近场扫描测试系统：对天线近场区（离开天线几个波长范围）的电磁场分布进行测量，然后利用有关的电磁场定律，深圳快速近场扫描优点，通过严格的数学变换，得到待测天线在远场任意角域的电磁场分布，深圳快速近场扫描优点，深圳快速近场扫描优点。天线的近场测量技术的主要优点主要有：由于可以在室内进行测试，因而摆脱了远场测试场地、天气、安全性和恶劣电磁环境干扰的问题。易于控制多路径效应造成的测试误差。易于架设待测天线，待测天线不做相对运动，适宜大口径天线的测试。可以实现对天线口径分布的诊断，尤其适用于相控阵天线的口径校准与测试。对于供应商而言，极近场EMI扫描技术可以实现极具说服力的频谱扫描。深圳快速近场扫描优点

扫描辐射计特指星下点空间分辨率较低的可见光和红外两通道扫描式辐射仪。地球和大气辐射投射到12.7厘米的椭圆形扫描反射镜上,经卡氏光学系统和波束分裂器分成两路:可见光0.50.75微米和红外10.512.5微米大气窗区辐射(也可以借滤光片轮做成多个通道),被相应的感应器转换成电信号。扫描反射镜与入射光成45°角,以每分钟90转的速度转动。反射镜在垂直于卫星前进方向对星下点扫描,当反射镜转回来第二次扫描时卫星已前进一段距离。扫描视野覆盖约1600千米,可见光通道星下点分辨率为4.4千米,红外通道星下点分辨率为7.7千米。扫描镜旋转一周内,1/3时间观测地球和大气,2/3时间视野指向太空和仪器外壳,把近于4开的太空作为零辐射的基准。仪器提供低分辨率的可见光和红外云图资料,故在夜间也可得到云图。深圳快速近场扫描优点快速测量：标准3D声学测量，可在不到20分钟内完成典型两分频系统的声功率测量。

在任何新PCB的开发过程中，设计工程师都必须找出设计之外的辐射体或射频泄漏，并对其进行描述和处理以通过一致性测试。可能的辐射体包括高速、大功率器件以及具有高密度或高复杂度的器件。扫描系统以叠加在Gerber文件上的形式显示空间辐射特性，因此测试人员可以准确地找出所有辐射问题的来源。快速磁性极近场测量仪器可以捕获和显示频谱和实时空间扫描结果的可视图像。芯片厂商和PCB设计工程师可以扫描任何一块电路板，并识别出50kHz至4GHz频率范围内的恒定或时基的辐射源。这种扫描技术有助于快速解决普遍的电磁设计问题，包括滤波、屏蔽、共模、电流分布、抗干扰性和宽带噪声。设计工程师可以在采取了相应的解决措施之后，对器件进行重新测试并立即量化出校正设计后的效果。

SSCG功能为“开”时的EMI辐射特性。对测试结果进行比较之后，设计团队发现由于使用了SSCG功能导致电磁辐射明显减少。汽车电子工程师很大的挑战在于减少EMI辐射。客户支持团队每次向汽车厂商客户展示这些结果时，他们普遍都表现出了极大的兴趣。任何降低EMI的功能（此案例中为SSCG功能）都可以缩短上市时间、降低屏蔽和成本支出。EMI近场辐射特性：新一代串行解串器例子，这是同一家半导体供应商的第二个例子，该公司开发了一个通过串行解串器进行点到点传输的第二代芯片组解决方案。在第三代芯片组中，设计团队采用了一种不同的技术并升级了传输能力。他们将双向控制通道一起嵌入高速串行链路中，从而实现了双向传输（全双工）。对测得散射体的散射近场信息进行反演或逆推就能得到目标的像函数，这就是目标近场成像。

天线近场扫描系统主要组成：数据采集、处理子系统：组成：计算机，转台控制设备，数据生成、处理软件包等。工作原理：幅度和相位数据在测量表面的确定位置有规则地逐点进行采集，这是通过扫描探头对这些位置处场值的记录，计算机存储生成所测得数据，再由计算机通过变换，实现近场远场数据转换，从而近似得到天线的远场特性，将测量数据导入软件中，按特定的算法绘出天线相应远场的幅值和相位随位置变化的波形图，这样可以实现测量天线的方向图特性。网格点的位置、扫描面区域、机械全自动控制系统，探头与待测天线间多重反射，外界环境，电子设备辐射，电缆扰动等影响因素都是需要通过补偿技术对整个系统做进一步的改善。近场扫描测试系统：对天线近场区（离开天线几个波长范围）的电磁场分布进行测量。深圳连续近场扫描优点

一个电子开关阵列并提供高达3.75mm的分辨率。深圳快速近场扫描优点

为了量化比较半双工解串器与新一代全双工设计的辐射特性，设计团队再次使用了内部的EMI极近场扫描仪。他们将原来的半双工板放在扫描仪上，进行基线测量。对待测器件加电后，他们在PC上开启了扫描仪。采用同样的测试设置，设计团队用新一代全双工芯片组板替代了基线板，同时也针对每一条特性保持了同样的规格。需注意的是，空间扫描叠加在每次生成的Gerber设计文件上，以帮助工程师可以确定任何存在的辐射源。基线（半双工）系统的空间和频谱特性。展示了全双工模式下的辐射扫描结果。深圳快速近场扫描优点

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