IC烧录程序功能说明 随着MCU，CPLD，DSP，FPGA，FLASH等器件在 产品上的大量应用，每个产品都需要对上面的IC进行烧录，苏州德智电子有限公司在PTI816S上也集成了IC的烧录，可 以让客户把ICT测试和IC烧录两个工位集成到一个工位上来，达 到减员生效的效果。 二：功能参数： 1，目前标配可以支持多八连片烧录 2，支持多连片同时烧录或单片顺序烧录 3，烧录更多连板可以扩展外部模块， 4，支持市面上大部分51,PIC ARM,CPLD,DSP,EPROM,FLASH的烧录， 5，南通ICT夹具厂家，支持市面上大部分通用烧录器接口，如南京西 尔特，洛浦，Phyton，南通ICT夹具厂家，Elnec DATA I/O，PM3，南通ICT夹具厂家,PM4, DEDIPROG, DATAMAN 6,灵活定义启动测试，结果信号电平，灵活定义 延时时间。 完成ICT测试步骤后，转到产品通电状态，测试产品的各项正常工作时的参数。南通ICT夹具厂家

ICT在线烧录工作原理 设置结果信号采样时间，设计结果信号启动延时时间。 在ICT+IC烧录开始的时候，可以提供一个长度可以设定的方 波，（高电平脉冲，低电平脉冲）。 开始信号提供后，延时结果信号启动延时时间后，启动读 结果信号。 在结果信号的采样时间内，如果结果信号读取响应的与脱 机IC烧录器IC烧录结果相对应的结果，（高低电平信号， 上升沿下降沿信号）表示IC烧录成功，在结果信号的采样 时间内没读取相应的结果信号，表示IC烧录失败。 在界面中反馈为相应的是IC烧录失败成功界面。 smt贴片ICT在线网速测试Inline系统实现了完善的报表统计功能，有效监控生产品质。

利用放置在治具上模的感测板(Sensor Plate)压贴在待测的IC上，（感测板的形状和面积与待测IC外壳相同），利用量测感测板的铜箔与IC脚框（frame）之间的电容量侦测接脚的开路。系统由测试点送一個200mV ,10KHz的信号到IC的接脚上，信号经过IC frame与感测板之间的电容耦合(Coupling)到感测板上再经过架在感测板上的放大器接到64 Channel 的 Signal conditioning card 做选择和放大信号的工作，接到系统的TestJet Board去量测信号的强度。如果IC的接脚有开路情况系统会因侦测不到信号而得知其为开路。 Testjet通常用来测试IC元件由于生产引起的缺陷:开路、错位、丢失。

ICT 一种组装电路板自动测试系统，亦为在线式的电路板静态测试设备，业内也称为ICT/ATE/ATS/MDA测试！ ICT, In-Circuit Test System 在线测试仪 ATE, Automatic Test Equipment 自动测试设备 ATS, Automatic Test System 自动测试系统 MDA, Manufacture Defect Analyzer 制造缺陷分析系统 ICT（In-Circuit Test System），中文惯用名为在线测试仪（这里指组装电路板在线测试仪），主要用于组装电路板（PCBA）的测试。这里的“在线”是“In-Circuit”的直译，主要指电子元器件在线路上（或者说在电路上）。在线测试是一种不断开电路，不拆下元器件管脚的测试技术，“在线”反映了ICT重在通过对在线路上的元器件或开短路状态的测试来检测电路板的组装问题。ICT在线测试主要是针对PCBA上单个零件的好坏、线路上的开短路等问题。

ICT测试仪开/短路测试程序的调试 生成开/短路测试数据文件后，为稳定及保险起见，请在开/短路自学习完毕后选择Test对本开/短路测试程序进行测试。 测试时机器会先作开路测试（Open Test）,它是在同一链上，针号与针号作开路测试；后作短路测试（Short Test），它是在不同链上针号与针号作短路测试。 在开路测试时，针号与针号的电阻若少于开路门槛值（Open Res），则当作短路,此时开路测试Pass；在短路测试时，针号与针号的电阻若大于短路门槛值（Short Res），则当作开路,此时短路测试Pass。 测试后若程序稳定，则屏幕左下角推出“PASS”，请下压针床压头来回几次及测试几次，以观察其是否稳定，若出现“FAIL”，则作以下处理： A、 彻底检查显示出的测试针（针号）是否接触不良 B、在保证测试针接触良好的情况下，若出现测试时好时坏，则查清是否受电感线圈的影响，如果是，则跳过显示出的针号，操作方法：确认光标在要跳过的针号项时选择O/S Edit/Mask，这时针号项会变成红色，表明已跳过这一针号。 IN Line ICT+双层FCT自动测试线功能特点：可以配备全自动上板机上板。南通ICT夹具厂家

在线自动测试系统可分为在线测试(ICT)和功能测试(FCT)两大类。南通ICT夹具厂家

ICT测试理论做一些简单介绍1基本测试方法利用运算放大器进行测试。由“A”点“虚地”的概念有：∵Ix=Iref∴Rx=Vs/V0*RrefVs、Rref分别为激励信号源、仪器计算电阻。测量出V0，则Rx可求出。若待测Rx为电容、电感，则Vs交流信号源，Rx为阻抗形式，同样可求出C或L。隔离（Guarding）上面的测试方法是针对的器件，而实际电路上器件相互连接、相互影响，使Ix笽ref，测试时必须加以隔离（Guarding）。隔离是在线测试的基本技术。在上电路中，因R1、R2的连接分流，使Ix笽ref，Rx=Vs/V0*Rref等式不成立。南通ICT夹具厂家

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