤就像初步记下建筑的规画，将整体轮廓描绘出来，TI LM5164DDAR，方便后续制图。在IC芯片中，便是使用硬体描述语言（HDL）将电路描写出来，TI LM5164DDAR。常使用的HDL有Verilog、VHDL等，由程式码便可轻易地将一颗IC地功能表达出来。接着就是检查程式功能的正确性并持续修改，直到它满足期望的功能为止。金属溅镀：将欲使用的金属材料均匀洒在晶圆片上，形成一薄膜。IC芯片编写的诊断程序要严格有针对，能够让某些关键部位出现有规律的信号。TI LM5164DDAR

IC芯片对照法：找一块相同内容的好电脑板对照测量相应IC的引脚波型和其数来确认的IC是否损坏。用微机万用编程器（ALL－03／07）（EXPRO－80／100等）中的ICTEST软件测试IC。芯片拆卸方法：剪脚法：不伤板，不能再生利用。拖锡法：在IC脚两边上焊满锡，利用高温烙铁来回拖动，同时起出IC（易伤板，但可保全测试IC）。烧烤法：在酒精灯、煤气灶、电炉上烧烤，等板上锡溶化后起出IC（不易掌握）。锡锅法：在电炉上作专属锡锅，待锡溶化后，将板上要卸的IC浸入锡锅内，即可起出IC又不伤板，但设备不易制作。TI TPS22963CYZPRic芯片是比较拥有技术含量的芯片。

IC芯片外观检测的方法有三种：一是传统的手工检测方法，主要靠目测，手工分检，可靠性不高，检测效率较低，劳动强度大，检测缺陷有疏漏，无法适应大批量生产制造；二是基于激光测量技术的检测方法，该方法对设备的硬件要求较高，成本相应较高，设备故障率高，维护较为困难；三是基于机器视觉的检测方法，这种方法由于检测系统硬件易于集成和实现、检测速度快、检测精度高，而且使用维护较为简便，因此，在芯片外观检测领域的应用也越来越普遍，是IC芯片外观检测的一种发展趋势。

IC芯片是将大量的微电子元器件（晶体管、电阻、电容等）形成的集成电路放在一块塑基上，做成一块芯片。IC芯片包含晶圆芯片和封装芯片，相应IC芯片生产线由晶圆生产线和封装生产线两部分组成。（IC）芯片在封装工序之后，必须要经过严格地检测才能保证产品的质量，芯片外观检测是一项必不可少的重要环节，它直接影响到IC产品的质量及后续生产环节的顺利进行。然而一颗芯片相当小且薄，如果不在外施加保护，会被轻易的刮伤损坏。此外，因为芯片的尺寸微小，如果不用一个较大尺寸的外壳，将不易以人工安置在电路板上。对于多种工作方式的装置，如录像机，在不同工作方式下，IC芯片各引脚电压也是不同的。

IC芯片可靠性测试，芯片通过了功能与性能测试，得到了好的芯片，但是芯片会不会被冬天里讨厌的静电弄坏，在雷雨天、三伏天、风雪天能否正常工作，以及芯片能用一个月、一年还是十年等等，这些都要通过可靠性测试进行评估。板级测试，主要应用于功能测试，使用PCB板+芯片搭建一个“模拟”的芯片工作环境，把芯片的接口都引出，检测芯片的功能，或者在各种严苛环境下看芯片能否正常工作。需要应用的设备主要是仪器仪表，需要制作的主要是EVB评估板。晶圆CP测试，常应用于功能测试与性能测试中，了解芯片功能是否正常，以及筛掉芯片晶圆中的故障芯片。封装，IC芯片的防护与统整：经过漫长的流程，从设计到制造，终于获得一颗IC芯片了。TI INA193AQDBVRQ1

IC芯片在封装工序之后，必须要经过严格地检测才能保证产品的质量。TI LM5164DDAR

超大规模IC芯片：21世纪之后，尤其是2010年前后，很多电子产品使用的芯片都是超大规模的，这种芯片的集成度十分夸张，晶体管数量基本都在100万甚至达到千万，因此，它们的制程工艺都达到了20nm的级别，有的甚至能够达到10nm的级别，你很难想象在一块只有平方厘米的芯片上包含了上千万的晶体管和电路元件。芯片可以说是我们现代社会重要的科技元件，它能代表人类的智慧结晶和研究成果。未来社会在很长一段时间内，我们依然离不开芯片，因此，IC芯片还会继续发展下去，所以我们能够预见到，芯片必然还会朝着高集成度上继续发展，产生出性能更强、更加高科技的电子产品。TI LM5164DDAR

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