也不限定这些芯片采用同一种剖面设计，更不限定使用同一种基板结构。在执行晶圆级芯片封装时，可以根据同一片晶圆上所欲切割的芯片的设计，来对该片晶圆执行特定的制程。请参考图15所示，其为根据本申请一实施例的晶圆制作方法1500的前列程示意图。图15所示的晶圆制作方法1500可以是晶圆级芯片封装方法的一部分。该晶圆级芯片封装方法可以是先在一整片晶圆上进行制作、封装与测试，然后经切割后，再将芯片放置到个别印刷电路板的过程。本申请所欲保护的部分之一是在封装测试之前，针对于基板结构的制作方法。当然本申请也想要保护一整套的晶圆级芯片封装方法。图15的晶圆制作方法1500所作出的芯片，可以包含图3~14所述的各种基板结构与剖面。请再参考图16a~16j，其为根据本申请实施例的晶圆制作过程的各阶段的剖面示意图。图16a~16j的各图是针对晶圆当中的某一个芯片来绘制。在说明图15的各步骤时，可以参考图16a~16j的各图。本领域普通技术人员可以理解到虽然图16a~16j是针对一个芯片的剖面进行绘制，丹东半导体晶圆市价，丹东半导体晶圆市价，但可以根据晶圆的设计，普遍地适用于整个晶圆，丹东半导体晶圆市价。另外，在图16a~16j当中，主要是针对基板结构1000来绘制。但本领域普通技术人员可以理解到。中硅半导体半导体晶圆现货供应。丹东半导体晶圆市价

    结构500所包含的该金属层510的第四表面514并不是像该结构400所包含的该金属层310的第四表面314一样是平面。第四表面514的剖面相应于该金属层的第三表面513的剖面。该金属层510的第四表面514与该晶圆层320的***表面321的**短距离，要小于该金属层310的第四表面314与该晶圆层320的***表面321的**短距离。由于该结构500的金属层510的大部分比该结构400的金属层310的大部分较薄，因此可以节省金属本身的成本，也可以节省制作该金属层510的步骤的成本。请参考图5b所示，其为根据本申请一实施例的半导体基板的结构500的剖面示意图。图5b所示的实施例是图5a所示实施例的一种变形。和图5a的金属层510相比，图5b所示实施例的金属层510比较厚。图5b所示实施例的其余特征均与图5a所示实施例相同。请参考图6所示，为根据本申请一实施例的半导体基板的结构的剖面600的一示意图。该结构的剖面600可以是图3所示结构300的aa线剖面，也可以是图4所示结构400的aa线剖面，还可以是图5b所示结构500的bb线剖面。为了方便说明起见，图6所示的实施例是图3所示的结构300，因此使用了金属层310与晶圆层320的符号。但本领域普通技术人员可以理解到，剖面600可以适用于结构400或500。广东半导体晶圆生产半导体晶圆量大从优..

    为了尽可能地利用晶圆的面积来制作不同芯片，其中该半导体晶圆当中预定切割出一第二芯片区域，包含如该***芯片区域相同的该基板结构，该***芯片区域与该第二芯片区域的形状不同。进一步的，为了使用晶圆级芯片制造技术来加速具有上述基板结构的芯片制作，其中该半导体晶圆当中预定切割出多个芯片区域，该多个芯片区域当中的每一个都包含如该***芯片区域相同的该基板结构，该多个芯片区域当中的每一个芯片区域和该***芯片区域的形状都相同。根据本申请的一方案，提供一种晶圆制造方法，其特征在于，包含：据所欲切割的多个芯片区域的大小与图样，在一晶圆层的一第二表面上涂布屏蔽层，在该多个芯片区域其中的一***芯片区域，包含该屏蔽层未覆盖的一中心凹陷区域与该屏蔽层覆盖的一边框结构区域，该中心凹陷区域位于该边框结构区域当中，该边框结构区域环绕在该第二表面周围；蚀刻该中心凹陷区域的该晶圆层；去除该屏蔽层；以及在该第二表面上制造金属层。进一步的，为了弥补较薄晶圆层的结构强度，其中该***芯片区域更包含该屏蔽层未覆盖的一***环状凹陷区域与该屏蔽层覆盖的一***内框结构区域，该***环状凹陷区域包围该***内框结构区域。

    该中心凹陷区域位于该***内框结构区域当中，该***环状凹陷区域位于该边框结构区域当中。进一步的，为了更弥补较薄晶圆层的结构强度，其中该***芯片区域更包含该屏蔽层未覆盖的一第二环状凹陷区域与该屏蔽层覆盖的一第二内框结构区域，该***内框结构区域完全包围该第二环状凹陷区域，该第二环状凹陷区域包围该第二内框结构区域，该第二内框结构区域包围该中心凹陷区域。进一步的，为了保护该金属层，并且降低物理应力与热应力的影响，该晶圆制造方法更包含：在该金属层上涂布树酯层。进一步的，为了使用晶圆级芯片制造技术来加速具有上述基板结构的芯片制作，上述的各步骤是针对该晶圆层的该多个芯片区域同时施作。进一步的，为了使用晶圆级芯片制造技术来加速具有上述基板结构的芯片制作，该晶圆制造方法更包含：进行该多个芯片区域的切割。进一步的，为了使用晶圆级芯片制造技术来加速具有上述基板结构的芯片制作，该晶圆制造方法更包含：在该涂布树酯层的步骤之后，进行该多个芯片区域的切割。进一步的，为了让基板结构所承载的半导体组件的设计简化，其中该边框结构区域依序包含***边结构区域、第二边结构区域、第三边结构区域与第四边结构区域。半导体晶圆研磨技术？

    半导体制造领域普通技术人员可以理解到，本申请并不限定是哪一种环氧树酯。该树酯层440可以用于保护该结构400的金属层310，并且降低物理应力与热应力的影响，进而保护器件。该树酯层440包含彼此相对的一第五表面445与一第六表面446，该第五表面445与该金属层310的第四表面314彼此相接或相贴。因此，该第五表面445与该第四表面314的形状彼此相应。在一实施例当中，该树酯层440的该第五表面445与该第六表面446的距离可以介于50~200um之间。在图3与图4的实施例当中，在芯片中间的金属层310比较厚。由于金属层310的金属价格比树酯层440的树酯还要贵，制作较厚金属层310的步骤也比制作树酯层440的步骤更贵。如果在设计规格允许的情况下，可以制作较薄的金属层310，以便减少成本。请参考图5a所示，其为根据本申请一实施例的半导体基板的结构500的剖面示意图。和图4所示的结构400相比，该结构500依序包含了半导体组件层130、晶圆层320、金属层510、和树酯层540。图5a所示的结构500所包含的各组件，如果符号与图4所示的结构400所包含的组件相同者，则可以适用图4所示实施例的叙述。和图4所示的结构400相比。浙江12英寸半导体晶圆代工。淄博半导体晶圆诚信为本

半导体晶圆价格走势..丹东半导体晶圆市价

    如图28c所示。电压衰减电路26090的衰减率的设置范围在5-100之间，推荐20。电压衰减可以用如下公式表达：vout＝(r2/r1)*vin假设r1＝200k,r2＝r3＝r4＝10k,vout＝(r2/r1)*vin＝vin/20其中，vout是电压衰减电路26090输出的振幅值，vin是电压衰减电路26090输入的振幅值，r1、r2、r3、r4是两个运算放大器28102及28104的电阻。图29a至图29c揭示了根据本发明的一个实施例的如图26所示的整形电路26092的示例。参考图26所示，电压衰减电路26090的输出端连接整形电路26092。电压衰减电路26090输出的波形输入到整形电路26092，整形电路26092将电压衰减电路26090输出的正弦波转化为方波以便主控制器26094处理。如图29a所示，整形电路26092包括窗口比较器29102及或门29104。当vcal-图30a至图30c揭示了根据本发明的一个实施例的如图26及图27所示的主控制器26094的示例。如图30a所示，主控制器26094包括脉冲转换模块30102和周期测量模块30104。脉冲转换模块30102用来将τ1时间的脉冲信号转换为高电平信号，τ2时间的低电平信号保持不变，如图30b-30c所示。图30a示意了脉冲转换模块30102的电路符号，其中，clk_sys为50mhz时钟信号，pulse_in为输入信号，pulse_out为输出信号。丹东半导体晶圆市价

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