AFM显微镜分析,AFM导电性显微镜,显微镜分析,宜特检测

导电性原子力显微镜(AFM)

原子力显微镜（Atomic Force Microscope, AFM），具有原子级解析力，是微观表面结构的重要分析工具。主要原理是藉由针尖与试片间的原子作用力，使悬臂梁产生微细位移，以测得样品表面形貌起伏，可应用于多种材料表面检测。

iST宜特AFM分析优势 

• 两岸*有可分析12吋wafer的AFM实验室，保存您完整wafer以便后续进行其他实验。

• 外加其他功能显微镜，分析应用之范围更扩大。如CAFM导电式原子力显微镜（Conductive Atomic Force Microscopy, CAFM）和SCM扫描式电容显微镜（Scanning Capacitance Microscopy，SCM)。

AFM服务项目： 

• 薄膜粗糙度检测

• 微观表面结构研究
  

• 2D/3D材料表面形貌

• 奈米级纵深分析 

  
  

关于宜特：

iST始创于1994年的中国台湾，主要以提供集成电路行业可靠性验证、材料分析、失效分析、无线认证等技术服务。2002年进驻上海，全球现已有7座实验室12个服务据点，目前已然成为深具影响力之芯片验证第三方实验室。

免费咨询电话：8009880501

导电性原子力显微镜(AFM)

免责声明： 本页面所展现的信息及其他相关推荐信息，均来源于其对应的用户，本网对此不承担任何保证责任。如涉及作品内容、 版权和其他问题，请及时与本网联系，我们将核实后进行删除，本网站对此声明具有最终解释权。