底部填充胶一般应用于CSP/BGA芯片底部，慈溪汽车级芯片胶水厂家，随着电脑，手机等电子产品的快速发展，所以CSP/BGA的应用也越来越普遍，工艺操作也逐步变高，所以底部填充胶也开始被开重,底部填充胶的流动性好，填充间隙小，速度快，能迅速渗透到芯片底部，可以快速固化，固化后能起到缓和温度冲击以及应力冲击，增强了连接的可信赖性。底部填充胶能兼容大部分的无铅和无锡焊膏，并且易返修，电气性能和机械性能都很优良。使用底部填充胶之后，比如常用的手机，慈溪汽车级芯片胶水厂家，用高处掉落，仍然可以正常开机运行，慈溪汽车级芯片胶水厂家，如果没有使用底部填充胶，那么芯片可能会从PCB板上摔出，导致手机无法继续使用，由此可见底部填充胶的使用意义。底部填充胶是增强BGA组装可靠性的重要辅料，选择底部填充胶的好坏对产品可靠性有很大影响。慈溪汽车级芯片胶水厂家

就指纹识别与摄像头这两种模组的底部填充胶封装过程作一下分享： 指纹识别模组：目前，指纹识别分为正面接触、背面接触、正面滑动、背面滑动四种解决方案，以iPhone5s的正面接触为例，在轻触开关、ID传感器、驱动环、蓝宝石镜面等环节都需要点胶工艺的参与。 一般点胶工序首先是在芯片四周点UnderFill底部填充胶，提高芯片可靠性，然后在FPC上贴片IC点UnderFill底部填充胶胶或UV胶，起包封补强作用，之后是FPC上的金手指点导电胶程序。 第二步，要将拼板整板点胶完之后再镭射切割成小板，然后再镭射切割成小板贴装到FPC上测试之后再点胶。 之后则是底部填充点胶，又分为单边点胶、L形点胶、U型点胶三种方式。其工艺要求是芯片四边均进行胶水填充、侧面单边溢胶距离<0.4mm、芯片高度0.85mm，上表面无胶水污染等。湖南小零件包封胶水批发底部填充胶毛细流动的较小空间是10um。

底部填充胶进行外观检查比较容易也很直观，但对于外观良好的器件，底部填充是否有空洞、裂纹和分层等缺陷，检测起来就比较复杂困难;图17B所示为CSP器件填充良好的外观。不过，对于新型的填充胶水验证、兼容性实验或不良品分析，底部填充效果检测必不可少。对此，有非破坏性检测和破坏性检查两种方法，非破坏性底部填充异常检测，可以通过自动声波微成像分析技术。超声波对于实心材质几乎是透明的，只有遇到类似于裂缝或空洞异常时，声波检测传感器通过声学成像系统工具，才能反映出相应的异常状况，并测量出与芯片底部与填充有关的机械缺陷。这种工具首先确定好区域单位，然后测量出每个单位区域内的空洞、分层或裂纹，在声学性质所占的百分比。资料显示，空洞与焊点接触可能导致焊点失效，如果空洞很小又不靠近焊点可认为合格，比如图17C所示的空洞A是可接受的，而空洞B&C则不可接受。

底部填充胶的使用要求和施胶方法： 1.在设备的设定其间,确保没有空气传入产品中； 2.为了得到较好的效果,基板应该预热(一般40℃约20秒)以加快毛细流动和促进流平； 3.以适合速度(2.5～12.7mm/s)施胶.确保针嘴和基板及芯片的边缘的距离为0.025～0.076mm,这可确保底部填充胶的较佳流动； 4.施胶的方式一般为"I"型沿一条边或"L"型沿两条边在角交叉.施胶的起始点应该尽可能远离芯片的中心,以确保在芯片的填充没有空洞.施胶时"I"型或"L"型的每条胶的长度不要超过芯片的80%； 5.在一些情况下,也许需要在产品上第二或第三次施胶。无论何种的底部填充胶在填充的时候都会出现或多或少的气泡，从而造成不良。

一般倒装芯片封装都需要用到底部填充胶，那是为什么呢？ 我们先要了解一下倒装芯片的结构。对于倒装芯片来说，倒装芯片组件中的材料并不一定平整，而且各种材料的材质也会不一样。倒装芯片中焊接的材料有电路板、电子元器件等材料，还有可能存在其他的金属焊盘等。它们的热膨胀系数都是不一样的，可能会导致组件内的应力集中，并且倒装芯片的焊点都非常小，很容易在热膨胀期间破裂。 而底部填充胶其良好的流动性能够适应各组件热膨胀系数的变化。尽管倒装芯片焊点都比较小，但底部填充胶可以有效保护这些焊点，在固化过程中也不会导致弯曲变形，增加了生产的品质保障。而且底部填充胶本身也是具有粘接能力的，无论是遇到跌落、冲击还是机械振动，都能够有效保护芯片和线路板的粘合，不会轻易让它们断裂。底部填充胶在使用过程中，出现空洞和气隙是很普遍的问题。芯片周边封胶供应商

如何选择适合自己产品的底部填充胶？慈溪汽车级芯片胶水厂家

底部填充胶在使用过程中，出现空洞和气隙是很普遍的问题，出现空洞的原因与其封装设计和使用模式相关，典型的空洞会导致可靠性的下降。了解空洞形成的不同起因的及其特性，以及如何对它们进行测试，将有助于解决底部填充胶underfill的空洞问题: Under fill底部填充胶空洞检测的方法。主要有三种： 1.利用玻璃芯片或基板：直观检测，提供即时反馈，缺点在于玻璃器件上底部填充胶(underfill)的流动和空洞的形成行与实际的器件相比可能有些细微的偏差。 2.超声成像和制作芯片剖面：超声声学成像是一种强有力的工具，它的空洞尺寸的检测限制取决于封装的形式和所使用的仪器； 3.将芯片剥离的破坏性试验：采用截面锯断，或将芯片或封装从下underfill底部填充胶上剥离的方法，有助于更好地了解空洞的三维形状和位置，缺点在于它不适用于还未固化的器件。慈溪汽车级芯片胶水厂家

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