散射近场测量：（1）常规天线电参数的测量：天线近场测量可以给出天线各个截面的方向图以及立体方向图，可以分析出方向图上的所有电参数（波束宽度、副瓣电平、零值深度、零深位置等）和天线的极化参数（轴比、倾角和旋向）以及天线的增益，深圳智能近场扫描测试仪。（2）低副瓣或很低副瓣天线的测量：天线方向图副瓣电平在-28～-35dB之间的天线称为低副瓣天线；副瓣电平小于-40dB的天线称为很低副瓣天线，深圳智能近场扫描测试仪，深圳智能近场扫描测试仪。对它们的测量要用到“零探头”技术，据文献报导，副瓣电平在-40dB以上时，测量精度为±3dB，副瓣电平为-55dB时，测量精度为±5dB。利用有关的电磁场定律，通过严格的数学变换，得到待测天线在远场任意角域的电磁场分布。深圳智能近场扫描测试仪

电磁场近场扫描的技术主要针对大尺寸的检测对象，如无线局域网、蜂窝通讯等等空间通讯信号。总的来说，主要技术大致可以分为两种，一种采用尺寸较大的天线，另一种采用天线阵列。上述两种技术针对的检测对象尺寸在几十厘米，甚至更大的尺寸。这两种技术都意味着其空间分辨率将受到限制，同时其位移的精度和步长也必然较为粗糙，若需实现小尺寸检测对象内部较高精度的空间定位，则其空间位置控制平台必须要求很闻，其实现复杂，且实现成本闻昂。深圳智能近场扫描测试仪扫描仪的诊断功能可以帮助设计团队将辐射测试时间缩短两个数量级以上。

在任何新PCB的开发过程中，设计工程师都必须找出设计之外的辐射体或射频泄漏，并对其进行描述和处理以通过一致性测试。可能的辐射体包括高速、大功率器件以及具有高密度或高复杂度的器件。扫描系统以叠加在Gerber文件上的形式显示空间辐射特性，因此测试人员可以准确地找出所有辐射问题的来源。快速磁性极近场测量仪器可以捕获和显示频谱和实时空间扫描结果的可视图像。芯片厂商和PCB设计工程师可以扫描任何一块电路板，并识别出50kHz至4GHz频率范围内的恒定或时基的辐射源。这种扫描技术有助于快速解决普遍的电磁设计问题，包括滤波、屏蔽、共模、电流分布、抗干扰性和宽带噪声。设计工程师可以在采取了相应的解决措施之后，对器件进行重新测试并立即量化出校正设计后的效果。

提供一种电磁场近场扫描装置与扫描方法,扫描装置结构简单,通过探头实现对待测物品的电磁场近场数据的准确采集,通过空间移动平台和计算机协调工作实现对探头位置的准确控制,通过显微摄像装置准确监测探头与待测物品之间的距离,从而能够准确获得待测物品的电磁场近场扫描结果,另外,探头在扫描待测物品电磁场近场时,采用逐点扫描,实时采集传输,即每一次探头移动,均采集一次数据并及时将采集到的数据发送至信号分析装置,避免扫描过程中,扫描装置自身对待测物品电磁场近场的影响,以及数据采集延时对信号准确度的影响,从而更进一步提高了扫描的精度和扫描结果的准确度。为了量化比较半双工解串器与新一代全双工设计的辐射特性，设计团队使用了内部的EMI极近场扫描仪。

一种近场平面扫描架，其特征在于，包括：一支架；装设于所述一支架上可沿X轴方向直线移动的一直线移动机构；装设于所述一直线移动机构上的可沿Y轴方向直线移动的第二直线移动机构；装设于所述第二直线移动机构上的可沿Z轴方向直线移动的第三直线移动机构；以及装设于所述第三直线移动机构上的可以在竖直平面内周向转动的、用于搭载测试部的转动机构；其中，所述一直线移动机构、所述第二直线移动机构、所述第三直线移动机构以及所述转动机构可以单独工作或者任意结合地同时工作。工程师甚至可以在诊断一个间歇故障之后，对设计进行更改，很快再进行测试。深圳便携式电磁近场扫描仪器

近场扫描分系统是一种用于化学领域的分析仪器，于2016年12月1日启用。深圳智能近场扫描测试仪

一种电磁场近场扫描装置，包括探头、空间移动平台、显微摄像装置、信号分析装置和计算机；所述探头和所述计算机分别与所述信号分析装置连接，所述空间移动平台和所述显微摄像装置分别与所述计算机连接，所述探头固定于所述空间移动平台；所述计算机发送指令，控制所述空间移动平台空间移动，固定于所述空间移动平台的探头移动，逐点扫描待测物品的电磁场近场，实时采集待测物品电磁场近场的电信号数据，并将采集到的电信号数据发送至所述信号分析装置，所述信号分析装置分析所述电信号数据，获取信号测量数据，并将所述信号测量数据发送至所述计算机，所述显微摄像装置监测所述探头与所述待测物品之间的距离，并将监测获得的距离数据发送至所述计算机，所述计算机根据所述信号测量数据和所述距离数据，处理获得待测物品的电磁场近场扫描结果。深圳智能近场扫描测试仪

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