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深圳产线辐射杂散仪器 欢迎来电 扬芯供应

信息介绍 / Information introduction

辐射近场测量需要解决的问题:(1)考虑探头与被测天线多次散射耦合的理论公式:在前述的理论中,所有的理论公式都是在忽略多次散射耦合条件下而得出的,这些公式对常规天线的测量有一定的精度,但对低副瓣或很低副瓣天线测量就必需考虑这些因素,因此,需要建立严格的耦合方程。(2)近场测量对天线口径场诊断的精度和速度:近场测量对常规阵列天线口径场的诊断有较好的诊断精度,但对于很低副瓣天线阵列而言,深圳产线辐射杂散仪器,诊断精度和速度还需要进一步研究。(3)辐射近场扫频测量的研究:就一般情况而言,天线都在一个频带内工作,深圳产线辐射杂散仪器,因此,各项电指标都是频率的函数,为了快速获得各个频率点的电指标,就需要进行扫频测量。扫频测量的理论与点频的理论完全一样,只是在探头扫描时,深圳产线辐射杂散仪器,收发测量系统作扫频测量。信号接收端比较这两个电压的差值来判断发送端发送的逻辑状态。深圳产线辐射杂散仪器

辐射近场扫频测量的研究,就一般情况而言,天线都在一个频带内工作,因此,各项电指标都是频率的函数,为了快速获得各个频率点的电指标,就需要进行扫频测量。扫频测量的理论与点频的理论完全一样,只是在探头扫描时,收发测量系统作扫频测量。时域辐射近场测量的研究,为了反映脉冲工作状态和消除环境及其他因素对测量数据的影响,时域测量是一个良好的解决此类问题的途径,但目前处于研究阶段。前述的辐射近场测量方法都需要测量出近场的相位和幅度,才能利用近场理论计算出天线的远场电特性,为了简化计算公式和测量系统以及降低测量时间与测量的相位误差(在频率f很高的情况下,即f>80GHz,相位的测量误差是很大的)。深圳吞吐量无线性能价格扫描仪和近场探头系列(从SX到LF)的组合可以在元件组上方沿三个轴运动。

空口性能(OTA)自动化测试系统— TS6产品特点:■OTA测试软件参考CITA及ETSITS137544等相关测量要求;■测试软件同样适用于基于传统全电波暗室的OTA测量需求;■自定义功能定制扩展灵活;■自动化测试,自动生成数据报表和方向图曲线及3D图。关键技术指标:■覆盖辐射总功率TRP和灵敏度TIS等OTA测试功能项;■与标准OTA测量环境可稳定修正对标;■支持GSM、WCDMA、LTE、5GNR、WIFI、蓝牙等多制式产品测量;■测试数据报告一键自动生成;■可扩展其它性能测试及仿真功能。应用领域:■2/3/4/5G、窄带物联网、WIFI/蓝牙等多制式产品辐射性能和接收灵敏度测量;■汽车、手机、电脑、智能家居、智能电表、共享单车、共享充电宝等终端设备;■天线设计的辐射性能和接收灵敏度性能评估;■仿真测试功能。

EMI分析整改是工程师在设计中不可回避的问题:一次性很难通过昂贵的EMI一致性测试;难以捕获偶发的EMI突发信号;需要拥有较长仪器采集时间的实时频谱分析仪才可能捕获EMI突发信号;大多数频谱分析仪不是实时频谱分析仪;EMI调试中很难找到噪声来源;截短PCB线路,然后重连,才有可能找到噪声来源;很难找到导致EMI的模拟信号和/或数字信号。遇到传导测试超标问题,第一步要做的,通常是定位噪声分量主要是差模还是共模,通常的测试设备可以用来区分差共模分量,但个人觉得太麻烦,并且测试出来的是相对值,并不一定可以具备指导意义。简单的办法是,在输入端口并联一个X电容,几十nF到几百nF,如果所关心的频段测试通过了,就说明噪声的干扰主要是差模干扰,或者更准确地说,通过压低差模分量,就一定能够搞定问题。在EMI测试中,信号线对于电磁噪声来说是一个很好的耦合传播途径。扫描系统以叠加在Gerber文件上的形式显示空间辐射特性,因此测试人员可以准确地找出所有辐射问题的来源。

EMI辐射近场探头是用于配合频谱分析仪查找干扰源的设备。产品性能:EMI辐射近场探头(DC-9G)适合任何频谱分析仪、示波器或EMI测试接收机,频率范围超宽,满足您现在以及未来的测量需求。(DC-9G)包括4个磁场探头和1个电场探头,所有探头均覆盖绝缘层。配备手握式三角架,固定探头组,以消除抖动带来的影响。产品特点:覆盖有绝缘层的安全措施;非常方便的设计包括涂橡胶握把;非常小的尺寸,完善精确的干扰源定位;可以由一个信号源驱动产生的电磁敏感性测试领域。辐射近场区介乎于感应近场区与辐射远场区之间,在此区域内,与距离的一次方、平方、立方成反比的场分量都占据一定的比例,场的角分布(即天线方向图)与离开天线的距离有关,也就是说,在不同的距离上计算出的天线方向图是有差别的。电源是EMI干扰噪声的主要来源,示波器的电源谐波分析在这类排查工作中很有潜力。深圳汽车电子无线性能

辐射干扰是指干扰源通过空间把其信号耦合(干扰)到另一个电网络。深圳产线辐射杂散仪器

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