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深圳欧盟CE辐射杂散仪器 欢迎咨询 扬芯供应

信息介绍 / Information introduction

可视化EFT抗扰度诊断分析系统—ES26-EFT产品特点■支持标准EFT波形的抗扰度可视化分析;■支持比较低的干扰电压,可用于芯片等敏感器件的抗扰度分析;■干扰电压步进任意设置,兼顾测试效率及测试精度;■精确定位PCB板上受扰位置,快速找到敏感源;■自动化测试软件,实时记录干扰等级;■产品需重点关注的性能指标可依照客户实际需求进行监测;■选定测试区域后,深圳欧盟CE辐射杂散仪器,一次性自动化完成测量。应用领域:■芯片,深圳欧盟CE辐射杂散仪器,元器件EFT抗扰度测量与诊断;■电磁场注入脉冲抗扰度测量与诊断分析;■PCB板级走线的EFT抗扰度失效故障模拟,深圳欧盟CE辐射杂散仪器,测量与诊断;■模组件、功能模块及端口EFT抗扰度测量与诊断;■整机、线缆等EFT抗扰度测量与诊断。信号接收端比较这两个电压的差值来判断发送端发送的逻辑状态。深圳欧盟CE辐射杂散仪器

WIFI信道仿真自动化测试方案——无线信道的复杂性和不确定性导致了无线通信质量的不确 定性,也较大增加了无线通信验证实验的复杂程度。在实际应 用环境中的测试一直是整个业界的短板,很大程度上还是依靠 费时、费力、没有重复性的现场测试来发现问题,该系统方案 采用行业公认设备集成,可以轻松适应客户要求。■测试支持802.11a/b/g/n/ac/ax等;■传导模式吞吐量测试;■空口模式吞吐量测试;■空口模式方向性吞吐量测试;■干扰环境下的吞吐量测试;■多场景模拟吞吐量测试。深圳快速无线性能检测很难找到导致EMI的模拟信号和/或数字信号,欢迎来电咨询。

辐射近场测量需要解决的问题:(1)考虑探头与被测天线多次散射耦合的理论公式:在前述的理论中,所有的理论公式都是在忽略多次散射耦合条件下而得出的,这些公式对常规天线的测量有一定的精度,但对低副瓣或很低副瓣天线测量就必需考虑这些因素,因此,需要建立严格的耦合方程。(2)近场测量对天线口径场诊断的精度和速度:近场测量对常规阵列天线口径场的诊断有较好的诊断精度,但对于很低副瓣天线阵列而言,诊断精度和速度还需要进一步研究。(3)辐射近场扫频测量的研究:就一般情况而言,天线都在一个频带内工作,因此,各项电指标都是频率的函数,为了快速获得各个频率点的电指标,就需要进行扫频测量。扫频测量的理论与点频的理论完全一样,只是在探头扫描时,收发测量系统作扫频测量。

EMI辐射近场探头是用于配合频谱分析仪查找干扰源的设备。产品性能:EMI辐射近场探头(DC-9G)适合任何频谱分析仪、示波器或EMI测试接收机,频率范围超宽,满足您现在以及未来的测量需求。(DC-9G)包括4个磁场探头和1个电场探头,所有探头均覆盖绝缘层。配备手握式三角架,固定探头组,以消除抖动带来的影响。产品特点:覆盖有绝缘层的安全措施;非常方便的设计包括涂橡胶握把;非常小的尺寸,完善精确的干扰源定位;可以由一个信号源驱动产生的电磁敏感性测试领域。辐射近场区介乎于感应近场区与辐射远场区之间,在此区域内,与距离的一次方、平方、立方成反比的场分量都占据一定的比例,场的角分布(即天线方向图)与离开天线的距离有关,也就是说,在不同的距离上计算出的天线方向图是有差别的。保持讯号路径和它的地返回线紧靠在一起将有助于小化地线环路,避免出现潜在的天线环。

辐射近场扫频测量的研究,就一般情况而言,天线都在一个频带内工作,因此,各项电指标都是频率的函数,为了快速获得各个频率点的电指标,就需要进行扫频测量。扫频测量的理论与点频的理论完全一样,只是在探头扫描时,收发测量系统作扫频测量。时域辐射近场测量的研究,为了反映脉冲工作状态和消除环境及其他因素对测量数据的影响,时域测量是一个良好的解决此类问题的途径,但目前处于研究阶段。前述的辐射近场测量方法都需要测量出近场的相位和幅度,才能利用近场理论计算出天线的远场电特性,为了简化计算公式和测量系统以及降低测量时间与测量的相位误差(在频率f很高的情况下,即f>80GHz,相位的测量误差是很大的)。(DC-9G)包括4个磁场探头和1个电场探头,所有探头均覆盖绝缘层。深圳无线性能分析仪价格

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