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深圳产线辐射杂散哪里有 欢迎咨询 扬芯供应

信息介绍 / Information introduction

辐射近场扫频测量的研究,就一般情况而言,深圳产线辐射杂散哪里有,天线都在一个频带内工作,因此,各项电指标都是频率的函数,为了快速获得各个频率点的电指标,就需要进行扫频测量。扫频测量的理论与点频的理论完全一样,只是在探头扫描时,收发测量系统作扫频测量。时域辐射近场测量的研究,深圳产线辐射杂散哪里有,深圳产线辐射杂散哪里有,为了反映脉冲工作状态和消除环境及其他因素对测量数据的影响,时域测量是一个良好的解决此类问题的途径,但目前处于研究阶段。前述的辐射近场测量方法都需要测量出近场的相位和幅度,才能利用近场理论计算出天线的远场电特性,为了简化计算公式和测量系统以及降低测量时间与测量的相位误差(在频率f很高的情况下,即f>80GHz,相位的测量误差是很大的)。EMI辐射近场探头是用于配合频谱分析仪查找干扰源的设备。深圳产线辐射杂散哪里有

辐射杂散(RSE)近场电磁扫描诊断分析:可视化EMC(电磁兼容)近场扫描诊断分析系统支持频率范围9kHz-40GHz的射频辐射杂散(RSE)近场分析,使用电场近场探头(H-Probe)、高低频磁场近场探头(H-Probe),支持0.01mm分辨率步进电磁扫描,支持-90dBm以上辐射杂散信号分析。支持频率分布、功率分布、频谱分布、谐波分布等多辐射杂散RSE可视化分析功能,满足研发级正向设计、整机、板级、芯片的辐射杂散问题自动诊断分析,普遍用于手机、多媒体设备、无线终端模块、医疗、、仪器仪表等行业的电磁兼容可靠性正向研发、辐射杂散评估、辐射杂散干扰源头定位、替代物料辐射杂散评估、器件选型辐射杂散评估、成本降低辐射杂散性能评估、更新方案设计的辐射杂散性能评估、电磁仿真验证等方面。深圳产线辐射杂散哪里有车载导航产品的辐射干扰包含宽带干扰和窄带干扰。

辐射抗扰度(RS)近场电磁扫描诊断分析:可视化EMC(电磁兼容)近场扫描诊断分析系统使用电磁场近场耦合探头套装,支持0.01mm分辨率步进电磁扫描,采用近场电磁耦合的方式,将10kHz-6GHz的辐射抗扰度(RS)电压耦合到电路中,从而找到敏感源头位置,解决辐射抗扰度问题,提高产品的辐射抗扰度能力。普遍用于医疗、感应器、无线终端模块、仪器仪表、汽车电子部件等行业的辐射抗扰度问题解决,在电磁兼容可靠性正向研发、辐射抗扰度敏感源头定位、器件选型辐射抗扰度性能评估、更新方案设计的辐射抗扰度性能评估、电磁仿真验证等方面。

多功能吞吐量性能自动化测试系统— TS6整体介绍:当蓝牙、WiFi无线产品存在设计缺陷时,很容易导致其在使用过程中受到外部环境的电磁干扰。电磁干扰会影响数据传输的稳定性,从而影响用户的体验感。在电磁干扰环境现场进行测试受多方条件制约变得非常困难,通过将现场环境引入实验室环境进行吞吐量性能测试仿真复现问题,对提供性能改进对策具有重要意义。系统环境采用小型化或标准电波暗室,通过自动化测试软件集成矢量源、综测仪、频谱采存放设备、频谱仪、功放、天线、转台、场强仪等设备,实现对无线产品的电磁干扰发射强度控制和吞吐量等性能指标的监控,支持客户自定义监控需求。只要是本身温度大于一定零度的物体,都可以发射电磁辐射,而世界上并不存在温度等于或低于一定零度的物体。

可视化EFT抗扰度诊断分析系统—ES26-EFT整体介绍:电子产品在做脉冲群抗扰度测试时,通过电源端口、I/O端口直接注入或者耦合注入的EMS干扰,会引起产品的死机、重启、性能功能 下降等异常,甚至会导致直接硬件损坏。在解决此类问题时,比较大的困难在于注入到产品内部的干扰不仅会通过走线串扰到PCB板内部各 敏感电路导致故障,而且会通过电源平面、地平面等传导到电路的各部分,所以很难定位到真实受扰的电路或者器件。可视化EFT诊断分析系统,通过小范围磁场耦合的方式,精确分析敏感电路,量化敏感等级,可视化的呈现敏感区域,可用于产品研发中的EFT问题诊断分析, 快速解决产品问题,提高研发效率和产品质量。扫描仪和近场探头系列(从SX到LF)的组合可以在元件组上方沿三个轴运动。深圳SRD短距离辐射杂散实验室

EMI辐射近场探头适合任何频谱分析仪、示波器或EMI测试接收机,频率范围超宽,满足您测量需求。深圳产线辐射杂散哪里有

可视化辐射抗扰度诊断分析系统—IS32产品特点:【高复现】模拟实际失效场景,采用射频干扰耦合注入方式,极大的提高实际问题的复现几率,方便问题分析;【高精度】视觉定位和机械手臂联动运行,高精度的定位敏感源位置,方便分析问题源头和失效机理;【可量化】准确模拟干扰距离、干扰功率、干扰频率等参数,并建立数据与实际问题现象的对应关系,将问题量化;【可视化】敏感源的分布可视化呈现,测量结果与实际产品直接对应;【多功能】可用于板级辐射抗扰度、射频干扰、射频抗扰度等多种复杂抗扰度问题的测量与分析。应用领域:■芯片、器件、模组件辐射抗扰度(RS)测量与诊断分析;■射频抗干扰(Desense)测量与诊断分析;■板级辐射抗扰度(RS)测量与诊断分析;■射频干扰(RFI)测量与诊断分析。深圳产线辐射杂散哪里有

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