射频干扰（RFI）近场电磁扫描诊断分析：可视化EMC(电磁兼容)近场扫描诊断分析系统支持诊断和分析9kHz-40GHz射频干扰（RFI）电磁波所带来的干扰问题，使用电场近场探头(H-Probe)、高低频磁场近场探头(H-Probe)套装，支持0.01mm分辨率步进电磁扫描，支持-90dBm以上射频信号分析。支持频率分布、功率分布、频谱分布、谐波分布等多射频干扰信号可视化分析功能，满足研发级正向设计、整机、板级、芯片的辐射杂散问题自动诊断分析，普遍用于2/3/4/5G手机、蓝牙、WiFi、物联网无线终端模块等行业，在电磁兼容可靠性正向研发、辐射杂散评估、辐射杂散干扰源头定位，深圳连续近场扫描怎么使用、替代物料辐射杂散评估、器件选型辐射杂散评估，深圳连续近场扫描怎么使用、成本降低辐射杂散性能评估，深圳连续近场扫描怎么使用、更新方案设计的辐射杂散性能评估、电磁仿真验证等方面。近场扫描测试系统：对天线近场区（离开天线几个波长范围）的电磁场分布进行测量。深圳连续近场扫描怎么使用

近场扫描分系统是一种用于化学领域的分析仪器，于2016年12月1日启用。用扩展光源照射光纤输入端面，而在光纤输出端面上逐点测量出射度，从而测出光纤折射率分布以及其他几何特性参数的测试方法。也可用于测量模场直径，其条件是要使输入端面照明只激励光纤基模。此法被推荐作为几何参数测定的基准测试法和单模光纤模场直径的替代测试法，也被推荐作为多模光纤几何参数和折射率分布测定的替代测试法。低频测量更准确，不需要房间校准曲线。深圳连续近场扫描怎么使用系统工作频率范围为50kHz至4GHz，通过可选的软件密钥启用。

极近场EMI扫描技术：快速磁性极近场测量仪器可以捕获和显示频谱和实时空间扫描结果的可视图像。芯片厂商和PCB设计工程师可以扫描任何一块电路板，并识别出50kHz至4GHz频率范围内的恒定或时基的辐射源。这种扫描技术有助于快速解决普遍的电磁设计问题，包括滤波、屏蔽、共模、电流分布、抗干扰性和宽带噪声。在任何新PCB的开发过程中，设计工程师都必须找出设计之外的辐射体或射频泄漏，并对其进行描述和处理以通过一致性测试。可能的辐射体包括高速、大功率器件以及具有高密度或高复杂度的器件。扫描系统以叠加在Gerber文件上的形式显示空间辐射特性，因此测试人员可以准确地找出所有辐射问题的来源。设计工程师可以在采取了相应的解决措施之后，对器件进行重新测试并立即量化出校正设计后的效果。

众所周知，在离开被测目标3λ～5λ（λ为工作波长）距离上测量该区域电磁场的技术称为近场测量技术。如果被测目标是辐射器，则称为辐射近场测量；若被测目标是散射体，则称为散射近场测量；对测得散射体的散射近场信息进行反演或逆推就能得到目标的像函数，这就是目标近场成像。但是，截止目前为止，关于辐射、散射近场测量以及近场成像技术溶为一体的综述性文章还未见到公开的报导，这对从事这方面研究的学者无疑是一种遗憾。为使同行们能全部地了解该技术的发展动态，该文概述了近几十年来关于辐射、散射近场测量及近场成像技术前人所做的工作及其新的进展，并指出了未来研究的主要方向。SSCG功能能够通过将辐射峰值能量扩展到更宽的频带上来减少辐射。

可视化EMC(电磁兼容)近场扫描诊断分析系统根据用户的需求进行配置，可选配一个或多个功能，也可以后续逐步升级功能，主要功能如下：辐射(RE)近场电磁扫描诊断分析，可视化EMC(电磁兼容)近场扫描诊断分析系统支持频率范围9kHz-18GHz的辐射(RE)近场分析，包含电场近场探头(E-Probe)、高低频磁场近场探头(H-Probe)，支持0.01mm分辨率步进电磁扫描，支持-90dBm以上电磁辐射信号分析。支持频率分布、功率分布、频谱分布、谐波分布等多电磁兼容EMI可视化分析功能，满足研发级正向设计、整机、板级、芯片的电磁兼容问题自动诊断分析，普遍用于手机、多媒体设备、无线终端模块、医疗、、仪器仪表等行业的前期电磁兼容正向研发、电磁可靠性评估、电磁干扰源头定位、替代物料电磁可靠性评估、器件选型电磁可靠性评估、成本降低电磁性能评估、更新方案设计的电磁性能评估、电磁仿真验证等方面。快速测量：标准3D声学测量，可在不到20分钟内完成典型两分频系统的声功率测量。深圳电子近场扫描测试仪价格

定制的串行解串器芯片组的目标客户是要求所安装电子设备具有低EMI辐射特性的汽车厂商。深圳连续近场扫描怎么使用

辐射近场测量需要解决的问题：（1）考虑探头与被测天线多次散射耦合的理论公式：在前述的理论中，所有的理论公式都是在忽略多次散射耦合条件下而得出的，这些公式对常规天线的测量有一定的精度，但对低副瓣或很低副瓣天线测量就必需考虑这些因素，因此，需要建立严格的耦合方程。（2）近场测量对天线口径场诊断的精度和速度：近场测量对常规阵列天线口径场的诊断有较好的诊断精度，但对于很低副瓣天线阵列而言，诊断精度和速度还需要进一步研究。（3）辐射近场扫频测量的研究：就一般情况而言，天线都在一个频带内工作，因此，各项电指标都是频率的函数，为了快速获得各个频率点的电指标，就需要进行扫频测量。扫频测量的理论与点频的理论完全一样，只是在探头扫描时，收发测量系统作扫频测量。深圳连续近场扫描怎么使用

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