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深圳家电灯具无线性能抑制方式 服务为先 扬芯供应

信息介绍 / Information introduction

可视化ESD抗扰度诊断分析系统—ES26-ESD整体介绍:电子产品在做ESD抗扰度测试时,一般会出现硬损坏和软失效两类故障现象,对于硬损坏类的故障,需要找到损坏位置、分析干扰传递的路径,并在合适的位置增加或提升防护能力。对于软失效类的故 障,比较大的难点在干扰范围大,深圳家电灯具无线性能抑制方式,干扰路径复杂,无法准确的定位敏感源。可视化ESD抗扰度诊断分析系统,深圳家电灯具无线性能抑制方式,按照IEC 61000-4-2 ESD抗扰度 标准,通过自动控制系统的驱动,用耦合探头对待测物精细的施加干扰,测试过程中,外面监测设备示波器,深圳家电灯具无线性能抑制方式、综测仪等可实时的测量产品受扰后的性能异常,通过测试软件可实时记录静电干扰的量级和产品的性能指标,当性能下降到预设的失效门限,对应的干扰等级和位置就是PCB板上较为敏感的部位。方便的进行受扰源头、抗扰度分析,快速的给出产品级解决方案。电磁波不需要依靠介质传播,各种电磁波在真空中速率固定,速度为光速。深圳家电灯具无线性能抑制方式

近场探头在受测设备上方的光学定位可以在数字显微镜的协助下完成,扫描支持防撞功能,在探头沿垂直方向运动触碰到受试设备时停止运动,在电脑上通过ChipScan-Scanner软件可以控制FLS106PCB型扫描仪。这款软件同时可以从频谱分析仪中读取测量数据(2D或3D)图像,以及输出测量数据(CSV文件)。在任何新PCB的开发过程中,设计工程师都必须找出设计之外的辐射体或射频泄漏,并对其进行描述和处理以通过一致性测试。可能的辐射体包括高速、大功率器件以及具有高密度或高复杂度的器件。扫描系统以叠加在Gerber文件上的形式显示空间辐射特性,因此测试人员可以准确地找出所有辐射问题的来源。快速磁性极近场测量仪器可以捕获和显示频谱和实时空间扫描结果的可视图像。深圳OTA无线性能价格全部的辐射数据集从近场测量获得的辐射数据集中可获取3D空间中任何点的SPL。

可视化ESD抗扰度诊断分析系统—ES26-ESD产品特点■支持标准ESD波形的抗扰度可视化分析;■支持比较低的干扰电压,可用于芯片等敏感器件的抗扰度分析;■干扰电压步进任意设置,兼顾测试效率及测试精度;■精确定位PCB板上受扰位置,快速找到敏感源;■自动化测试软件,实时记录干扰等级;■产品需重点关注的性能指标可依照客户实际需求进行监测;■选定测试区域后,一次性自动化完成测量。应用领域:■芯片,元器件ESD抗扰度测量与诊断;■静电放电电磁场干扰故障模拟与诊断;■电磁场注入ESD抗扰度测量与诊断分析;■PCB板级走线的ESD抗扰度失效故障模拟,测量与诊断;■模组件、功能模块及端口抗扰度测量与诊断;■整机、线缆等ESD抗扰度测量与诊断。

WIFI信道仿真自动化测试方案——无线信道的复杂性和不确定性导致了无线通信质量的不确 定性,也较大增加了无线通信验证实验的复杂程度。在实际应 用环境中的测试一直是整个业界的短板,很大程度上还是依靠 费时、费力、没有重复性的现场测试来发现问题,该系统方案 采用行业公认设备集成,可以轻松适应客户要求。■测试支持802.11a/b/g/n/ac/ax等;■传导模式吞吐量测试;■空口模式吞吐量测试;■空口模式方向性吞吐量测试;■干扰环境下的吞吐量测试;■多场景模拟吞吐量测试。信号接收端比较这两个电压的差值来判断发送端发送的逻辑状态。

辐射杂散(RSE)近场电磁扫描诊断分析:可视化EMC(电磁兼容)近场扫描诊断分析系统支持频率范围9kHz-40GHz的射频辐射杂散(RSE)近场分析,使用电场近场探头(H-Probe)、高低频磁场近场探头(H-Probe),支持0.01mm分辨率步进电磁扫描,支持-90dBm以上辐射杂散信号分析。支持频率分布、功率分布、频谱分布、谐波分布等多辐射杂散RSE可视化分析功能,满足研发级正向设计、整机、板级、芯片的辐射杂散问题自动诊断分析,普遍用于手机、多媒体设备、无线终端模块、医疗、、仪器仪表等行业的电磁兼容可靠性正向研发、辐射杂散评估、辐射杂散干扰源头定位、替代物料辐射杂散评估、器件选型辐射杂散评估、成本降低辐射杂散性能评估、更新方案设计的辐射杂散性能评估、电磁仿真验证等方面。很难找到导致EMI的模拟信号和/或数字信号,欢迎来电咨询。深圳TRP无线性能优势

车载导航产品的辐射干扰包含宽带干扰和窄带干扰。深圳家电灯具无线性能抑制方式

辐射杂散预测试系统-TS18整体介绍:具有无线射频功能的电子产品在工作时,除了主载波频率及正常调制相关的边带信号外,往往会产生其他的离散频率信号,造成对外边设备和电磁环境的干扰。按照标准法规要求,杂散信号的强度不能超过相应的限值,否则产品就不能对外销售。杂散信号产生的主要原因有:谐波发射、寄生的发射、互调产物、变频产物等,而每种原因导致的杂散问题在解决方法和措施上也不尽相同,由此给设计者带来极大的困扰。如何在产品设计初期和方案验证阶段就能对产品的辐射杂散特性做评估测试和问题分析,辐射杂散预测试系统,测试方法与标准全电波暗室相同,测试结果一致性高,对应性好,便捷省成本,应用场景灵活,既可以进行预测试,也可用于杂散问题的诊断分析,是产品研发阶段解决辐射杂散问题的有效工具。深圳家电灯具无线性能抑制方式

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