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电子ICT治具 欢迎咨询 苏州市德智电子供应

信息介绍 / Information introduction

由于从管脚A和管脚B至接地之共同基片电阻内的电流分享,电流Ia会减少。3再次测量流过管脚A的电流Ia。如果当电压被加到管脚B时Ia没有变化(delta),则一定存在连接问题。DeltaScan软件综合从该器件上许多可能的管脚对得到的测试结果,电子ICT治具,从而得出精确的故障诊断。信号管脚、电源和接地管脚、基片都参与DeltaScan测试,这就意味着除管脚脱开之外,DeltaScan也可以检测出器件缺失、插反,电子ICT治具、焊线脱开等制造故障。GenRad类式的测试称JunctionXpress。其同样利用IC内的二极管特性,电子ICT治具,只是测试是通过测量二极管的频谱特性(二次谐波)来实现的。接驳台整机技术特点:机体流线型外观设计,采用喷塑工艺不掉漆,美观大方,经久耐用。电子ICT治具

ICT测试仪的故障直接定位在具体的元件、器件管脚、网络点上,故障定位准确。对故障的维修不需较多知识。采用程序控制的自动化测试,操作简单,测试快捷迅速,单板的测试时间一般在几秒至几十秒。 主要功能 ICT在线测试仪它指的是对测试目标板(UUT:Unit Under Test)提供模拟的运行环境(激励和负载),使其工作于各种设计状态,从而获取到各个状态的参数来验证UUT的功能好坏的测试方法。 简单地说,就是对UUT加载合适的激励,测量输出端响应是否合乎要求,一般专指PCBA的功能测试。 ICT在线测试仪一般专指PCBA上电后的测试,主要包括电压、电流、功率、功率因素、频率、占空比、亮度与颜色、字符识别、声音识别、温度测量、压力测量、运动控制、FLASH和EEPROM烧录等测试项目。 无锡ICT在线测试仪编程PCBA贴片线需要ICT和FCT测试系统来满足100%测试覆盖率和提高产品可靠性。

使用数十亿次寿命的继电器通道卡,隔离效果更好,测试更准确;完整的统计报表功能,资料可自动存储,不因断电而丢失数据;待测板的可测率分析报告具体到元件,不可测元件详细列出;针对测试出的不良品进行统计分析,详实的报告便于产线对工艺进行跟进及完善; 应用IC Clamping Diode特性,检测IC脚位故障及焊接不良 可即时显示不良元件、针点之位置,方便检修; 在线测试通常是生产中测试工序,能及时反应生产制造状况,利于工艺改进和提升。ICT测试治具测试过的故障板,因故障定位准,维修方便,可大幅提高生产效率和减少维修成本。因其测试项目具体,是现代化大生产品质保证的重要测试手段之一。

ICT 一种组装电路板自动测试系统,亦为在线式的电路板静态测试设备,业内也称为ICT/ATE/ATS/MDA测试! ICT, In-Circuit Test System 在线测试仪 ATE, Automatic Test Equipment 自动测试设备 ATS, Automatic Test System 自动测试系统 MDA, Manufacture Defect Analyzer 制造缺陷分析系统 ICT(In-Circuit Test System),中文惯用名为在线测试仪(这里指组装电路板在线测试仪),主要用于组装电路板(PCBA)的测试。这里的“在线”是“In-Circuit”的直译,主要指电子元器件在线路上(或者说在电路上)。在线测试是一种不断开电路,不拆下元器件管脚的测试技术,“在线”反映了ICT重在通过对在线路上的元器件或开短路状态的测试来检测电路板的组装问题。从汽车行业、通信行业到信息相关的各个产业,生产测试都是必要且需要巨大投入的环节。

由“A”点“虚地”的概念有:∵Ix=Iref∴Rx=Vs/V0*RrefVs、Rref分别为激励信号源、仪器计算电阻。测量出V0,则Rx可求出。若待测Rx为电容、电感,则Vs交流信号源,Rx为阻抗形式,同样可求出C或L。隔离(Guarding)上面的测试方法是针对的器件,而实际电路上器件相互连接、相互影响,使Ix笽ref,测试时必须加以隔离(Guarding)。隔离是在线测试的基本技术。在上电路中,因R1、R2的连接分流,使Ix笽ref,Rx=Vs/V0*Rref等式不成立。测试时,只要使G与F点同电位,R2中无电流流过,仍然有Ix=Iref,Rx的等式不变。将G点接地,因F点虚地,两点电位相等,则可实现隔离。实际实用时。测试部门往往对于灵活配置、设计紧凑且功能完备的测试设备青睐有加。电子ICT治具

IN Line ICT+双层FCT自动测试线功能特点:配上ON[OK] Un-Loader收板,实现PCBA全自动化测试。电子ICT治具

边界扫描技术解决了无法增加测试点的困难,更重要的是它提供了一种简单而且快捷地产生测试图形的方法,利用软件工具可以将BSDL文件转换成测试图形,如Teradyne的Victory,GenRad的BasicScan和ScanPathFinder。解决编写复杂测试库的困难。用TAP访问口还可实现对如CPLD、FPGA、FlashMemroy的在线编程(In-SystemProgram或OnBoardProgram)。4Nand-TreeNand-Tree是Inter公司发明的一种可测性设计技术。在我司产品中,现只发现82371芯片内此设计。描述其设计结构的有一一般程*.TR2的文件,我们可将此文件转换成测试向量。ICT测试要做到故障定位准、测试稳定,与电路和PCB设计有很大关系。电子ICT治具

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