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深圳3G辐射杂散实验室 推荐咨询 扬芯供应

信息介绍 / Information introduction

可视化ESD抗扰度诊断分析系统—ES26-ESD整体介绍:电子产品在做ESD抗扰度测试时,一般会出现硬损坏和软失效两类故障现象,深圳3G辐射杂散实验室,对于硬损坏类的故障,需要找到损坏位置、分析干扰传递的路径,并在合适的位置增加或提升防护能力。对于软失效类的故 障,比较大的难点在干扰范围大,干扰路径复杂,无法准确的定位敏感源,深圳3G辐射杂散实验室。可视化ESD抗扰度诊断分析系统,按照IEC 61000-4-2 ESD抗扰度 标准,深圳3G辐射杂散实验室,通过自动控制系统的驱动,用耦合探头对待测物精细的施加干扰,测试过程中,外面监测设备示波器、综测仪等可实时的测量产品受扰后的性能异常,通过测试软件可实时记录静电干扰的量级和产品的性能指标,当性能下降到预设的失效门限,对应的干扰等级和位置就是PCB板上较为敏感的部位。方便的进行受扰源头、抗扰度分析,快速的给出产品级解决方案。扫描系统以叠加在Gerber文件上的形式显示空间辐射特性,因此测试人员可以准确地找出所有辐射问题的来源。深圳3G辐射杂散实验室

EMI认证机构通常按照EMI标准的准峰值检波进行测试,而EMI诊断中往往用峰值检波,两者不匹配,EMI诊断是否还有意义?由于EMI诊断的目的是为了找出EMI的根源,并不需要一定精确的测试,而是需要相对的重复性好的测试。准峰值检波用来检测信号包络加权后的峰值(准峰值),它根据时长和重复率对信号加权。准峰值检波的平均过程需耗费时间,测试时间长,不利于日常诊断。由于准峰值检波测试幅度结果永远小于或等于峰值检波的测试结果,因此在进行EMI诊断时,用峰值检波可以快速发现EMI问题。电源是EMI干扰噪声的主要来源,示波器的电源谐波分析在这类排查工作中很有潜力。深圳手机无线性能测试仪价格电磁干扰(ElectromagneticInterference简称EMI)又分为传导干扰和辐射干扰两种。

EMI分析整改方案:从传导的曲线上1MHz前超标的情况可以看出差模电容X太小了,所以修改了X电容变成0。22uF。而1-5MHz之间也超标,所以增加共模电感到50mH,这项频率超标一般主要是有变压器的漏感造成的。在变压器的外面增加了一个屏蔽铜箔,并接入热地。(同时做了别外一个变压器,去除原变压器内部的屏蔽层,改变了变压器的绕线方式,在变压器的外面做了屏蔽并接入热地用备用)同时将MOS管和双向二极管的散热片也接入热地。同时将MOS管的D、S两脚间增加了一个101/1KV的电容,做完以上的整改方案后做了一次测试。EMI分析整改系统不同的电源有不同的要求,实际应用中还有很多限制的。

EMC、RF诊断分析系统:用较少的资金达到我们想要的目标,研发实验室能力整体规划步骤如下:1.确定研发产品类型,了解产品电气参数及所需的测试项目;2.选择合适的诊断分析方法;3.选择诊断分析工具的类型、仪器设备、测试环境以及对策器件4.实验室日常运营及资料库建立;诊断分析系统具有如下优势:1.适用于EMC、RF问题诊断分析、更换物料、风险评估、降成本方案验证;2.投入产出比高;3.数据可视化、定位精细、分析诊断问题效率高;4.诊断分析系统与标准测试系统互补,更适合产品研发;5.操作简单,降低人员技术门槛。可视化EMC(电磁兼容)近场扫描诊断分析系统使用电磁场近场耦合探头套装,支持0.01mm分辨率步进电磁扫描。

射频抗干扰(Desense)近场电磁扫描诊断分析:可视化EMC(电磁兼容)近场扫描诊断分析系统使用电场近场探头(H-Probe)、高低频磁场近场探头(H-Probe)套装,支持0.01mm分辨率步进电磁扫描,能快速有效的预防、解决接收感度恶化(DegradationofSensitivity)问题,使得产品达到优化设计,满足研发级正向设计、整机、板级、芯片的射频抗干扰Desense问题自动诊断分析,普遍用于2/3/4/5G手机、蓝牙、WiFi、物联网无线终端模块等行业,在电磁兼容可靠性正向研发、射频抗干扰源头定位、器件选型射频抗干扰评估、更新方案设计的射频抗干扰性能评估、天线仿真验证等方面。在电路板上,差分走线必须是等长、等宽、紧密靠近、且在同一层面的两根线。深圳吞吐量无线性能仪器

时脉讯号、高频讯号等,在PCB设计时进行包地处理,并打些地孔,可有效降低EMI。深圳3G辐射杂散实验室

可视化ESD抗扰度诊断分析系统—ES26-ESD产品特点■支持标准ESD波形的抗扰度可视化分析;■支持比较低的干扰电压,可用于芯片等敏感器件的抗扰度分析;■干扰电压步进任意设置,兼顾测试效率及测试精度;■精确定位PCB板上受扰位置,快速找到敏感源;■自动化测试软件,实时记录干扰等级;■产品需重点关注的性能指标可依照客户实际需求进行监测;■选定测试区域后,一次性自动化完成测量。应用领域:■芯片,元器件ESD抗扰度测量与诊断;■静电放电电磁场干扰故障模拟与诊断;■电磁场注入ESD抗扰度测量与诊断分析;■PCB板级走线的ESD抗扰度失效故障模拟,测量与诊断;■模组件、功能模块及端口抗扰度测量与诊断;■整机、线缆等ESD抗扰度测量与诊断。深圳3G辐射杂散实验室

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