辐射近场测量方法都需要测量出近场的相位和幅度，才能利用近场理论计算出天线的远场电特性，为了简化计算公式和测量系统以及降低测量时间与测量的相位误差（在频率f很高的情况下，即f＞80GHz，相位的测量误差是很大的），深圳电磁场近场辐射测试方法，于是，有学者提出只用近场测量值的幅度来重建天线远场的方法。该方法的基本思想为［10］：测出S1，S2两个面的幅度值（A1，A2），人为选定S1面测量值的相位（φ1），先由S1面的幅度，深圳电磁场近场辐射测试方法、相位值（A1，φ1）计算出S2面的幅度、相位值（a2，φ2），用A2代替a2，再由A2，φ2求出S1面的a1，φ1，用A1代替a1，重新由A1，φ1求出S2面新的a2，φ2，如此迭代下去，直至A1-a1≤ε，A2-a2≤ε（ε为测量精度），便可得到S1或S2面的相位分布，这时，可由S1或S2实测的幅度和迭代过程所得到的相位求得天线的远场电特性。由于迭代收敛等原因，这方面的研究还未付诸实施。以焦斑为中心，深圳电磁场近场辐射测试方法，落在其前后半个瑞利长度范围外的光场为近场，否则称为远场。深圳电磁场近场辐射测试方法

电磁兼容性（ElectromagneticCompatibility，简称EMC）是指设备或系统在其电磁环境中符合要求运行并不对其环境中的任何设备产生无法忍受的电磁干扰的能力。因此，EMC包括两个方面的要求：一方面是指设备在正常运行过程中对所在环境产生的电磁干扰不能超过一定的限值，即电磁干扰(ElectromagneticInterference简称EMI)；另一方面是指器件对所在环境中存在的电磁干扰具有一定程度的抗扰度，即电磁敏感性（ElectroMagneticSusceptibility，简称EMS）。电磁干扰(ElectromagneticInterference简称EMI)又分为传导干扰和辐射干扰两种。传导干扰是指通过导电介质把一个电网络上的信号耦合(干扰)到另一个电网络。辐射干扰是指干扰源通过空间把其信号耦合(干扰)到另一个电网络，在高速PCB及系统设计中，高频信号线、集成电路的引脚、各类接插件等都可能成为具有天线特性的辐射干扰源，能发射电磁波并影响其他系统或本系统内其他子系统的正常工作。深圳电磁场近场辐射测试方法转发后的信号被调制为正弦波，电压呈极性变化。

天线口径场分布诊断是通过测量天线近区场的分布逆推出天线口径场分布，从而判断出口径场畸变处所对应的辐射单元，这就是天线口径分布诊断的基本原理。该方法对具有一维圆对称天线口径分布的分析是可靠的，尤其对相控阵天线的分析与测量已有了充分的可信度。天线方向图副瓣电平在-28～-35dB之间的天线称为低副瓣天线；副瓣电平小于-40dB的天线称为很低副瓣天线。对它们的测量要用到“零探头”技术，据文献报导，副瓣电平在-40dB以上时，测量精度为±3dB，副瓣电平为-55dB时，测量精度为±5dB。

近场是一个物理和化学条件急剧变化的复杂区域，在该区域内，废物体、包装容器、回填材料和岩石都将随时间的变化，在温度和辐射场的影响下发生相互作用，并与地下水发生作用。近场的设计决定了放射性核素释放的速率。在性能评价中，近场向远场的释放量构成了远场模式计算的源项。在数学上的电场强度，可以被看作是两个部分的总和，近场成分指的立方衰减分量强度随距离（观测点的天线的距离），远场分量的强度距离衰减二次组件。近的距离分界点是可能时，近场分量和远场成分的强度大致相同的时间的距离，超过这个距离，远场分量是远大于近场分量。是多少特写的波长和天线大小取决于。这里的虚数是指相位差为1/4周期的两个组件之间的相位差。在温度和辐射场的影响下发生相互作用，并与地下水发生作用。

在实际使用中，感兴趣的是辐射远场区。通常的应用中，我们应该避免收、发天线处在近场区范围，因为此时不但天线的方向图没有形成，而且在近场范围内的任何导电体甚至介质物体都被看成是天线电磁边界条件的一部分，它影响了原来的天线，和原来的天线一起共同修正和改变了远场的方向图辐射特性，从而影响了实际使用效果。某些特殊应用场合，天线和其它物体靠得很近，从而使天线的辐射特性变得极其复杂，比如手机天线置于人体附近的情况，这需要专门予以讨论。在衍射光学中，近场定义如下：当入射光波是平面波，经过透镜会聚后。深圳电磁场近场辐射测试方法

天线应位于正弦波左侧起始的位置。深圳电磁场近场辐射测试方法

和磁场不一样，电场是因为移动或者静电荷产生的。通过这种方式，当感受到散热片或者金属外壳上的电磁波的时候，电场会影响并改变磁场。这种电场效应也会倾向于改变离源头更远的地方（即远场）。因为环境因素例如无线电台，wifi或者是人为的干扰射频信号，远场测量更容易出现错误。远场测量，比如说某个兼容测试的信号发射部分的表现测量，会比近场测量需要更复杂的设备和更丰富的知识。通过测量由导体产生的电磁场的相位和频率，我们可以找出导致EMI问题的高电势点。深圳电磁场近场辐射测试方法

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