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深圳仪器仪表无线性能系统价格 欢迎咨询 扬芯供应

信息介绍 / Information introduction

辐射杂散预测试系统-TS18整体介绍:具有无线射频功能的电子产品在工作时,除了主载波频率及正常调制相关的边带信号外,往往会产生其他的离散频率信号,造成对外边设备和电磁环境的干扰。按照标准法规要求,杂散信号的强度不能超过相应的限值,否则产品就不能对外销售。杂散信号产生的主要原因有:谐波发射、寄生的发射、互调产物、变频产物等,而每种原因导致的杂散问题在解决方法和措施上也不尽相同,深圳仪器仪表无线性能系统价格,由此给设计者带来极大的困扰。如何在产品设计初期和方案验证阶段就能对产品的辐射杂散特性做评估测试和问题分析,辐射杂散预测试系统,测试方法与标准全电波暗室相同,测试结果一致性高,对应性好,深圳仪器仪表无线性能系统价格,深圳仪器仪表无线性能系统价格,便捷省成本,应用场景灵活,既可以进行预测试,也可用于杂散问题的诊断分析,是产品研发阶段解决辐射杂散问题的有效工具。在衍射光学中,近场定义如下:当入射光波是平面波,经过透镜会聚后。深圳仪器仪表无线性能系统价格

可视化EFT抗扰度诊断分析系统—ES26-EFT产品特点■支持标准EFT波形的抗扰度可视化分析;■支持比较低的干扰电压,可用于芯片等敏感器件的抗扰度分析;■干扰电压步进任意设置,兼顾测试效率及测试精度;■精确定位PCB板上受扰位置,快速找到敏感源;■自动化测试软件,实时记录干扰等级;■产品需重点关注的性能指标可依照客户实际需求进行监测;■选定测试区域后,一次性自动化完成测量。应用领域:■芯片,元器件EFT抗扰度测量与诊断;■电磁场注入脉冲抗扰度测量与诊断分析;■PCB板级走线的EFT抗扰度失效故障模拟,测量与诊断;■模组件、功能模块及端口EFT抗扰度测量与诊断;■整机、线缆等EFT抗扰度测量与诊断。深圳灵敏度无线性能解决方案EMI分析整改方法,欢迎来电咨询。

EMI分析整改方法:在晶片电源接脚、I/O接口、重要讯号介面等位置增加旁路电容,有助于滤除积体电路的开关杂讯。晶片电源接脚增加旁路电容(0.1μF)处理,电容要靠近接脚摆放。讯号线下方的地要完整,要有完整的参考面。讯号电流经过一个低阻抗的路径返还其驱动源,能够有效减小辐射,而且由于地层的遮罩作用,使得电路对外辐射的灵敏度也会降低。如果两个电路的参考电平不一致,就会产生功能问题,如杂讯容限和逻辑开关门限电平紊乱,这个接地杂讯电压就会导致地环路干扰的产生。任何信号的传输都存在一个闭环的回路,当电流从驱动端流入接收端的时候,必然会有一个回流电流通过与之相邻的导体从接收端回流至驱动端,构成一个闭合的环路,而环路的大小却和EMI的产生有着很大的关系,我们都知道,每一个环路都可以等效为一个天线,环路数量或者面积越大,引起的EMI也越强。我们知道,交流信号会自动选取阻抗小的路径返回驱动端,但实际情况中,信号不可能始终保持的理想路径,特别是在高密度布线的PCB板上,过孔,缝隙等都可能降低参考平面理想的特性,而是表现为更复杂的回流形式。

多功能吞吐量性能自动化测试系统— TS6产品特点:■吞吐量性能测试系统性价比高,还原问题现象能力强,功能扩展能力强;■基于iPerf测试工具,丰富扩展集成相关便捷自动测试功能项;■支持多类型芯片品牌命令灵活集成,让测试更便捷;■支持天线发射功率衰减量灵活可调,便于模拟不同的灵敏度环境;■支持Wi-Fi、蓝牙等产品的吞吐量测试,丢包率、时延、速率、音频质量、灵敏度等;■支持小型化或标准电波暗室,可配合3D转台,支持EUT旋转实现多方向性能测试;■全自动化测试软件,界面操作简洁。EMI分析整改时不同的电源有不同的要求。

辐射近场测量需要解决的问题:(1)考虑探头与被测天线多次散射耦合的理论公式:在前述的理论中,所有的理论公式都是在忽略多次散射耦合条件下而得出的,这些公式对常规天线的测量有一定的精度,但对低副瓣或很低副瓣天线测量就必需考虑这些因素,因此,需要建立严格的耦合方程。(2)近场测量对天线口径场诊断的精度和速度:近场测量对常规阵列天线口径场的诊断有较好的诊断精度,但对于很低副瓣天线阵列而言,诊断精度和速度还需要进一步研究。(3)辐射近场扫频测量的研究:就一般情况而言,天线都在一个频带内工作,因此,各项电指标都是频率的函数,为了快速获得各个频率点的电指标,就需要进行扫频测量。扫频测量的理论与点频的理论完全一样,只是在探头扫描时,收发测量系统作扫频测量。信号接收端比较这两个电压的差值来判断发送端发送的逻辑状态。深圳仪器仪表无线性能系统价格

电子、电器产品的电磁兼容性(EMC)是一项非常重要的质量指标。深圳仪器仪表无线性能系统价格

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