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信息介绍 / Information introduction

ICT测试理论做一些简单介绍1基本测试方法利用运算放大器进行测试。由“A”点“虚地”的概念有:∵Ix=Iref∴Rx=Vs/V0*RrefVs、Rref分别为激励信号源、仪器计算电阻。测量出V0,则Rx可求出。若待测Rx为电容、电感,则Vs交流信号源,扬州德智ICT,Rx为阻抗形式,同样可求出C或L。隔离(Guarding)上面的测试方法是针对的器件,而实际电路上器件相互连接、相互影响,使Ix笽ref,测试时必须加以隔离(Guarding),扬州德智ICT,扬州德智ICT。隔离是在线测试的基本技术。在上电路中,因R1、R2的连接分流,使Ix笽ref,Rx=Vs/V0*Rref等式不成立。全自动ICTFCT整体测试线产品优势:环境好---改善测试线体现场"杂、乱、脏"现象。扬州德智ICT

使用数十亿次寿命的继电器通道卡,隔离效果更好,测试更准确;完整的统计报表功能,资料可自动存储,不因断电而丢失数据;待测板的可测率分析报告具体到元件,不可测元件详细列出;针对测试出的不良品进行统计分析,详实的报告便于产线对工艺进行跟进及完善; 应用IC Clamping Diode特性,检测IC脚位故障及焊接不良 可即时显示不良元件、针点之位置,方便检修; 在线测试通常是生产中测试工序,能及时反应生产制造状况,利于工艺改进和提升。ICT测试治具测试过的故障板,因故障定位准,维修方便,可大幅提高生产效率和减少维修成本。因其测试项目具体,是现代化大生产品质保证的重要测试手段之一。扬州ICT检测仪器有哪些SMT在线式iCT和FCT双层自动测试机设备是一款多功能全自动ICT和FCT测试机。

ICT是In Circuit Test的缩写,中文名称为在线测试仪 (或称ATE Auto Test Equipment),是一种电路板自动检测仪器,又称为静态测试仪(因它只输入很小的电压或电流来测试,不会损坏电路板),在线测试是一种不断开电路,不拆下元器件的测试技术,主要的功能在测试电路板的短路、断路及各种电子零件如电阻、电容、二极管、三极管、电晶体、IC等零件是否错件、缺件、零件不良、装配不良,并且明确指出缺陷的位置,帮助使用者确保产品的品质,提高不良品检修效率。 ICT如同一个功能强大的万用表,能对PCBA板上的电子元件测试进行有效的隔离,而万用表不能。 ICT为静态的测试(不通电),可针对电阻、电容、电感、二极管、三极管等常见电子元件的规格、短路、断路搭配各厂家的测试技术进行测试判断,除此之外,还能在测试过程过程对IC进行资料烧录。

边界扫描技术解决了无法增加测试点的困难,更重要的是它提供了一种简单而且快捷地产生测试图形的方法,利用软件工具可以将BSDL文件转换成测试图形,如Teradyne的Victory,GenRad的BasicScan和ScanPathFinder。解决编写复杂测试库的困难。用TAP访问口还可实现对如CPLD、FPGA、FlashMemroy的在线编程(In-SystemProgram或OnBoardProgram)。4Nand-TreeNand-Tree是Inter公司发明的一种可测性设计技术。在我司产品中,现只发现82371芯片内此设计。描述其设计结构的有一一般程*.TR2的文件,我们可将此文件转换成测试向量。ICT测试要做到故障定位准、测试稳定,与电路和PCB设计有很大关系。全自动ICT和FCT测试机功能:PCB电路的ICT&FCT不良测试。

利用放置在治具上模的感测板(Sensor Plate)压贴在待测的IC上,(感测板的形状和面积与待测IC外壳相同),利用量测感测板的铜箔与IC脚框(frame)之间的电容量侦测接脚的开路。系统由测试点送一個200mV ,10KHz的信号到IC的接脚上,信号经过IC frame与感测板之间的电容耦合(Coupling)到感测板上再经过架在感测板上的放大器接到64 Channel 的 Signal conditioning card 做选择和放大信号的工作,接到系统的TestJet Board去量测信号的强度。如果IC的接脚有开路情况系统会因侦测不到信号而得知其为开路。 Testjet通常用来测试IC元件由于生产引起的缺陷:开路、错位、丢失。完成ICT测试步骤后,转到产品通电状态,测试产品的各项正常工作时的参数。多功能ICT销售厂家

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将多个扫描器件的扫描链通过他们的TAP连在一起就形成一个连续的边界寄存器链,在链头加TAP信号就可控制和检测所有与链相连器件的管脚。这样的虚拟接触代替了针床夹具对器件每个管脚的物理接触,虚拟访问代替实际物理访问,去掉大量的占用PCB板空间的测试焊盘,减少了PCB和夹具的制造费用。作为一种测试策略,在对PCB板进行可测性设计时,可利用专门软件分析电路网点和具扫描功能的器件,决定怎样有效地放有限数量的测试点,而又不减低测试覆盖率,经济的减少测试点和测试针。扬州德智ICT

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