近场工作区反射电平测试原理：采用自由空间电压驻波比法测量近场工作区反射电平，测量原理是基于微波暗室中存在有直射信号和反射信号，深圳可视化近场辐射实验室，微波暗室中空间任意一点的场强是直射信号和反射信号的矢量合，在空间形成驻波，驻波数值的大小就反映了微波暗室内反射电平的大小。当接收天线主瓣对准发射天线时，所接收到的信号为ED，深圳可视化近场辐射实验室。移动接收天线，则接收天线的直射信号ED与反射信号ER的相对相位将会改变，此时接收天线收到的信号幅度将产生波动，深圳可视化近场辐射实验室，这一波动反映空间固有驻波，由此即可得到反射电平。近场是一个物理和化学条件急剧变化的复杂区域。深圳可视化近场辐射实验室

目标成像的研究已有几十年的历史了，其研究成果早已用于医学的X光诊断及雷达的目标识别。用近场研究目标的像是80年代末才开始的，它是在已知目标散射近场和入射场情况下，利用微波分集技术，逆推或反演表征目标几何特征的目标函数，由目标函数给出目标的几何形状，这一过程称为目标的近场成像。这种测量方法的另一致命弱点是测量时间很长，测量时间与取样点数几乎成四次方的关系，实用目标的测量时间达到了不可容忍的程度。测量环境对散射近场测量散射体电特性也有很大的影响，除了在测量区域附加吸收材料外，还需要用到“背景对消技术”，其基本原理为：在无散射体的情况下，先用收、发探头对测量区域空间扫描一次，并记录采样数据；在有散射体的情况下，记录这时扫描测量的采样数据，在保证一维扫描器（取样架）定位精度的条件下，利用计算机软件对两次对应位置的测量数据逐点进行矢量相减（复数相减），这样就消除了环境对测量数据的影响。深圳可视化近场辐射实验室远场分量的强度距离衰减二次组件。

天线口径场分布诊断是通过测量天线近区场的分布逆推出天线口径场分布，从而判断出口径场畸变处所对应的辐射单元，这就是天线口径分布诊断的基本原理。该方法对具有一维圆对称天线口径分布的分析是可靠的，尤其对相控阵天线的分析与测量已有了充分的可信度。天线方向图副瓣电平在-28～-35dB之间的天线称为低副瓣天线；副瓣电平小于-40dB的天线称为很低副瓣天线。对它们的测量要用到“零探头”技术，据文献报导，副瓣电平在-40dB以上时，测量精度为±3dB，副瓣电平为-55dB时，测量精度为±5dB。

克服难题需要对智能终端设备进行有效的测试和测量，这样能确保准确地生成和分析信号，从而正确地测试和测量通信链路（如发射机和接收机）。采用的信号生成和分析解决方案应当提供快速的测量时间和切换速度，并且具有可扩展性，让测试工具可以适应用户不断变化的测试需要。另外解决方案还应具有灵活性，以确保它们支持当前和未来的制式。有了这些解决方案后，我们才能放心的在研发、调试、验证中寻找出合适的、较优的、低成本的方案从而缩短开发周期，进而抢先获得消费市场认可。电场要比磁场强得多，对于电压低电流大的场源(如某些感应加热设备的模具)，磁场要比电场大得多。

设计团队对空间扫描结果和频谱扫描结果进行了仔细的对比。很多人可能认为辐射特性会由于扩展的双向传输功能而呈现出更高的电磁输出。而实际上，与基线相比，全双工模式下没有出现尖峰信号并且峰值辐射基本相似，甚至其EMI特性还略有改进（空间扫描结果呈现更深的蓝色）。测试结果证明全双工模式的新芯片组未出现明显的变化，设计团队在没有采取任何额外缓解措施的情况下实现了全双工功能。这些测试是利用这家半导体公司的内部极近场扫描系统进行的。在短短的几分钟内，就获得了上文所示的结果。因为辐射特性结果清楚的展示了其优越的性能，设计无需采取任何额外的缓解措施。近区场通常具有如下特点：近区场内，电场强度与磁场强度的大小没有确定的比例关系。深圳可视化近场辐射实验室

其中的电场与磁场的转换类似于变压器中的电场、磁场之间的转换，是一种感应场。深圳可视化近场辐射实验室

辐射近场扫频测量的研究，就一般情况而言，天线都在一个频带内工作，因此，各项电指标都是频率的函数，为了快速获得各个频率点的电指标，就需要进行扫频测量。扫频测量的理论与点频的理论完全一样，只是在探头扫描时，收发测量系统作扫频测量。时域辐射近场测量的研究，为了反映脉冲工作状态和消除环境及其他因素对测量数据的影响，时域测量是一个良好的解决此类问题的途径，但目前处于研究阶段。前述的辐射近场测量方法都需要测量出近场的相位和幅度，才能利用近场理论计算出天线的远场电特性，为了简化计算公式和测量系统以及降低测量时间与测量的相位误差（在频率f很高的情况下，即f＞80GHz，相位的测量误差是很大的），于是，有学者提出只用近场测量值的幅度来重建天线远场的方法。深圳可视化近场辐射实验室

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